1. PXI ベーステストシステムで半導体の特性評価・製造テストのコストを低減 1 / 3
2014 年 8 月 19 日
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社
2014年8月19日 日本NI、PXIベーステストシステムで半導体の特性評価・製造テストのコストを低減
モジュール式計測器とシステム開発ソフトウェアを組み合わせたオープンなプラットフォームにより
データの相関分析にかかる時間を短縮。短期での製品の市場投入を実現。
ニュースハイライト
 最先端の PXI 計測器をベースとしているため、RF/ミックスドシグナルテスト
など、従来の ATE で対応できるテスト範囲を超えてしまうような最新の半導
体テクノロジのテスト要件にも対応できます。
 3 種類全てで共通のソフトウェア、計測器、相互接続構造を提供することで、
ピン数や設置するサイト数など様々な要件に合わせることが可能なほか、シ
ステムを拡張することにより、特性評価から製造テストに至るあらゆる段階に
対応することが可能となり、コストの最適化、データの相関分析にかかる時間の短縮が図れます。
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（本社：東京都港区、代表取締役：池田 亮太、以下 日本 NI）は 8 月 19
日、PXI をベースとした自動テストシステムとして新たに「NI 半導体テストシステム（STS：Semiconductor Test System）」
を発表いたします。このシステムは、PXI モジュール式計測器とシステム開発ソフトウェア「NI LabVIEW（注 1）」、テ
スト管理ソフトウェア「NI TestStand（注 2）」で構成されており、RF やミックスドシグナル信号を伴う半導体製造テストに
適した特長を豊富に備えています（例：カスタマイズ可能なオペレータインタフェース、一体型のハンドラとプローバ、
ピンチャンネルマッピングを使ったデバイス上のプログラミング、テストデータの標準フォーマットレポート作成、マル
チサイトサポートなど）。
スマートフォンやタブレット、モノのインターネットの普及が進む中、半導体デバイスに搭載されるアナログ回路や RF
回路の量はますます増大しています。このようなデバイスをテストするにあたり、従来型の半導体自動テスト装置
（ATE：Automated Test Equipment）では、対応が困難となってきました。従来型の ATE では、仕様の変更がある度
にテスト費用・時間は増大し、都度ベンダーの手を借りなければなりませんが、今回発表する NI 半導体テストシステ
ムは、オープンなアーキテクチャを採っているため、ユーザ側でシステム構成を選択し、システムコストの最適化を図
ることが可能です。
アナログ/RF 重視の IC（例：RFPA、MEMS ジャイロ/加速度計、PMIC など）向けに開発された NI 半導体テストシス
テムですが、このシステムをリリースに先立って試用したリードユーザは、従来の半導体自動テスト装置（ATE：
Automated Test Equipment）と比較して、製造コストの削減とスループットの向上を実感しています。また、特性評価
と製造の両段階で同じハードウェアおよびソフトウェアツールが使用できるというメリットも増えました。これにより、デ
ータの相関分析にかかる時間と市場投入までの時間が短縮されます。また、この NI 半導体テストシステムは全体が

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ケースですっぽり覆われており、必要なソフトウェアは全てインストール済み、標準の接続機能、ドッキング機構を備
えているため、半導体製造テストセルに即座に組み入れることができます。
Infineon Technologies 社 車両電子部品 シニアデザインおよびアプリケーションエンジニア Dr. Hans-Peter
Kreuter 氏のコメント
「集積回路の複雑性が急激に高まるなか、設計検証から製造テストに至るまで、様々なアプリケーションのテスト範
囲に対応する、コスト効率の良い ATE がますます重視されてきています。ミックスドシグナルテストについて言えば、
PXI ベースの STS は、テスト範囲を最適化し、コストを大変低く抑えながら、従来の ATE に通常見られる性能を上回
ります。」
Integrated Device Technology（IDT）社テストディレクタ Glen Peer 氏のコメント
「多くのテストシステムが時代遅れになり、新しいテスト要件を満たすことが不可能になってきたため、従来の ATE シ
ステムを一新し、費用をかけた大規模なテストフロアの設備改革が必要となっています。ただし、STS が持つオープ
ンな PXI アーキテクチャの特性により、旧式のシステムを廃棄するのではなく、当初の投資を維持しつつ、機能の拡
張を図ることができます。STS はテストプラットフォームを再構成・拡張するのに必要な柔軟性を備えつつ、高まる性
能のニーズを満たしてくれます。」
STS シリーズには、T1、T2、T4 と名付けられた 3 種類のモデルがあり、それぞれに PXI シャーシが 1 台、2 台、4 台
格納されています。全ての STS モデルで共通のソフトウェア、計測器、相互接続構造を異なるサイズで提供すること
によって、ピン数およびサイト数の様々な要件に合わせることが可能です。さらに、STS の拡張性によって特性評価
段階から製造段階への実装が可能になり、コストが最適化されるだけでなく、データの相関付けが大幅に簡素化さ
れて、市場投入までの時間がさらに短縮されます。
NI半導体テストシステムの詳細については、www.ni.com/stsをご覧ください。
（注1） NI LabVIEW
計測/テスト/制御システムの開発に使用されているシステム開発ソフトウェア。テキスト行ではなくドラッグア
ンドドロップ式の関数ブロックでプログラミングでき、直感的なフローチャート表現によりコードの開発や管理、
解釈が簡単に行える。
（注2） NI TestStand
自動テスト、検証システムの開発・実行・実装用のテスト管理ソフトウェア。複数のプログラミング言語で書かれたコードモジ
ュールを取り込んだテストシーケンスを作成することができる。実行フローやレポート作成、データベースロギング、他のエ
ンタープライズシステムとの接続方法をカスタマイズすることができる。
日本ナショナルインスツルメンツについて
ナショナルインスツルメンツ（NI）は、1976年以来、柔軟で優れたテクノロジソリューションを提供し、世界中のエンジ
ニアの生産性向上とイノベーションを後押ししてきました。ハードウェアとソフトウェアを統合したNIのプラットフォーム
は、ヘルスケアや自動車、家庭用電化製品から素粒子物理学にいたるまで、あらゆる業界で活用され、社会の発展
に貢献しています。日本ナショナルインスツルメンツ（japan.ni.com）は、NIの日本法人です。

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本リリースのURL:
http://www.ni.com/newsroom/release/ni-lowers-semiconductor-ate-cost-with-pxi-based-test-systems/ja
【本リリースに関するお問い合わせ先】
一般読者向け
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社
プロダクト事業部 営業部
TEL: 0120-527196 / FAX: 03-5472-2977
E-Mail: salesjapan@ni.com
National Instruments、NI、ni.com、NI TestStand、LabVIEW は National Instruments の登録商標です。