SlideShare a Scribd company logo
1 of 24
SAMPLE SECARA
STANDAR :
UNTUK PROSES
TERUS MENERUS
(MIL STD 1235C)
ANGGOTA
MUHAMMAD FADHIL (2113008)
ALVIN ADITYA RAHMAN (2113019)
​TSANIA LUTFIA SALSABILA ALI T (2113033)
GILBERTUS JHON PAUL IVAN (2113054)
​SEFRIL LIA NUR ANGGRAINI (2113057)
PROSES TERUS
MENERUS (MIL STD 1235C)
Mil STD 1235 C merupakan prosedur standar
untuk pemilihan dan implementasi rencana
pengambilan sampel kontinu tingkat tunggal dan
banyak, seperti CSP-1 , CSP-F , CSP-2 , CSP-T ,
dan CSP-V.
3
1. CSP-1, prosedur sampling kontinyu tunggal yang
memberikan alternatif inspeksi 100% dan inspeksi sampling
2. CSP-F, variasi dari CSP-1 yang digunakan short run
production, sehingga memungkinkan jumlah clearance (i)
yang lebih kecil
3. CSP-2, modifikasi rencana CSP-1 dimana inspeksi 100%
dilakukan hanya jika ditemukan item cacat kedua pada unit
sampel ke-i atau sebelumnya
4. CSP-T, prosedur sampel kontinyu multi level untuk mereduksi
frekuensi sampling untuk unjuk kualitas yang superior
5. CSP-V, prosedur sampling kontinyu tunggal sebagai alternatif
CSP-T yang digunakan untuk mereduksi jumlah clearance
untuk kondisi kualitas yang baik, dimana reduksi frekuensi
4
PROSES TERUS
MENERUS (MIL STD 1235C)
Tujuan standar ini untuk menetapkan rencana dan prosedur
pengambilan sampel berkelanjutan untuk inspeksi berdasarkan atribut.
Jika standar ini dirujuk pada kontrak, spesifikasi, standar inspeksi atau
dokumen serupa, ketentuan standar ini akan mengatur penerapan
semua rencana dan prosedur pengambilan sampel kontinu tipe atribut.
Kecuali disebutkan lain disini, ketentuan standar ini harus dilakukan
oleh pemasok.
Selain itu standar ini memberikan kurva fungsional dari rencana
pengambilan sampel kontinu (dengan pengecualian rencana CSP-F)
serta deskripsi penggunaannya dan pedoman untuk interpretasi.
5
CONTOH SOAL
7
CSP-1:Rencana CSP-1 digunakan dengan AOQL=1,22%.
Inspektur sampling mempunyai cukup waktu & menentukan
frekuensi sampling f = 1/5. Tentukan & jelaskan prosedur kerja
yang tepat untuk CSP-1 tersebut.
Caranya :
1. Tentukan i dari Tabel-1: f = 1/5, AOQL=1,22% --> i = 58.
2. Tentukan S dari Tabel 2 : f=1/5, AOQL=1,22% --> S = 165
(Bata cacat)
3. Prosedur sampling:
a. Mulai dengan inspeksi-100%;
b. Jika pada 58 sampling, seluruh unit baik,maka dilakukan
inspeksi-sampling denganpemilihan secara random 1 dari
setiap 5 unityang diproduksi;
c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1unit cacat, maka
kembali dilakukan inspeksi-100.
d. Jika selama inspeksi-100% didapat sigma unit cacat > 165,
maka minta perbaikan proses produksi. Proses suplai dapat
dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah proses
perbaikan dilakukan, suplaidapat dilakukan, kembali dengan
sampling-100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b-d.
TABEL-1: NILAI JUMLAH CLEARANCE (I) UNTUK RENCANA CSP-1 8
AQL disediakan sebagai indeks untuk menyederhanakan penggunaan tabel ini, tetapi tidak memiliki
arti lain sehubungan dengan rencana
S = 165
TABEL-2: NILAI S CSP-1 9
AQL disediakan sebagai indeks untuk menyederhanakan penggunaan tabel ini, tetapi tidak memiliki
arti lain sehubungan dengan rencana
S = 165
10
CSP-F : Rencana CSP-F digunakan dengan AOQL =
0,198% untuk volume produksi 1.200 dalam interval
waktu tertentu. Tentukan rencana CSP-F & jelaskan
prosedur kerjanya.
1. Tentukan huruf kode frekuensi sampling dari
Tabel-A: Volume produksi = 1.200 → Kode: A-F .
2. Tentukan i dari Tabel-1 : dipilih f = 1/5,
AOQL=0,198 % →i = 360.
3. Tentukan S dari Tabel-2 f=1/5, AOQL=0,198 % S
= 975
11
4. Prosedur sampling:
a. Mulai dengan inspeksi-100%;
b. Jika pada 360 sampling, seluruh unit baik, maka dilakukan inspeksi-
sampling dengan pemilihan secara random 1 dari setiap 5 unit yang
diproduksi;
c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1 unit cacat, maka kembali
