Spc介绍7. SPC 常用术语解释 一个单个的单位产品或一个特性的 一次测量 ,通常用符号 X 表示。 单值( Individual ) 将一组测量值从小到大排列后, 中间的值 即为中位数。如果数据的个数为偶数,一般将中间两个数的平均值作为中位数。 中位数 ˜ x 一个分布中从 最小值到最大值之间的间距 分布宽度( Spread ) 过程输出的 分布宽度 或从过程中统计抽样值(例如:子组均值)的分布宽度的 量度 ,用希腊字母 σ 或字母 s (用于样本标准差)表示。 标准差 (Standard Deviation) 用于代表标准差的希腊字母 σ ( Sigma ) 一个子组、样本或总体中 最大与最小值之差 极 差 ( Range ) 一组测量值的 均值 平均值 ( X ) 解释 名称 12. 每件产品的尺寸与别的都不同 范围 范围 范围 范围 但它们形成一个模型,若稳定,可以描述为一个分布 范围 范围 范围 分布可以通过以下因素来加以区分 位置 分布宽度 形状 或这些因素的组合 13. 如果仅存在变差的普通原因, 目标值线 随着时间的推移,过程的输 出形成一个稳定的分布并可 预测。 预测 时间 范围 目标值线 如果存在变差的特殊 原因,随着时间的推 预测 移,过程的输出不 稳定。 时间 范围 17. 过程改进循环 1 、分析过程 2 、维护过程 本过程应做什么? 监控过程性能 会出现什么错误? 查找变差的特殊原因并 本过程正在做什么? 采取措施。 达到统计控制状态? 确定能力 计划 实施 计划 实施 措施 研究 措施 研究 计划 实施 3 、改进过程 措施 研究 改进过程从而更好地理解 普通原因变差 减少普通原因变差 18. 控制图 上控制限 中心限 下控制限 1 、收集 收集数据并画在图上 2 、控制 根据过程数据计算实验控制限 识别变差的特殊原因并采取措施 3 、分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施 重复这三个阶段从而不断改进过程 19. 管制图类型 U chart 单位缺点数管制图 X-MR 单值移动极差图 C chart 缺点数管制图 X -R 中位值极差图 nP chart 不良数管制图 X-δ 均值和标准差图 P chart 不良率管制图 计数型数据 X-R 均值和极差图 计量型数据 20. 控制图的选择方法 确定要制定控制图的特性 是计量型数据吗? 否 关心的是不合格品率? 否 关心的是不合格数吗? 是 样本容量是否恒定? 是 使用 np 或 p 图 否 使用 p 图 样本容量是否 桓 定? 否 使用 u 图 是 是 使用 c 或 u 图 是 性质上是否是均匀或不能按子组取样—例如:化学槽液、批量油漆等? 否 子组均值是 否能很方便 地计算? 否 使用中 位数图 是 使用单值图 X-MR 是 21. 接上页 子组容量是否大于或等于 9 ? 是 否 是否能方便地计算每个子组的 S 值? 使用 X—R 图 是 否 使用 X—R 图 使用 X— s 图 注:本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。 22. 教育訓練 培訓教材 计量型数据控制图 与过程有关的控制图 计量单位:( mm, kg 等) 过程 人员 方法 材料 环境 设备 1 2 3 4 5 6 X 图 R 图 螺丝的外径( mm ) 从基准面到孔的距离( mm ) 电阻( Ω ) 锡炉温度( ºC ) 工程更改处理时间( h ) 控制图举例 结果举例 24. 使用控制图的准备 1 、建立适合于实施的环境 a 排除阻碍人员公正的因素 b 提供相应的资源 c 管理者支持 2 、定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系,分析每个阶段的影响 因素。 3 、确定待控制的特性 应考虑到: 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 4 、确定测量系统 a 规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 32. 接上页 注: 式中 A2,D3,D4 为常系数,决定于子组样本容量。其系数值 见下表 : 注: 对于样本容量小于 7 的情况, LCL R 可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限,这意味着对于一个样本数为 6 的子组, 6 个“同样的”测量结果是可能成立的。 0.31 0.34 0.34 0.42 0.48 0.58 0.73 1.02 1.88 A2 0.22 0.18 0.14 0.08 ٭ ٭ ٭ ٭ ٭ D3 1.78 1.82 1.86 1.92 2.00 2.11 2.28 2.57 3.27 D4 10 9 8 7 6 5 4 3 2 n 38. UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的过程的极差 (存在高于和低于极差均值的两种链) 不受控制的过程的极差(存在长的上升链) 48. UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的过程(点离过程均值太近) 均值失控的过程(点离控制限太近)