11Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD
Time to Market (商品開発時間)
売上
利益
累積コスト・投資
Break Even Time
(損益分岐点到達時間)
Time to Market
(商品開発時間)
Break Even After Release
(販売開始後損益分岐点到達時間)
Time to Marketの短縮が売上、利益の増大と投資、コストの削減に直結する
開発開始 販売開始
製品開発における回路解析シミュレータの位置づけ
試作回数を一回でも削減する
1.LTspiceの特徴と背景
34Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD
(6)単位系について
Unit 読み方 Value
MEG メグ 10^6
k キロ 10^3
m ミリ 10^(-3)
u マイクロ 10^(-6)
n ナノ 10^(-9)
p ピコ 10^(-12)
LTspiceの特徴
1.LTspiceの特徴と背景
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 158
4.SiC MOSFETのスパイスモデルについて
Vdgが0からVdssの区間ではFig.4に示される式にVdg-C(Vdg)特性は依存
し、Vdgがマイナスの区間では容量はCoで一定になります。
G
制御電圧
発生回路
S
Vdgリミッタ
図5
EVALUEETABLE
→ →
ABM/I
容量可変回路
Q1
D
Fig.5
Fig.5のように制御システムを考慮
すると、Vdgを検出するとETABLE
により、Vdgに0~Vdssのリミッタを
かけます
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
159.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 159
1.必要な電子部品のSPICEモデル(常温モデル)を揃える。
2.常温モデルを活用して、LTspiceで過渡解析を行い、損失計算を行う。
3.常温におけるシリコンデバイスとSiCデバイスのケースで損失比較を行う。
4.必要な電子部品のSPICEモデル(高温モデル)を揃える。
5.高温モデルを活用して、LTspiceで過渡解析を行い、損失計算を行う。
6.シリコンデバイスとSiCデバイスのケースで比較する。
目的:シリコンデバイスをSiCデバイスに置き換える事で、損失がどのくらい
削減出来るのか?高温の場合はどうなのか?
手段:回路解析シミュレータ(LTspice:フリーの回路解析シミュレータ)を活用
し、損失を簡単に早く求める。
対象回路:誘導負荷回路
シリコンデバイス構成
Si MOSFET:TK10A60D
FRD:DF10L60
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCS110AG
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
160.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 160
Inductive load
ID
SiC SBD
SiC MOSFET
Si MOSFET
Inductive load
Si Diode
(Super Fast Recovery)
ID
シリコンデバイス構成
Si MOSFET:TK10A60D
FRD:DF10L60
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCS110AG
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
161.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 161
ID
VDS
VGS
Test Circuit Measurement Waveform
Si MOSFET
Inductive load
Si Diode
(Super Fast Recovery)
ID
シリコンデバイス構成
Si MOSFET:TK10A60D
FRD:DF10L60
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
162.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 162
シリコンデバイス構成
Si MOSFET:TK10A60D
FRD:DF10L60
Si MOSFET Model,
with Body Diode Standard Model
ID
Simulation Circuit
Si Diode
(Super Fast Recovery)
Inductive load
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
Simulation Waveform
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
163.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 163
VDS
Test Circuit Measurement Waveform
SiC SBD
SiC MOSFET
Inductive load
ID
ID
VGS
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCS110AG
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
164.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 164
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCS110AG
Inductive load
ID
Simulation Circuit
Simulation Waveform
SiC SBD
SiC MOSFET
VGS
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
165.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 165
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCU210AX
Simulation Waveform
Inductive load
ID
Simulation Circuit
SiC SBD
SiC MOSFET
ID
VDS
Ploss
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
166.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 166
ピーク・ターン
オン損失(W)
オン時の
飽和損失(W)
ピーク・ターン
オフ損失(W)
Si Devices 175.23 36.90 285.57
SiC Devices 177.60 15.17 282.75
損失削減の効果
(Addition)
(1.4%) 58.9% 1.0%
SiC MOSFETの低オン抵抗が貢献している。
5.常温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
167.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 167
SiC SBD
Ta=25℃ Ta=125℃
Si Diode
6.高温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
168.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 168
シリコンデバイス構成
Si MOSFET:TK10A60D
FRD:DF10L60
Simulation Circuit
Inductive load
ID
Si Diode(Super Fast Recovery)
Ta=125C
Si MOSFET Model,
with Body Diode Standard Model
Ta=125C
Simulation Waveform
6.高温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
169.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 169
SiCデバイス構成
SiC MOSFET:SCU210AX
SiC SBD:SCU210AX
Simulation Circuit
Inductive load
ID
SiC SBD
(Ta=125C)
SiC MOSFET (Ta=125C)
Simulation Waveform
6.高温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
170.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 170
ピーク・ターン
オン損失(W)
オン時の
飽和損失(W)
ピーク・ターン
オフ損失(W)
Si Devices 175.23 36.90 285.57
SiC Devices 177.60 15.17 282.75
損失削減の効果
(Addition)
(1.4%) 58.9% 1.0%
ピーク・ターン
オン損失(W)
オン時の
飽和損失(W)
ピーク・ターン
オフ損失(W)
Si Devices 208.25 86.58 273.88
SiC Devices 169.77 19.14 273.68
損失削減の効果 18.5% 77.9% 0.1%
常温
高温
SiC MOSFETの低オン抵抗が貢献している。
SiC SBDの逆回復特性が貢献している。
6.高温における誘導負荷回路におけるスイッチング損失シミュレーション
5.2デバイスモデリング事例(次世代半導体)
Index
• Block Diagram
•How to use concept kit
• About Motor Generator Model
• About Control Signal
• About Buck Converter
• About Li-Ion Battery
• Simulation Result
Copyright(C) MARUTSU ELEC CO. LTD 179
5.4システムシミュレーション事例(回生回路)
180.