dilakukan inspeksi 100.
d. Jika selama inspeksi-100% didapat Σ unit cacat ≥ 975, maka minta
perbaikan proses produksi. Proses suplai dapat dihentikan hingga
perbaikan dilakukan.
Setelah proses perbaikan dilakukan, suplai dapat dilakukan, kembali
dengan sampling 100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b-d.
TABEL-A : HURUF KODE FREKUENSI SAMPLING 12
TABEL-1: NILAI JUMLAH CLEARANCE (I) UNTUK RENCANA CSP-F
(CSP-1)
13
TABEL-2: NILAI S CSP-F (CSP-1) 14
15
CSP-2: Rencana CSP-2 digunakan dengan AOQL=1,22% dan biaya
inspeksi cukup rendah sehingga dimungkinkan untuk menggunakan
fraksi sampling f cukup tinggi untuk melakukan inspeksi. Tentukan
rencana CSP-2 & jelaskan prosedur kerjanya.
1.Tentukan i dari Tabel-B: biaya inspeksi rendah →→ pilih f
maksimum yang mungkin → f = 1/2, AOQL = 1,22% →i = 35.
2.Tentukan S dari Tabel-C : f = 1/2, AOQL = 1,22% → S = 68
3. Prosedur sampling:
a. Mulai dengan inspeksi-100%;
b. Jika pada 35 sampling, seluruh unit baik, maka dilakukan
inspeksi-sampling dengan pemilihan secara random 1 dari setiap
5 unit yang diproduksi;
c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1 unit cacat, maka
kembali dilakukan inspeksi-100.
d. Jika selama inspeksi-100% didapat Σ unit cacat ≥ 68, maka
minta perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat
dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah perbaikan
proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali, dan mulai
lagi dengan sampling-100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b-
d.
16
Tabel- B Nilai i untuk Rencana CSP-2
17
Tabel- C : Nilai S untuk Rencana CSP-2
18
CSP-T: Tentukan rencana CSP-T untuk AOQL = 2,90%. Asumsikan
dapat dilakukan inspeksi untuk
f = ¼. Jelaskan prosedur kerja CSP-T tersebut.
1.Tentukan i dari Tabel - D : f = ¼, AOQL = 2,90% → i = 26
2.Tentukan S dariTabel - E : f = ¼, AOQL=2,90% → S = 78
3.Prosedur sampling:
a. Mulai dengan inspeksi-100%;
b. Jika pada 26 inspeksi berturut-turut seluruh unit baik, lakukan inspeksi-
sampling dengan frekuensi sampling f =1/4. Jika pada inspeksi-sampling tsb. 26
unit yang diinspeksi berturut-turur seluruhnya baik,kurangi frekuensi sampling
menjadi f=1/8.
Jika pada inspeksi-sampling tsb. 26 unit yang diinspeksi berturut-turur
seluruhnya baik, kurangi frekuensi sampling menjadi f =1/16.
Jika 26 unit yang diinspeksi secara berturut-turut baik, lanjutkan inspeksi-
samplingdengan f=1/16, hingga ditemukan unit cacat & kembali inspeksi-100%.
c. Jika selama inspeksi-100% ditemukan sigma unit cacat > 78, maka minta
perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat dihentikan hingga perbaikan
dilakukan. Setelah perbaikan proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali,
& mulai lagi dengan inspeksi-100%.
19
20
21
CSP-V: Tentukan rencana CSP-V untuk AOQL = 2,90%. Asumsikan dapat
dilakukan inspeksi untuk
f = ¼. Jelaskan prosedur kerja CSP-T tersebut.
1. Tentukan i dari Tabel - F : f = ¼, AOQL = 2,90%→ i = 24
2. Tentukan S dari Tabel-G :f = ¼, AOQL=2,90%→ S = 66
3. Prosedur sampling:
a. Mulai dengan inspeksi-100%.
b. Jika pada 24 inspeksi berturut-turut seluruh unit baik, lakukan inspeksi-sampling dengan
f=1/4.Jika pada inspeksi sampling tsb. 24 unit yang diinspeksi berturut-turut seluruhnya
baik, lanjutkan inspeksi-sampling.
Jika pada inspeksi-sampling tsb. di temukan1 unit cacat, kembali lakukan inspeksi-100%
dengan i’ = (1/3) i = 18. Jika pada inspeksi-100% dengan i = 18, 18 unit yang diinspeksi
berturut-turut baik, kembali ke skema sampling semula dengan f = ¼ dan i = 24.
c. Jika pada inspeksi-100% pada skema I (i=24) ditemukan sigma unit cacat > 66, maka
minta perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat dihentikan hingga perbaikan
dilakukan.Setelah perbaikan proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali, & mulai
lagi dengan inspeksi-100%.
22
23
TERIMA KASIH

