SlideShare a Scribd company logo
2018 전자회로설계 기말 고사(100)
Electronic Circuits Design
Date: 2018-06-14.
1. E24 계열 저항의 선호수는 위와 같다. 35 k 을 E24 계열 저항으로 만들 경우, 필요한 최소
한의 저항 개수와 각 저항값은 얼마인지 각각 계산하라. (20)
E24: 10, 11, 12, 13, 15, 16, 18, 20, 22, 24, 27, 30, 33, 36, 39, 43, 47, 51, 56, 62, 68, 75, 82, 91
E24 계열 선호수를 고려하면 35 = 33+2 = 20+15 등으로 분해된다.
- 필요한 저항 개수: 2개
- 저항값: 33 k + 2 k 혹은 20 k + 15 k 등
2. 저항 회로에 흐르는 전류를 측정하려 한다. 측정하기 위한 방법을 3가지 이상 제시하시오.
우리가 가진 측정기는 전압계, 전류계, 저항계, oscilloscope, function generator로 가정하라. (20)
1) 회로를 끊고 직렬로 전류계를 연결해 전류를 측정
2) 저항계로 저항을 재고, 전압계로 해당 저항의 전압을 측정해서 I = V/R로 구함
3) 대부분의 경우 직류와 교류 저항은 거의 동일하므로, oscilloscope로 전압을 측정해서 I =
V/R로 구함
3. L과 C를 병렬로 연결하여 band-pass filter(BPF)를 구성했다. 현재 LC 회로가 BPF로 동작한다
는 것을 function generator와 oscilloscope 실험으로 확인하는 방법을 쓰시오. (20)
- BPF로 동작한다는 것은 공진이 일어난다는 뜻
- Function generator의 주파수를 조정하여 출력 전압이 최대가 되는 주파수를 찾음
- 최대 주파수 기준으로 주파수가 낮거나 높을 때 출력 전압이 떨어지는 것을 확인하여 BPF의
공진 특성을 측정함
4. VCC = 10 V를 인가하여 CE amplifier를 설계하였다. (40)
1) TR이 active mode에 있는 것을 확인하는 방법은? (VBE, VCE, IC를 제시) (10)
- VBE = 0.7 V 정도
- VCE = 5 V 정도
- IC = 수 mA로 측정되면 active mode에 있음
2) vin = 10 mV를 amplifier 입력(base)에 넣고 출력(collector)을 oscilloscope로 측정했을 때
vout = 2 V가 나왔다. AV를 dB로 제시하라. (10)
AV = 2 / 10m = 200배 = 46 dB
3) 2)와 같은 경우 function generator와 oscilloscope를 이용해 CE amplifier bandwidth를 측정
하는 방법을 구체적으로 설명하라. (20)
- vout = 2 V 측정 결과에 0.7을 곱하여 3 dB 떨어지는 출력값을 1.4 V로 계산
- Function generator 주파수를 낮추어 oscilloscope에 측정되는 값이 1.4 V가 되는 주파수를 fL
로 기록
- Function generator 주파수를 높여 oscilloscope에 측정되는 값이 1.4 V가 되는 주파수를 fU로
기록
- fU – fL이 CE amplifier bandwidth가 됨

More Related Content

Similar to TestECD2018-1(answer)

RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
Yong Heui Cho
 
RF 증폭기 최종설계보고서
RF 증폭기 최종설계보고서RF 증폭기 최종설계보고서
RF 증폭기 최종설계보고서
Yong Heui Cho
 
Measuring distance with ultrasonic sensor
Measuring distance with ultrasonic sensorMeasuring distance with ultrasonic sensor
Measuring distance with ultrasonic sensor
ChangsupSong1
 
TestEcd2014-1(Answer)
TestEcd2014-1(Answer)TestEcd2014-1(Answer)
TestEcd2014-1(Answer)
Yong Heui Cho
 
TestECD2015-1(Answer)
TestECD2015-1(Answer)TestECD2015-1(Answer)
TestECD2015-1(Answer)
Yong Heui Cho
 
TestEC2013-2(answer)
TestEC2013-2(answer)TestEC2013-2(answer)
TestEC2013-2(answer)
Yong Heui Cho
 
