Dokumen ini membahas prinsip difraksi sinar-X, termasuk sejarahnya, penemuan sinar-X, dan fenomena fisik yang terlibat dalam interaksinya dengan material. Difraksi sinar-X merupakan metode penting dalam karakterisasi material yang digunakan untuk mengeksplorasi struktur mikroskopik dengan memanfaatkan sifat gelombang sinar-X. Proses ini melibatkan hamburan sinar-X oleh atom dalam kristal dan interferensi gelombang-gelombang yang dihamburkan.