More Related Content

What's hot

Pengukuran Jarak Fokus Lensa
Pengukuran Jarak Fokus LensaPengukuran Jarak Fokus Lensa
Pengukuran Jarak Fokus LensaSulistia Ningsih
 
Penurunan rumus pemantulan
Penurunan rumus pemantulanPenurunan rumus pemantulan
Penurunan rumus pemantulannooraisy22
 
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)NovaPriyanaLestari
 
Diagram fasa fe fe3 c
Diagram fasa fe fe3 cDiagram fasa fe fe3 c
Diagram fasa fe fe3 cBayu Fajri
 
Proposal hukum pascal
Proposal hukum pascalProposal hukum pascal
Proposal hukum pascalAi mega
 
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.umammuhammad27
 
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)Nailul Affida
 
Laporan fisika dasar pesawat atwood
Laporan fisika dasar pesawat atwoodLaporan fisika dasar pesawat atwood
Laporan fisika dasar pesawat atwoodNurul Hanifah
 
2 a medan listrik
2 a medan listrik2 a medan listrik
2 a medan listrikMario Yuven
 
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padat
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda PadatLAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padat
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padatyudhodanto
 
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)Sulistiyo Wibowo
 
Jurnal fisika konstanta pegas
Jurnal fisika konstanta pegasJurnal fisika konstanta pegas
Jurnal fisika konstanta pegasDedew Wijayanti
 
Matematika ekonomi-non linier
Matematika ekonomi-non linierMatematika ekonomi-non linier
Matematika ekonomi-non linierDevinSetiawan1
 
Bab iv hasil penelitian dan pembahasan
Bab iv hasil penelitian dan pembahasanBab iv hasil penelitian dan pembahasan
Bab iv hasil penelitian dan pembahasanLulu Nurul
 
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hari
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hariaplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hari
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hariInstitute techologi bandung
 
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROL
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROLBAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROL
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROLKhairi Ramdhani
 

What's hot (20)

Pengukuran Jarak Fokus Lensa
Pengukuran Jarak Fokus LensaPengukuran Jarak Fokus Lensa
Pengukuran Jarak Fokus Lensa
 
Penurunan rumus pemantulan
Penurunan rumus pemantulanPenurunan rumus pemantulan
Penurunan rumus pemantulan
 
Laporan praktikum fisika i
Laporan praktikum fisika iLaporan praktikum fisika i
Laporan praktikum fisika i
 