TestEC2018-2(answer)
TestEC2018-2(answer)TestEC2018-2(answer)
TestEC2018-2(answer)
Yong Heui Cho
 
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
Yong Heui Cho
 
TestEC2014-2(Answer)
TestEC2014-2(Answer)TestEC2014-2(Answer)
TestEC2014-2(Answer)
Yong Heui Cho
 
Chapter6 power management ic group11
Chapter6 power management ic group11Chapter6 power management ic group11
Chapter6 power management ic group11
Hyun Wong Choi
 
TestEC2017-2(answer)
TestEC2017-2(answer)TestEC2017-2(answer)
TestEC2017-2(answer)
Yong Heui Cho
 
TestEC2014-1(Answer)
TestEC2014-1(Answer)TestEC2014-1(Answer)
TestEC2014-1(Answer)
Yong Heui Cho
 
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
중선 곽
 
제8장 연산증폭기
제8장 연산증폭기제8장 연산증폭기
제8장 연산증폭기
광섭 김
 
ADC(nanheekim)
ADC(nanheekim)ADC(nanheekim)
ADC(nanheekim)
Nanhee Kim
 
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
Yeonmoon Jeong
 
TestEC2013-1(answer)
TestEC2013-1(answer)TestEC2013-1(answer)
TestEC2013-1(answer)
Yong Heui Cho
 

Similar to TestECD2018-1(answer) (19)

RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
RF 증폭기 설계(Design of RF Amplifier)-rev1
 
RF 증폭기 최종설계보고서
RF 증폭기 최종설계보고서RF 증폭기 최종설계보고서
RF 증폭기 최종설계보고서
 
Measuring distance with ultrasonic sensor
Measuring distance with ultrasonic sensorMeasuring distance with ultrasonic sensor
Measuring distance with ultrasonic sensor
 
TestEcd2014-1(Answer)
TestEcd2014-1(Answer)TestEcd2014-1(Answer)
TestEcd2014-1(Answer)
 
TestECD2015-1(Answer)
TestECD2015-1(Answer)TestECD2015-1(Answer)
TestECD2015-1(Answer)
 
TestEC2013-2(answer)
TestEC2013-2(answer)TestEC2013-2(answer)
TestEC2013-2(answer)
 
TestEC2018-2(answer)
TestEC2018-2(answer)TestEC2018-2(answer)
TestEC2018-2(answer)
 
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
전자회로설계(기말고사 문제)2013-1
 
TestEC2014-2(Answer)
TestEC2014-2(Answer)TestEC2014-2(Answer)
TestEC2014-2(Answer)
 
Chapter6 power management ic group11
Chapter6 power management ic group11Chapter6 power management ic group11
Chapter6 power management ic group11
 
Avr lecture4
Avr lecture4Avr lecture4
Avr lecture4
 
TestEC2017-2(answer)
TestEC2017-2(answer)TestEC2017-2(answer)
TestEC2017-2(answer)
 
TestEC2014-1(Answer)
TestEC2014-1(Answer)TestEC2014-1(Answer)
TestEC2014-1(Answer)
 
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
프로그래머가 알아야 하는 2진수 기반의 컴퓨터 동작 원리
 
제8장 연산증폭기
제8장 연산증폭기제8장 연산증폭기
제8장 연산증폭기
 
M04 5399(수정)
M04 5399(수정)M04 5399(수정)
M04 5399(수정)
 
ADC(nanheekim)
ADC(nanheekim)ADC(nanheekim)
ADC(nanheekim)
 
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
Vco ir (kangfa chung's conflicted copy 2010 06-28)
 
TestEC2013-1(answer)
TestEC2013-1(answer)TestEC2013-1(answer)
TestEC2013-1(answer)
 

More from Yong Heui Cho

Android - Sensor Manager
Android - Sensor ManagerAndroid - Sensor Manager
Android - Sensor Manager
Yong Heui Cho
 
Android - Broadcast Receiver
Android - Broadcast ReceiverAndroid - Broadcast Receiver
Android - Broadcast Receiver
Yong Heui Cho
 
Android - Message
Android - MessageAndroid - Message
Android - Message
Yong Heui Cho
 
