Dokumen ini membahas analisis difraksi sinar X (XRD) sebagai metode non-destruktif untuk identifikasi dan penentuan kuantitatif struktur kristal bahan. XRD menjelaskan prinsip kerja, interpretasi data, serta kegunaan dalam berbagai bidang seperti kedokteran dan karakterisasi material. Kelebihan dan kekurangan XRD juga dijelaskan, dengan penekanan pada kemampuan penetrasi sinar-X dan tantangan dalam mengidentifikasi senyawa kristal.