Pertemuan x penugasan tidak seimbang
Pertemuan x  penugasan tidak seimbangPertemuan x  penugasan tidak seimbang
Pertemuan x penugasan tidak seimbang
 
Laporan lkm-go-08
Laporan lkm-go-08Laporan lkm-go-08
Laporan lkm-go-08
 
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)
MATERI FLUIDA STATIS (TEKANAN HIDROSTATIS, HUKUM PASCAL, DAN HUKUM ARCHIMEDES)
 
Diagram fasa fe fe3 c
Diagram fasa fe fe3 cDiagram fasa fe fe3 c
Diagram fasa fe fe3 c
 
Proposal hukum pascal
Proposal hukum pascalProposal hukum pascal
Proposal hukum pascal
 
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.
1 b 11170163000059_laporan_gaya gesek statis dan gaya gesek kinetis.
 
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)
Jurnal Seminar Praktikum Fisika Dasar II (Lensa)
 
Materi Kuliah Fisika Bab Dinamika
Materi Kuliah Fisika Bab DinamikaMateri Kuliah Fisika Bab Dinamika
Materi Kuliah Fisika Bab Dinamika
 
Laporan fisika dasar pesawat atwood
Laporan fisika dasar pesawat atwoodLaporan fisika dasar pesawat atwood
Laporan fisika dasar pesawat atwood
 
2 a medan listrik
2 a medan listrik2 a medan listrik
2 a medan listrik
 
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padat
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda PadatLAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padat
LAPORAN PRAKTIKUM FISIKA : Pengukuran Dasar Pada Benda Padat
 
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)
Pembuatan alat praktikum momen gaya (torsi)
 
Jurnal fisika konstanta pegas
Jurnal fisika konstanta pegasJurnal fisika konstanta pegas
Jurnal fisika konstanta pegas
 
Matematika ekonomi-non linier
Matematika ekonomi-non linierMatematika ekonomi-non linier
Matematika ekonomi-non linier
 
Bab iv hasil penelitian dan pembahasan
Bab iv hasil penelitian dan pembahasanBab iv hasil penelitian dan pembahasan
Bab iv hasil penelitian dan pembahasan
 
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hari
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hariaplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hari
aplikasi hukum nweton dalam kehidupan sehari -hari
 
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROL
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROLBAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROL
BAB VI PESAWAT SEDERHANA SISTEM KATROL
 