Cloud Computing
Cloud ComputingCloud Computing
Cloud Computing
Yong Heui Cho
 
Computing Paradigm
Computing ParadigmComputing Paradigm
Computing Paradigm
Yong Heui Cho
 
TestBCD2018-2(answer)
TestBCD2018-2(answer)TestBCD2018-2(answer)
TestBCD2018-2(answer)
Yong Heui Cho
 
TestSDS2018-2(answer)
TestSDS2018-2(answer)TestSDS2018-2(answer)
TestSDS2018-2(answer)
Yong Heui Cho
 
TestEC2018-1(answer)
TestEC2018-1(answer)TestEC2018-1(answer)
TestEC2018-1(answer)
Yong Heui Cho
 
TestBCD2018-1(answer)
TestBCD2018-1(answer)TestBCD2018-1(answer)
TestBCD2018-1(answer)
Yong Heui Cho
 
TestSDS2018-1(answer)
TestSDS2018-1(answer)TestSDS2018-1(answer)
TestSDS2018-1(answer)
Yong Heui Cho
 
BJT - Analysis of Bias
BJT - Analysis of BiasBJT - Analysis of Bias
BJT - Analysis of Bias
Yong Heui Cho
 
TestCloud2018-2(answer)
TestCloud2018-2(answer)TestCloud2018-2(answer)
TestCloud2018-2(answer)
Yong Heui Cho
 
Test-SDIC2018-2(answer)
Test-SDIC2018-2(answer)Test-SDIC2018-2(answer)
Test-SDIC2018-2(answer)
Yong Heui Cho
 
TestCloud2018-1(answer)
TestCloud2018-1(answer)TestCloud2018-1(answer)
TestCloud2018-1(answer)
Yong Heui Cho
 
Cloud Service Model
Cloud Service ModelCloud Service Model
Cloud Service Model
Yong Heui Cho
 
Test-SDIC2018-1(Answer)
Test-SDIC2018-1(Answer)Test-SDIC2018-1(Answer)
Test-SDIC2018-1(Answer)
Yong Heui Cho
 
Computing Paradigm - rev1
Computing Paradigm - rev1Computing Paradigm - rev1
Computing Paradigm - rev1
Yong Heui Cho
 
Cloud Deployment Model
Cloud Deployment ModelCloud Deployment Model
Cloud Deployment Model
Yong Heui Cho
 
Cloud Computing Architecture
Cloud Computing ArchitectureCloud Computing Architecture
Cloud Computing Architecture
Yong Heui Cho
 
Cloud Computing Fundamentals
Cloud Computing FundamentalsCloud Computing Fundamentals
Cloud Computing Fundamentals
Yong Heui Cho
 

More from Yong Heui Cho (20)

Android - Sensor Manager
Android - Sensor ManagerAndroid - Sensor Manager
Android - Sensor Manager
 
Android - Broadcast Receiver
Android - Broadcast ReceiverAndroid - Broadcast Receiver
Android - Broadcast Receiver
 
Android - Message
Android - MessageAndroid - Message
Android - Message
 
Cloud Computing
Cloud ComputingCloud Computing
Cloud Computing
 
Computing Paradigm
Computing ParadigmComputing Paradigm
Computing Paradigm
 
TestBCD2018-2(answer)
TestBCD2018-2(answer)TestBCD2018-2(answer)
TestBCD2018-2(answer)
 
TestSDS2018-2(answer)
TestSDS2018-2(answer)TestSDS2018-2(answer)
TestSDS2018-2(answer)
 
TestEC2018-1(answer)
TestEC2018-1(answer)TestEC2018-1(answer)
TestEC2018-1(answer)
 
TestBCD2018-1(answer)
TestBCD2018-1(answer)TestBCD2018-1(answer)
TestBCD2018-1(answer)
 
TestSDS2018-1(answer)
TestSDS2018-1(answer)TestSDS2018-1(answer)
TestSDS2018-1(answer)
 
BJT - Analysis of Bias
BJT - Analysis of BiasBJT - Analysis of Bias
BJT - Analysis of Bias
 
TestCloud2018-2(answer)
TestCloud2018-2(answer)TestCloud2018-2(answer)
TestCloud2018-2(answer)
 