Block Diagram
Copyright(C) MARUTSUELEC CO. LTD 180
MG 3-phase rectifier Buck Li-Ion Battery
ChargeIGBT:300A/600V Step-down voltage
Maximum Voltage=4.2[V]
Capacity(CAh)=50[Ah]
Amount of Batteries(N)=85Cells
Vin=480[Vrms]
Vout=630[V]5
Vin=630[V] 5
Vout=200-360[V]
Frequency=50[Hz]
VMAX=400[V]
5.4システムシミュレーション事例(回生回路)
About Control Signal(1/3)
Copyright(C) MARUTSU ELEC CO. LTD 183
VD
WD
U
SPWM
CTL1
CTL2
CTL3
Vref 1
Vref 2
Vref 3
VP
WP
-
+
+
-
E7
E
-1
0
-
+
+
-
E8
E
-1
0
UP
UD
-
+
+
-
E9
E
-1
0
Double click
Output voltage (3-phase motor generator) feed to Vref1, Vref2 and Vref3
Control Signal of
Switching IGBT
To Connected to Motor
Generator
5.4システムシミュレーション事例(回生回路)
About Li-Ion Battery
Copyright(C)MARUTSU ELEC CO. LTD 188
GND
GNDGND
D_disch
D9
V101
{(4.2*N)-8.2m}
IBATT
0Vdc
PARAMETERS:
N = 85
CAh = 50
rate = 1
PARAMETERS:
Voch = {(4.2*N)-8.2m}
Capacity = 1
HI
+ -
U9
LI-ION_BATTERY
SOC = 0
NS = {N}
TSCALE = {3600*4}
C = {CAh}
C2
10n
“N” is Amount
of Battery Cell
“TSCALE={3600*4}” is meant
1second (simulation setting-runtime)
equal 4 hours
“CAh” is Capacity of Battery
(ampere-hour capacity)
5.4システムシミュレーション事例(回生回路)
189.
Simulation Result (parametricsweep)
Copyright(C) MARUTSU ELEC CO. LTD 189
Duty_buck=0.44 Duty_buck=0.34 Duty_buck=0.24
Battery Voltage
Battery Charging Current
Buck: Output Voltage
Buck: Gate Drive Voltage
3-phase rectifier: Output Voltage
3-phase Generator: Output Voltage
6 Hours
Simulation time for 1 condition is about 15 minute
5.4システムシミュレーション事例(回生回路)
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 194
LTC4000での複数セルの充電(セルのバランシング)
Case1: Battery Charger Circuit with Li-ion model (NS*=4)
Simulation Circuit and Setting
Battery’s Timescale=360K, Simulation time: 10ms=1hour.
NS* is the number of cells.
Lithium Ion Battery
• 3.7V – Nominal Voltage
• 2200mAh – Nominal Capacity
• 4-Cells
*Analysis directives:
• .tran 0 36.9ms 6.9m 1u startup
• solver = Alternate
• .options RELTOL=0.01
• .options VNTOL=1m
• .options ABSTOL=1u
• .options CHGTOL=100n
• .options GMIN=1E-9
• .options ITL1=500
• .options ITL2=200
• .options ITL4=100
Integration Method: Gear
5.5詳細シミュレーション事例(リチウムイオン電池アプリケーション回路)
195.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 195
LTC4000での複数セルの充電(セルのバランシング)
Case1: Battery Charger Circuit with Li-ion model (NS*=4)
Simulation Result • Total elapsed time: 2667.251 sec. ≈ 45min.
Charging Voltage
Charging Current
SOC: U3
(10ms/hour)
5.5詳細シミュレーション事例(リチウムイオン電池アプリケーション回路)
196.
196
LTC4000での複数セルの充電(セルのバランシング)
Case2: Battery ChargerCircuit with Li-ion model (NS=14, Various Initial SOC)
Simulation Circuit and Setting
Lithium Ion Battery
• 3.7V – Nominal
Voltage
• 2200mAh –
Nominal Capacity
• 14-Cells
Battery’s Timescale=360K, Simulation time: 10ms=1hour.
NS* is the number of cells.
*Analysis directives:
• .tran 0 41ms 11ms 1u startup
• solver = Alternate
• .options RELTOL=0.01
• .options VNTOL=1m
• .options ABSTOL=1u
• .options CHGTOL=1n
• .options GMIN=1E-8
• .options ITL1=500
• .options ITL2=200
• .options ITL4=150
Integration Method: Gear
Copyright(C) MARUTSU ELEC CO. LTD
5.5詳細シミュレーション事例(リチウムイオン電池アプリケーション回路)
197.
Copyright(C) MARUTSU ELECCO. LTD 197
LTC4000での複数セルの充電(セルのバランシング)
Case2: Battery Charger Circuit with Li-ion model (NS=14, Various Initial SOC)
Simulation Result
• Total elapsed time: 4447.5 sec. ≈ 74min.
(10ms/hour)
Charging Voltage
Charging Current
SOC: U3
SOC: U4, U5, and U6
5.5詳細シミュレーション事例(リチウムイオン電池アプリケーション回路)