proses terus menerus.pptx

  • 1. SAMPLE SECARA STANDAR : UNTUK PROSES TERUS MENERUS (MIL STD 1235C)
  • 2. ANGGOTA MUHAMMAD FADHIL (2113008) ALVIN ADITYA RAHMAN (2113019) ​TSANIA LUTFIA SALSABILA ALI T (2113033) GILBERTUS JHON PAUL IVAN (2113054) ​SEFRIL LIA NUR ANGGRAINI (2113057)
  • 3. PROSES TERUS MENERUS (MIL STD 1235C) Mil STD 1235 C merupakan prosedur standar untuk pemilihan dan implementasi rencana pengambilan sampel kontinu tingkat tunggal dan banyak, seperti CSP-1 , CSP-F , CSP-2 , CSP-T , dan CSP-V. 3
  • 4. 1. CSP-1, prosedur sampling kontinyu tunggal yang memberikan alternatif inspeksi 100% dan inspeksi sampling 2. CSP-F, variasi dari CSP-1 yang digunakan short run production, sehingga memungkinkan jumlah clearance (i) yang lebih kecil 3. CSP-2, modifikasi rencana CSP-1 dimana inspeksi 100% dilakukan hanya jika ditemukan item cacat kedua pada unit sampel ke-i atau sebelumnya 4. CSP-T, prosedur sampel kontinyu multi level untuk mereduksi frekuensi sampling untuk unjuk kualitas yang superior 5. CSP-V, prosedur sampling kontinyu tunggal sebagai alternatif CSP-T yang digunakan untuk mereduksi jumlah clearance untuk kondisi kualitas yang baik, dimana reduksi frekuensi 4
  • 5. PROSES TERUS MENERUS (MIL STD 1235C) Tujuan standar ini untuk menetapkan rencana dan prosedur pengambilan sampel berkelanjutan untuk inspeksi berdasarkan atribut. Jika standar ini dirujuk pada kontrak, spesifikasi, standar inspeksi atau dokumen serupa, ketentuan standar ini akan mengatur penerapan semua rencana dan prosedur pengambilan sampel kontinu tipe atribut. Kecuali disebutkan lain disini, ketentuan standar ini harus dilakukan oleh pemasok. Selain itu standar ini memberikan kurva fungsional dari rencana pengambilan sampel kontinu (dengan pengecualian rencana CSP-F) serta deskripsi penggunaannya dan pedoman untuk interpretasi. 5
  • 7. 7 CSP-1:Rencana CSP-1 digunakan dengan AOQL=1,22%. Inspektur sampling mempunyai cukup waktu & menentukan frekuensi sampling f = 1/5. Tentukan & jelaskan prosedur kerja yang tepat untuk CSP-1 tersebut. Caranya : 1. Tentukan i dari Tabel-1: f = 1/5, AOQL=1,22% --> i = 58. 2. Tentukan S dari Tabel 2 : f=1/5, AOQL=1,22% --> S = 165 (Bata cacat) 3. Prosedur sampling: a. Mulai dengan inspeksi-100%; b. Jika pada 58 sampling, seluruh unit baik,maka dilakukan inspeksi-sampling denganpemilihan secara random 1 dari setiap 5 unityang diproduksi; c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1unit cacat, maka kembali dilakukan inspeksi-100. d. Jika selama inspeksi-100% didapat sigma unit cacat > 165, maka minta perbaikan proses produksi. Proses suplai dapat dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah proses perbaikan dilakukan, suplaidapat dilakukan, kembali dengan sampling-100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b-d.
  • 8. TABEL-1: NILAI JUMLAH CLEARANCE (I) UNTUK RENCANA CSP-1 8 AQL disediakan sebagai indeks untuk menyederhanakan penggunaan tabel ini, tetapi tidak memiliki arti lain sehubungan dengan rencana S = 165
  • 9. TABEL-2: NILAI S CSP-1 9 AQL disediakan sebagai indeks untuk menyederhanakan penggunaan tabel ini, tetapi tidak memiliki arti lain sehubungan dengan rencana S = 165
  • 10. 10 CSP-F : Rencana CSP-F digunakan dengan AOQL = 0,198% untuk volume produksi 1.200 dalam interval waktu tertentu. Tentukan rencana CSP-F & jelaskan prosedur kerjanya. 1. Tentukan huruf kode frekuensi sampling dari Tabel-A: Volume produksi = 1.200 → Kode: A-F . 2. Tentukan i dari Tabel-1 : dipilih f = 1/5, AOQL=0,198 % →i = 360. 3. Tentukan S dari Tabel-2 f=1/5, AOQL=0,198 % S = 975