Test-SDIC2018-2(answer)
Test-SDIC2018-2(answer)Test-SDIC2018-2(answer)
Test-SDIC2018-2(answer)
 
TestCloud2018-1(answer)
TestCloud2018-1(answer)TestCloud2018-1(answer)
TestCloud2018-1(answer)
 
Cloud Service Model
Cloud Service ModelCloud Service Model
Cloud Service Model
 
Test-SDIC2018-1(Answer)
Test-SDIC2018-1(Answer)Test-SDIC2018-1(Answer)
Test-SDIC2018-1(Answer)
 
Computing Paradigm - rev1
Computing Paradigm - rev1Computing Paradigm - rev1
Computing Paradigm - rev1
 
Cloud Deployment Model
Cloud Deployment ModelCloud Deployment Model
Cloud Deployment Model
 
Cloud Computing Architecture
Cloud Computing ArchitectureCloud Computing Architecture
Cloud Computing Architecture
 
Cloud Computing Fundamentals
Cloud Computing FundamentalsCloud Computing Fundamentals
Cloud Computing Fundamentals
 

TestECD2018-1(answer)

  • 1. 2018 전자회로설계 기말 고사(100) Electronic Circuits Design Date: 2018-06-14. 1. E24 계열 저항의 선호수는 위와 같다. 35 k 을 E24 계열 저항으로 만들 경우, 필요한 최소 한의 저항 개수와 각 저항값은 얼마인지 각각 계산하라. (20) E24: 10, 11, 12, 13, 15, 16, 18, 20, 22, 24, 27, 30, 33, 36, 39, 43, 47, 51, 56, 62, 68, 75, 82, 91 E24 계열 선호수를 고려하면 35 = 33+2 = 20+15 등으로 분해된다. - 필요한 저항 개수: 2개 - 저항값: 33 k + 2 k 혹은 20 k + 15 k 등 2. 저항 회로에 흐르는 전류를 측정하려 한다. 측정하기 위한 방법을 3가지 이상 제시하시오. 우리가 가진 측정기는 전압계, 전류계, 저항계, oscilloscope, function generator로 가정하라. (20) 1) 회로를 끊고 직렬로 전류계를 연결해 전류를 측정 2) 저항계로 저항을 재고, 전압계로 해당 저항의 전압을 측정해서 I = V/R로 구함 3) 대부분의 경우 직류와 교류 저항은 거의 동일하므로, oscilloscope로 전압을 측정해서 I = V/R로 구함 3. L과 C를 병렬로 연결하여 band-pass filter(BPF)를 구성했다. 현재 LC 회로가 BPF로 동작한다 는 것을 function generator와 oscilloscope 실험으로 확인하는 방법을 쓰시오. (20) - BPF로 동작한다는 것은 공진이 일어난다는 뜻 - Function generator의 주파수를 조정하여 출력 전압이 최대가 되는 주파수를 찾음 - 최대 주파수 기준으로 주파수가 낮거나 높을 때 출력 전압이 떨어지는 것을 확인하여 BPF의 공진 특성을 측정함 4. VCC = 10 V를 인가하여 CE amplifier를 설계하였다. (40) 1) TR이 active mode에 있는 것을 확인하는 방법은? (VBE, VCE, IC를 제시) (10) - VBE = 0.7 V 정도 - VCE = 5 V 정도 - IC = 수 mA로 측정되면 active mode에 있음
  • 2. 2) vin = 10 mV를 amplifier 입력(base)에 넣고 출력(collector)을 oscilloscope로 측정했을 때 vout = 2 V가 나왔다. AV를 dB로 제시하라. (10) AV = 2 / 10m = 200배 = 46 dB 3) 2)와 같은 경우 function generator와 oscilloscope를 이용해 CE amplifier bandwidth를 측정 하는 방법을 구체적으로 설명하라. (20) - vout = 2 V 측정 결과에 0.7을 곱하여 3 dB 떨어지는 출력값을 1.4 V로 계산 - Function generator 주파수를 낮추어 oscilloscope에 측정되는 값이 1.4 V가 되는 주파수를 fL 로 기록 - Function generator 주파수를 높여 oscilloscope에 측정되는 값이 1.4 V가 되는 주파수를 fU로 기록 - fU – fL이 CE amplifier bandwidth가 됨