15. 平均值與標準差制圖
▪ 使用時機 :計量型數據,樣本量n 並無限制。
(n<5 時 S-chart與R-chart趨勢一致,當n>10時R-chart 易受離值群值影響。)
Ex:產品WAT參數建立管制圖,每一Lot 25片,每一片量5筆資料,此
時 n=125,適合使用平均值與標準差管制圖。
▪ 平均值與標準差制圖( -S Chart)
X
管制圖類別 管制界限計算公式
平均數管制圖
(X -Chart)
S
A
X
X
LCL
S
A
X
X
UCL
X
CL
X
X
X
X
X
1
1
3
3
−
=
−
=
+
=
+
=
=
標準差管制圖
(S-Chart)
S
B
S
LCL
S
B
S
UCL
S
CL
S
S
S
S
S
3
4
3
3
=
−
=
=
+
=
=
16. 缺點數管制圖(C Chart)
▪ 缺點數管制圖(C Chart)
總組數
各組缺點數之總和
=
=
m
c
c
i
0
LCL
c
3
+
c
=
UCL
c
CL
=
=
▪ 管制界限:
▪ 使用時機 :最常用在Particle 的管制,但是重點在管制界線的設定。
18. Chart UI 設計
項目 屬性
Chart Group
Active Yes or no
Data collected Type Lot or Wafer
Necessary by Key node or Customer
Control Type PROD, Daily, EQ
項目 屬性
PRODUCT Recipe
PROCESS Chamber
ROUTE Parameter
STEP Chart Category
Area
項目 屬性
Chart Modification Lot type or slot
Define EQ ID
1.Clear, 2.Add(create new)
3.Update(update old),4.Delete(delete chart)
5.Specification
(update control
limit/rule)
6.Mail define
(define response)
7.Dup1Icate
8.Cancel: close
9.Find:produce the
condition
19. Chart UI 設計
Exclude/Except
Product
Process
Route
Recipe
Chamber
Step
Monitor Type
Insert, Remove, Save
Define Chart Type
XBAR Chart
EANBLE USL
X-BAR Target
N LSL
SIGMA
Control Limit Yes or no
Control Spec Yes or no
Alarm rule Yes or no
Control type Calculated or user define
Spec Type Both or lower/upper side
20. Chart UI 設計
Rule Name Description Alarm Only notice Hole lot Hold EQ
WE1
WE2
WE3
21. 中央極限定理 Central Limit Theory
中央極限定理指不論母體的分佈如何﹐其平均數的分佈都會傾向常態分佈(Normal
Distribution)﹐當抽樣數達到4以上時﹐平均數開始有顯著常態分佈的現象﹐此即管
制圖抽樣數大多採用4或5的原因﹐而當抽樣數大於30時﹐其平均數分佈可以視為常
態分佈!
抽樣分配
製程分配
平均值
管制下限 管制上限
n
X
x
=
=