Perspektywy dla badań i praktyki użycia zmodyfikowanego spektrometru Ramana
Eksperymenty in silico w inżynierii materiałowej
1. Eksperymenty in silico
w inżynierii materiałowej
Andrzej Koleżyński
W przeszłości matematyka przekształciła
fizykę z filozofii w naukę.
Dzisiaj badania in silico zmieniają sposób
w jaki naukę uprawiamy.
The purpose of computation
is insight, not numbers
Richard Hamming
6. K. N. Houk and Paul Ha-Yeon Cheong
"Computational Prediction of Small-Molecule
Catalysts,” Nature, 455, 309-313 (2008).
Czas obliczeń ab initio
7. Równanie Schrödingera:
układy wieloelektronowe
Równanie Schrödingera niezawierające czasu dla układu wielo-
elektronowego (atomu, cząsteczki, kryształu) ma następującą postać:
gdzie ri oraz Ra to współrzędne odpowiednio elektronów i jąder atomowych,
n – liczba elektronów, m – liczba jąder atomowych.
a odpowiedni operator energii jest równy:
),...,,,,....,,(),...,,,,....,,(Hˆ
2121 jimn RRRrrrERRRrrr aa
j ji iji ii
i
e r
e
r
eZ
r
eZZ
mm
222
2
2
2
2
2
-
1
2
-
VˆTˆHˆ
a a
a
a a a
a
a
a
a
Tˆ Vˆ
8. Równ. Schrödingera (Kohna-Shama)
Uproszczenia, przybliżenia, idealizacje
non relativistic
semi-relativistic
fully-relativistic
“Muffin-tin” MT
atomic sphere approximation (ASA)
Full potential : FP
pseudopotential (PP)
Hartree-Fock (+correlations)
Density functional theory (DFT)
Local density approximation (LDA)
Generalized gradient approximation (GGA)
LDA+U, meta-GGA, funkcjonały hybrydowe
Non-spin polarized
Spin polarized
(z założonym porządkiem magnetycznym)
nieperiodyczne
(klastery)
periodyczne
(komórka elementarna)
fale płaskie: PW
stowarzyszone fale płaskie: APW
orbitale muffin-tin: MTO
orbitale atomowe, orbitale na bazie funkcji analitycznych
Slatera (STO), Gaussa (GTO),
linearyzacja: LAPW, LMTO,
bazy numeryczne
Zestawy funkcji bazowych
spin
Reprezentacja
ciał stałych
Kształt
potencjału
DFT: potencjał wymiany-korelacji
Efekty relatywistyczne
Jednoelektronowe równanie
Schrödingera (Kohna-Shama)
k
i
k
i
k
irV
)(
2
1 2
10. Układy periodyczne
komórki elementarne, nadstruktury, symulacja powierzchni
Kryształy idealne:
Wykorzystanie symetrii translacyjne sieci krystalicznej
i opis kryształu za pomocą prymitywnej komórki elementarnej,
rozciągniętej do nieskończoności w 3D.
Efekt: brak powierzchni, defektów, zanieczyszczeń!
Konieczność stosowania przybliżeń:
nadstruktury (powierzchnia, defekty, niestechiometria)
uproszczony potencjał krystaliczny (niecałkowite obsadzenie
pozycji Wyckoffa):
- Virtual Crystal Approximation VCA
- Coherent Potential Approximation CPA
11. Oprogramowanie do obliczeń ab initio (DFT):
WIEN2k, Crystal 14, CASTEP,…
Skład chemiczny
Zoptymalizowane
parametry, wymagana
precyzja obliczeń
Geometria,
struktura krystaliczna
Struktura pasmowa
Gęstość elektronowa
Gęstość stanów
12. R.F.W. Bader: Quantum Theory of Atoms in
Molecules & Crystals (QTAiM&C)
topologiczne ujęcie struktur molekularnych i krystalicznych
R. F. W. Bader, Atoms in Molecules - A Quantum Theory. Oxford University Press, Oxford, 1990.
C. Gatti, Chemical bonding in crystals: new directions, Z. Kristallogr. 220 (2005) 399–457
QTAIM, oparta na matematycznej teorii układów dynamicznych, definiuje pole wektorowe
zbudowane dla skalarnej funkcji gęstości elektronowej (obserwabli!) wyznaczające
w jednoznaczny sposób - przy pomocy powierzchni S dla których spełniony jest warunek:
- granice atomów tworzących cząsteczkę lub kryształ
i umożliwiające analizę ich własności. Szczególną rolę w tej teorii pełnią punkty krytyczne
(CP), dla których .
