SlideShare a Scribd company logo
1 of 12
ACOUSTIC
MICROSCOPY
Dicky A. (2613101005)
Andriawan (NIM 2613101030)
Introduction
Acoustic Microscopy adalah istilah yang umumnya di
aplikasikan untuk frekuensi tinggi, teknik inspeksi ultrasonic
frekuensi tinggi yang menghasilkan fitur gambar pada
bagian bawah permukaan sampel. Karena energi
ultrasonic memerlukan energi berkelanjutan pada material
untuk merambat. Cacat bagian dalam seperti rongga,
inklusi, dan retak yang menggangu transmisi atau refleksi
dari sinyal ultrasound.
Methods of Acoustic Microscopy
 Scanning Laser Acoustic Microscopy
 C-Mode Scanning Microscopy
 Scanning Acoustic Microscopy
Scanning Laser Acoustic Microscopy
Sebuah gelombang kontinu (CW) ultrasound pada frekuensi tinggi
hingga beberapa megahertz yg dihasilkan oleh transduser piezoelektrik
terletak di bawah sampel. Karena ultrasound ini tidak bisa berjanan
melalui udara (menjadikannya sebagai alat yang sangat baik untuk
crack), sebuah couplant fluida digunakan untuk membawa ultrasound
untuk sampel
100-MHz SLAM acoustic micrograph of an alumina panel section that
contains a hole showing a crack with very high contrast
C-Mode Scanning Microscopy
C-mode pemindaian mikroskop akustik
terutama pulsa-gema (jenis refleksi)
mikroskop yang menghasilkan gambar oleh
mekanis scanning transduser dalam pola raster
atas sampel. Sebuah fokus spot ultrasound
yang dihasilkan oleh perakitan lensa akustik
pada frekuensi biasanya berkisar antara 10
sampai 100 MHz
Use of C-SAM to Detect Internal Porosity
Defects in an Alumina Ceramic
An acoustic microscope scanning at 50 MHz
Scanning Acoustic Microscopy
Mikroskop akustik terutama refleksi-jenis
mikroskop yang menghasilkan gambar resolusi
sangat tinggi di permukaan dan dekat
permukaan fitur sampel dengan mekanis
scanning transduser dalam pola raster dari
sampel. Berbeda dengan C- SAM, tempat lebih
tinggi terfokus ultrasound yang dihasilkan oleh
sudut akustik perakitan lensa yang sangat lebar
di frekuensi biasanya berkisar 100-2000 MHz
SAM can be used for nondestructive testing as well as
for metallographic analysis
SAM surface mode image at 400 MHz of a manganese-zinc ferrite
sample that was polished metallurgically but not chemically etched.
The elastic property differences between the various phases of this
material are responsible for the contrast shown in this image.
Comparison of Methods to Optimize
Use of Techniques
Parameter SLAM C-SAM SAM
Primary use Nondestructive
testing and
materials
characterization
Nondestructive
testing and
materials
characterization
Materials
characterization
and
research
Frequency range 10-500 MHz 10-100 MHz 100 MHz-2 GHz
Imaging speed True real-time
imaging: 30
frames/s; fastest
of all acoustic
microscopes
10 s to 30 min per
frame; varies
greatly
among
manufacturers
10 to 20 s/frame
Acoustic microscopy
Acoustic microscopy

More Related Content

Similar to Acoustic microscopy

Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptxSpektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
rahmat267549
 
Gelombang elektromagnetik-x21
Gelombang elektromagnetik-x21Gelombang elektromagnetik-x21
Gelombang elektromagnetik-x21
PT. SASA
 
Eva musifa anor1 copy
Eva musifa anor1   copyEva musifa anor1   copy
Eva musifa anor1 copy
Eva Musifa
 
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptx
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptxInstrumentasi Spektroskopi IR.pptx
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptx
ilyastaufik
 
Ppt spektrofotometri uv vis
Ppt spektrofotometri uv visPpt spektrofotometri uv vis
Ppt spektrofotometri uv vis
Widya Wirandika
 
Gelombang elektromagnetik
Gelombang elektromagnetikGelombang elektromagnetik
Gelombang elektromagnetik
Denz Kyodensu
 