  • 11. 11 4. Prosedur sampling: a. Mulai dengan inspeksi-100%; b. Jika pada 360 sampling, seluruh unit baik, maka dilakukan inspeksi- sampling dengan pemilihan secara random 1 dari setiap 5 unit yang diproduksi; c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1 unit cacat, maka kembali dilakukan inspeksi 100. d. Jika selama inspeksi-100% didapat Σ unit cacat ≥ 975, maka minta perbaikan proses produksi. Proses suplai dapat dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah proses perbaikan dilakukan, suplai dapat dilakukan, kembali dengan sampling 100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b-d.
  • 12. TABEL-A : HURUF KODE FREKUENSI SAMPLING 12
  • 13. TABEL-1: NILAI JUMLAH CLEARANCE (I) UNTUK RENCANA CSP-F (CSP-1) 13
  • 14. TABEL-2: NILAI S CSP-F (CSP-1) 14
  • 15. 15 CSP-2: Rencana CSP-2 digunakan dengan AOQL=1,22% dan biaya inspeksi cukup rendah sehingga dimungkinkan untuk menggunakan fraksi sampling f cukup tinggi untuk melakukan inspeksi. Tentukan rencana CSP-2 & jelaskan prosedur kerjanya. 1.Tentukan i dari Tabel-B: biaya inspeksi rendah →→ pilih f maksimum yang mungkin → f = 1/2, AOQL = 1,22% →i = 35. 2.Tentukan S dari Tabel-C : f = 1/2, AOQL = 1,22% → S = 68 3. Prosedur sampling: a. Mulai dengan inspeksi-100%; b. Jika pada 35 sampling, seluruh unit baik, maka dilakukan inspeksi-sampling dengan pemilihan secara random 1 dari setiap 5 unit yang diproduksi; c. Jika dalam inspeksi-sampling ditemukan 1 unit cacat, maka kembali dilakukan inspeksi-100. d. Jika selama inspeksi-100% didapat Σ unit cacat ≥ 68, maka minta perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah perbaikan proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali, dan mulai lagi dengan sampling-100%, selanjutnya ikuti prosedur kerja b- d.
  • 16. 16 Tabel- B Nilai i untuk Rencana CSP-2
  • 17. 17 Tabel- C : Nilai S untuk Rencana CSP-2
  • 18. 18 CSP-T: Tentukan rencana CSP-T untuk AOQL = 2,90%. Asumsikan dapat dilakukan inspeksi untuk f = ¼. Jelaskan prosedur kerja CSP-T tersebut. 1.Tentukan i dari Tabel - D : f = ¼, AOQL = 2,90% → i = 26 2.Tentukan S dariTabel - E : f = ¼, AOQL=2,90% → S = 78 3.Prosedur sampling: a. Mulai dengan inspeksi-100%; b. Jika pada 26 inspeksi berturut-turut seluruh unit baik, lakukan inspeksi- sampling dengan frekuensi sampling f =1/4. Jika pada inspeksi-sampling tsb. 26 unit yang diinspeksi berturut-turur seluruhnya baik,kurangi frekuensi sampling menjadi f=1/8. Jika pada inspeksi-sampling tsb. 26 unit yang diinspeksi berturut-turur seluruhnya baik, kurangi frekuensi sampling menjadi f =1/16. Jika 26 unit yang diinspeksi secara berturut-turut baik, lanjutkan inspeksi- samplingdengan f=1/16, hingga ditemukan unit cacat & kembali inspeksi-100%. c. Jika selama inspeksi-100% ditemukan sigma unit cacat > 78, maka minta perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat dihentikan hingga perbaikan dilakukan. Setelah perbaikan proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali, & mulai lagi dengan inspeksi-100%.
  • 19. 19
  • 20. 20
  • 21. 21 CSP-V: Tentukan rencana CSP-V untuk AOQL = 2,90%. Asumsikan dapat dilakukan inspeksi untuk f = ¼. Jelaskan prosedur kerja CSP-T tersebut. 1. Tentukan i dari Tabel - F : f = ¼, AOQL = 2,90%→ i = 24 2. Tentukan S dari Tabel-G :f = ¼, AOQL=2,90%→ S = 66 3. Prosedur sampling: a. Mulai dengan inspeksi-100%. b. Jika pada 24 inspeksi berturut-turut seluruh unit baik, lakukan inspeksi-sampling dengan f=1/4.Jika pada inspeksi sampling tsb. 24 unit yang diinspeksi berturut-turut seluruhnya baik, lanjutkan inspeksi-sampling. Jika pada inspeksi-sampling tsb. di temukan1 unit cacat, kembali lakukan inspeksi-100% dengan i’ = (1/3) i = 18. Jika pada inspeksi-100% dengan i = 18, 18 unit yang diinspeksi berturut-turut baik, kembali ke skema sampling semula dengan f = ¼ dan i = 24. c. Jika pada inspeksi-100% pada skema I (i=24) ditemukan sigma unit cacat > 66, maka minta perbaikan proses produksi. Suplai produk dapat dihentikan hingga perbaikan dilakukan.Setelah perbaikan proses dilakukan, suplai dapat dilakukan kembali, & mulai lagi dengan inspeksi-100%.
  • 22. 22
  • 23. 23