( ) ( ) 0r n r r S
( ) 0r
13. Parametry lokalne:
1. Gęstość elektronowa rBCP(r)
2. Laplasjan 2rBCP(r) = 1+2+2
3. Eliptyczność wiązania = |1/2-1|,
4. Energia kinetyczna/el. GBCP/rBCP
5. Energia elektronowa/el. HBCP/rBCP
Parametry globalne (f, c, m):
1. Płaskość (flatness)
(f duże – metale, f małe – niemetale)
2. Globalny indeks przeniesienia ładunku
(idealne kryształy jonowe c = 1)
3. Molekularność (molecularity)
m=0 kryszt. kowalencyjne
m=1 kryszt. molekularne
min min
/CCP BCPf
1
1 ( )
( )
N
q
c
N OS
max min max 2 max 2 min
2 max 2 min
( ) / , 0
0, 0
BCP BCP BCP BCP BCP
BCP BCP
jeżeli
Własności topologiczne gęstości elektronowej
Klasyfikacja punktów krytycznych
(stopień, sygnatura)
(3,-3) lokalne maksimum (Nuclear Atractor)
(3,-1) punkt krytyczny wiązania
(Bond Critical Point)
(3,+1) punkt krytyczny pierścienia
(Ring Critical Point)
(3,+3) lokalne minimum (Cage Critical Point)
14. Walencyjność wiązania mierzy liczbę elektronów związaną z danym wiązaniem, a zatem i
stopień kowalencyjności. Dzięki temu metoda BVM może służyć jako dodatkowe
(komplementarne do rzędu wiązania) narzędzie do analizy własności wiązań. Walencyjność
wiązania definiujemy jako:
gdzie R0 długości wiązania o jednostkowej walencyjności (sij= 1), a b przyjmuje wartości,
zależnie od rodzaju wiązań pomiędzy 0.32 a 0.48 Å.
Walencyjność wiązania sij spełnia (w teorii) regułę sumy walencyjności mówiącą, że
walencyjność danego atomu jest równa sumie walencyjności wiązań, w których tworzeniu
atom ten uczestniczy:
Miarą odchylenia od idealnej geometrii jest różnica pomiędzy teoretyczną Vi, a
„eksperymen-talną” wartością walencyjności mierzoną dla atomu di (discrepancy index) lub
całej struktury D (global instability index).
Dodatkowo, współczynnik naprężeń d (strain factor) mówi nam o wielkości i kierunku
naprężeń działających na poszczególne wiązania
Brown, I. D. The Chemical Bond in Inorganic Chemistry:
The Bond Valence Model; Oxford University Press: Oxford, 2002.
0( )/ijR R b
ijs e
i ijj
V s
exp
i i ij
j
d V s 2
iD d
2exp
1
N
theor
i i
i
s s
N
Walencyjność wiązań
Bond Valence Model
15. Obliczenia ab initio
Model walencyjności wiązań
Struktura elektronowa:
• Struktura pasmowa
• Gęstości stanów DOS i PDOS
Całkowita gęstość
elektronowa SCF
Własności lokalne:
, 2, q(), N()
Własności globalne:
f, c, m, liczba i rodzaj CP
• walencyjności wiązań,
• naprężenia,
• niedopasowanie struktury
(lokalne i całkowite)
Topologia gęstości elektronowej
Struktura:
• Geometria
• Widma oscylacyjne
Obliczenia klasyczne (MM,MD)
Metody stosowane w badaniach in silico
16. Badania in silico
• skuterrudyty CoSb3-RhSb3
• krzemek magnezu Mg2Si
• klatraty X8C46 i X8B6C40 (X = Li,Na,Mg,Ca)
Materiały
krzemianowe
Materiały
do konwersji energii
Skład chemiczny, wiązania
struktura i właściwości
spektroskopia oscylacyjna
Skład chemiczny, wiązania
Struktura i właściwości
struktura elektronowa
właściwości transportowe
• zeolity
• geopolimery
• SiOC „czarne szkła”
26. Złożoność strukturalna zeolitów
wymaga ogromnej mocy
komputerów i nieakceptowalnych
czasów obliczeń
Złożoność strukturalna zeolitów
Wyzwania obliczeniowe
Linde Type A
Wzór chemiczny:
|Na91.78 (H2O)326.71| [Si96Al96O384]
Grupa przestrzenna: Fm-3c
Liczba atomów w komórce elementarnej
(nie licząc wodoru z H2O!): 1900
Dodatkowy problem: niecałkowite obsadzenia
niektórych pozycji Wyckoffa przez
kationy nietetraedryczne!
31. sg 226 Fm-3c; 7(664) atoms sg 226 Fm-3c; 7(664) atoms
sg 200 Pm-3; 46(664) atomssg 223 Pm-3n; 23(664) atoms
LTA - Obliczenia widm oscylacyjnych
Analiza możliwości wykonania
Obliczenia dla pełnej
komórki elementarnej
(nawet dla najprostszej
struktury modelowej)
wciąż niemożliwe do
wykonania !
