1. 한국내쇼날인스트루먼트(www.ni.com/korea, 이하 한
국NI)는 오는 2월 4일부터 6일까지 서울 코엑스
(COEX)에서 개최되는 SEMICON KOREA 2015에 참
가하여 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·
검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다
고 밝혔다.
반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션 중 하
나인 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test
System)은 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며,
기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가
능하며, 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때
문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다. 또
한, 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근
이슈가 많은 RF 전력 증폭기(RF PA), 가속도계, 전력
관리 IC(PMIC) 등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체
의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이며, 700V 이상
의 고전압이 요구되는 Motor Driver IC를 디자인할
때 효율적인 고전력 PXI 테스터도 함께 전시될 예정
이다.
한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 이동희 대리는
Future Test Challenges를 논의하는 Test Forum(2/5,
코엑스)에 참석하시면 NI STS와 PXI의 효율성을 분석
할 수 있다고 말했다.
한편, 한국NI의 부스(코엑스 3층 D홀 5536)에서는
전문 어플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및
제품 상담이 함께 진행될 예정이다.
보다 자세한 사항은 한국NI 홈페이지 ni.com/korea
/sts를 방문하길 바란다.
한국NI, SEMICON KOREA 2015에서
반도체 테스트 비용을 절감하는 통합 솔루션 공개
150 계장기술
PROCESS CONTROLINSTRUMENTATION
계 장 포 커 스