presentasi ini menjelas tentang Perbedaan Prinsip XRD, XRF.
apa itu XRD dan XRF?
XRD (X-Ray Diffraction), salah satu teknik analisa untuk stuktur suatumineral, garam, logam, bahkan senyawaan organik seperti DNA, vitamin, dll
XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace element, bahkan dibawah level ppm. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X
nb: disarankan membuka ppt dengan microsoft office 2016
3. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel. Sinar-X merupakan radiasi
elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1
MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal
dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki panjang
gelombang 10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi 1017-1020 Hz dan memiliki
energi 103-106 eV. Panjang gelombang sinar-X memiliki orde yang
sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai
sumber difraksi kristal.
8. Hubungan antara ukuran
ksirtallites dengan lebar
puncak difraksi sinar-X
9. • Berkas Sinar X
difraksikan oleh
sample
Difokuskan
melewati celah
• Inteniitas difraksi
sinar-X direkam
dalam bentuk kurva
terhadap jarak
anttara bidang d
Alat Pencacah
12. – Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
– Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
– Karakterisasi material kristal
– Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
– Penentuan dimensi-dimensi sel satuan
– Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
– Analisis kuantitatif dari mineral
– Karakteristik sampel film
18. Pada teknik difraksi sinar-X suatu berkas
electron digunakan, sinar-X dihasilkan dari
tembakan berkas electron terhadap suatu unsur
di anoda untuk menghasilkan sinar-X dengan
panjang gelombang yang diketahui.
Peristiwa ini terjadi pada tabung sinar-X.
Pada teknik XRF, kita menggunakan sinar-X dari
tabung pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan
electron dari kulit bagian dalam untuk
menghasilkan sinar-X baru dari sample yang di
analisis.
29. – Massa kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al,
Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) dalam batuan dan
sedimen
– Massal kimia analisis unsur jejak (dalam
kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La,
Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan
dan sedimen – batas deteksi untuk elemen
biasanya pada urutan beberapa bagian per
juta.