32. Model struktury LTA
M4X4-LTA: X =Na, K
M = Mg, Ca, Sr, Ba, Zn, Cd, Hg
Si:Al = 1:1 (LTA)
P23 (sg 195)
M8-LTA: Na8Si18Al6O48S
M = Li, Na, K, Rb, Cs, Ag, Cu
Si:Al = 3:1 (jak w ZK-21)
R-3 (sg 148)
33. M4X4-LTA
model dla mieszanych kationów
Mostki Al-O-Al oraz Si-O-Si
(reguła Löwensteina)
Model M8-LTA model
dla kationów metali alkalicznych
siarka kompensująca ładunek komórki
Model struktury LTA
42. Po lewej: modele strukturalne 5 podstawowych oligomerów po optymalizacji geometrii
metodami ab initio. Po prawej: 5 oligomerów zbudowanych z dwóch oligomerów
podstawowych (Al, Si, Na – odpowiednio kolory szary, beżowy i fioletowy).
Geopolimery
43. Modele strukturalne (ok. 200 atomów) wybranych klasterów o różnym stosunku Si:Al
Geopolimery
Podejście top -down
46. …
Pierwszorzędowe jednostki strukturalne
primary building units
Drugorzędowe jednostki strukturalne
secondary building units
Struktura amorficzna SiOC
SiOC – silicon oxycarbide („czarne szkła”)
47. Modelowanie struktury
metoda bottom-up
’pop’ first structure from list
START
STOP
Input list of simple
segments
terminated with
O-H bonds
’pop’ random structure from list
connect to current system
• activate random O-H bonds
• adjust in (φ1, θ, φ2) space via
max. atom pair distance sum
check for possible condensation (1)
• removal of neighbouring O-H bonds
• -O- bridge insertion
GULP geometry optimization
Is structures list empty?
Final condensation
Output structure
Y
Y
Y
N
N
N
Model izolowanego układu do
100 tetraedrów [SiO4]
oraz tworzenia warstwy na powierzchni
49. Efekt Peltiera:
wydzielanie lub pochłanianie energii
pod wpływem przepływu prądu
elektrycznego przez złącze.
Zjawisko Seebecka :
powstawanie siły elektromotorycznej
w obwodzie zawierającym dwa metale
lub półprzewodniki gdy ich złącza
znajdują się w różnych temperaturach
Efekty termoelektryczne
ABV
T
a
AB
dQ
I
dt
P N P N
Power Generation Mode Cooling Mode
Heat Sink Heat Rejection
Active Cooling
I I
Heat Source
termoelement Moduł TE
50. a - współczynnik Seebecka
*
2/32 2
2
8
3 3
B
T
n
m
k
eh
a
n - koncentracja nośników
m* - masa efektywna nośników
μ - ruchliwość nośników
- czas rozpraszania
σ – przewodnictwo elektryczne
2
*
1 e
n
m
e n
κ – przewodnictwo cieplne
e lκ κ κ
Materiały termoelektryczne
Wpływ koncentracji nośników
Modyfikacja
koncentracji nośników
(carrier concentration
tuning)
Modyfikacja struktury
pasmowej
(Band Structure
Engineering)
2
*e
e
κ L T ne L
m
T Tn L
Wpływ temperatury
2
; e LZT T
a
51. Trzy sposoby:
Zmniejszenie składowej sieciowej przewodnictwa cieplnego:
fonony
większa komórka elementarna, cięższe atomy
skrócenie średniej drogi swobodnej fononów - wzrost nieporządku lokalnego
Zwiększenie ruchliwości nośników:
nowe materiały o wiązaniach kowalencyjnych
heterostruktury (fizyczna separacja nośników od centrów rozpraszania)
Zwiększenie termosiły (wsp. Seebecka)
wzrost masy efektywnej nośników, wzrost degeneracji pasm NV:
Nowe struktury pasmowe/ mechanizmy rozpraszania
Jak można zwiększyć parametr ZT
Successful strategies for good TEM, Snyder et al.
2
* * 3
band Vm m N
ZT a struktura elektronowa
* *
3/2
*
( 0.5)
max
x y
z r
latt
m m
T
m
Z e
k
- degeneracja pasma
duże towarzyszy
(a)wysokiej symetrii lub
(b) Ekstrema pasm poza punktami
o wysokiej symetrii
m* - anizotropia
2
; e LZT T
a
60. Mg2Si
Lokalizacja domieszek w strukturze
Mg (8c)
Si (4a)
luka (4b)
Mg2Si1-xDx (4a)
Mg2SiDx (4b)
D: Bi, Li
Mg2-xDxSi (8c)
Struktura kubiczna
(antyfluorytu)
F m-3m; a=6.391 [Å]
61. Widma FIR dla Mg2Si1-xBix.
Widma Ramana dla Mg2Si1-xBix.
Mg2Si domieszkowane bizmutem
widma IR i Ramana
62. -10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
Mg total
Si total
Bi total
total
DOS[states/eV]
Energy (E-EF
) [eV]
Mg63
BiSi32
EF
b)
-10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
EF
Mg total
Si total
Bi total
total
Mg64
Si32
Bi
DOS[states/eV]
Energy (E-EF
) [eV]
c)
-10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
EF
Mg63
Si31
Bi
Mg total
Si total
Bi total
total
DOS[states/eV]
Energy (E-EF
) [eV]
d)
-10 -5 0 5 10 15
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
EF
Mg2
Si
Mg total
Si total
total
DOS[states/eV]
Energy (E-EF
) [eV]
a)
Gęstości stanów dla (a) Mg2Si, (b) Mg63BiSi32, (c) Mg64Si32Bi, (d) Mg63Si31Bi
Struktura elektronowa
66. 25 30 35 40 45
2 [deg]
Intensity[a.u.]
(200)
(111)
(220)
(111) Si -
Mg2-xLixSi
(200) MgO -
x = 0
x = 0.05
x = 0.1
x = 0.2
x = 0.3
x = 0.4
x = 0.5
Mg2Si domieszkowane litem
XRD
Wyniki analizy fazowej dla Mg2-xLixSi
Dependence of lattice constant a of nominal amount of Li
0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8
0.6352
0.6360
0.6368
0.6376
0.6384
y=0.0048x+0.6352
Mg2-x
Lix
Si
Latticeconstanta[nm]
x
Mg2+ (71 pm)
Li+ (73 pm)
67. -10 -5 0 5 10 15
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
EF
Mg2
SiMg total
Si total
total
DOS[states/eV]
Energy (E-EF
) [eV]
a)
-10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
b)
Mg64
Si32
Li (4b)Mg total
Si total
Li total
total
DOS[states/eV]
Energy(E-EF
) [eV]
EF
-10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
Mg63
LiSi32
(8c)Mg total
Si total
Li total
total
DOS[states/eV]
Energy(E-EF
) [eV]
EF
c)
-10 -5 0 5 10 15
0
25
50
75
100
125
d)
Mg total
Si total
Li total
total
DOS[states/eV]
Energy(E-EF
) [eV]
Mg64
Si31
Li (4a)
EF
Gęstości stanów dla (a) Mg2Si, (b) Mg63LiSi32, (c) Mg64Si32Li, (d) Mg63Si31Li
Struktura elektronowa
69. x x ••••
Mg Mg Si Si(2 ) Mg Li Si (2 ) Mg Li' (1 ) Si V Si
4 4 4
y y y
y y y y
Mg2-yLiySi
Mg2Si(1-y)Liy:
x x ''
Mg Si Si Mg
•••3 3 3
2 Mg (1 ) Si Li (2 ) Mg (1 ) Si Li V Mg
2 2 2
y y y y y y y
Mg2SiLiy:
x x ''
Mg Si Mg
•
2 Mg Si Li (2 ) Mg Si Li V Mg
2 2 2
i
y y y
y y
Reakcje defektów
notacja Krögera–Vinka
73. Struktura elektronowa
DOS
Eg
PBESol
GGA
mBJ
C46 3.54 4.90
Li8C46 2.55 3.44
Li8B6C40 1.87 2.82
Na8C46 3.40 4.25
Na8B6C40 2.99 4.01
Mg8C46 0.14 0.58
Mg8B6C40 1.94 2.65
Ca8C46 0.65 0.92
Ca8B6C40 0.68 1.09
4.01 eV
0.41 eV
2.65 eV
1.09 eV
4.25 eV
3.44 eV
0.92 eV
4.90 eV
2.82 eV 0.80 eV
1.78 eV
0.66 eV
1.14 eV
-1.32 eV
0.58 eV
2.25 eV
1.41 eV
81. Badania in silico:
• pozwalają na wyjaśnienie wielu, często nieoczekiwanych wyników
eksperymentalnych.
• Umożliwiają zrozumienie relacji pomiędzy składem chemicznym,
strukturą krystaliczną, a właściwościami fizykochemicznymi.
• Dostarczają narzędzi do badania ważnych aplikacyjnie i poznawczo
materiałów, w sposób często niedostępny metodom eksperymen-
talnym, stanowiąc tym samym ich niezastąpione uzupełnienie.
• Mimo wciąż dużych ograniczeń związanych ze złożonością
strukturalną materiałów, metody in silico stanowią obecnie
niezwykle ważny element współczesnych badań w inżynierii
materiałowej, a ich rola i znaczenie bardzo szybko rośnie.
Podsumowanie