Similar to Acoustic microscopy (20)

modul pengujian material metode ut
modul pengujian material metode utmodul pengujian material metode ut
modul pengujian material metode ut
 
Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptxSpektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
Spektrofotometer serapan atom (AAS).pptx
 
Fisika sekolah 3
Fisika sekolah 3Fisika sekolah 3
Fisika sekolah 3
 
Gelombang elektromagnetik-x21
Gelombang elektromagnetik-x21Gelombang elektromagnetik-x21
Gelombang elektromagnetik-x21
 
gelombang-elektromagnetik-x21.ppt
gelombang-elektromagnetik-x21.pptgelombang-elektromagnetik-x21.ppt
gelombang-elektromagnetik-x21.ppt
 
Gelombang Elektromagnetik
Gelombang ElektromagnetikGelombang Elektromagnetik
Gelombang Elektromagnetik
 
Presentasi JNSP GEM
Presentasi JNSP GEMPresentasi JNSP GEM
Presentasi JNSP GEM
 
Eva musifa anor1 copy
Eva musifa anor1   copyEva musifa anor1   copy
Eva musifa anor1 copy
 
Laboratorium instrumentasi kimia(1)
Laboratorium instrumentasi kimia(1)Laboratorium instrumentasi kimia(1)
Laboratorium instrumentasi kimia(1)
 
437072886 spektrofotometri-infra-red
437072886 spektrofotometri-infra-red437072886 spektrofotometri-infra-red
437072886 spektrofotometri-infra-red
 
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptx
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptxInstrumentasi Spektroskopi IR.pptx
Instrumentasi Spektroskopi IR.pptx
 
gelombang-elektromagnetik-x21 (1).ppt
gelombang-elektromagnetik-x21 (1).pptgelombang-elektromagnetik-x21 (1).ppt
gelombang-elektromagnetik-x21 (1).ppt
 
1h last exam
1h last exam1h last exam
1h last exam
 
UV_1.ppt
UV_1.pptUV_1.ppt
UV_1.ppt
 
A1 Gel Elektromagnetik Syafira
A1 Gel Elektromagnetik SyafiraA1 Gel Elektromagnetik Syafira
A1 Gel Elektromagnetik Syafira
 
Spektroskopi NMR
Spektroskopi NMRSpektroskopi NMR
Spektroskopi NMR
 
ppt. Ultrasonic
ppt. Ultrasonicppt. Ultrasonic
ppt. Ultrasonic
 
Ppt spektrofotometri uv vis
Ppt spektrofotometri uv visPpt spektrofotometri uv vis
Ppt spektrofotometri uv vis
 
Gelombang elektromagnetik
Gelombang elektromagnetikGelombang elektromagnetik
Gelombang elektromagnetik
 
Slide presentation ultrasonic machining
Slide presentation ultrasonic machiningSlide presentation ultrasonic machining
Slide presentation ultrasonic machining
 

Acoustic microscopy

  • 2. Introduction Acoustic Microscopy adalah istilah yang umumnya di aplikasikan untuk frekuensi tinggi, teknik inspeksi ultrasonic frekuensi tinggi yang menghasilkan fitur gambar pada bagian bawah permukaan sampel. Karena energi ultrasonic memerlukan energi berkelanjutan pada material untuk merambat. Cacat bagian dalam seperti rongga, inklusi, dan retak yang menggangu transmisi atau refleksi dari sinyal ultrasound.
  • 3. Methods of Acoustic Microscopy  Scanning Laser Acoustic Microscopy  C-Mode Scanning Microscopy  Scanning Acoustic Microscopy
  • 4. Scanning Laser Acoustic Microscopy Sebuah gelombang kontinu (CW) ultrasound pada frekuensi tinggi hingga beberapa megahertz yg dihasilkan oleh transduser piezoelektrik terletak di bawah sampel. Karena ultrasound ini tidak bisa berjanan melalui udara (menjadikannya sebagai alat yang sangat baik untuk crack), sebuah couplant fluida digunakan untuk membawa ultrasound untuk sampel
  • 5. 100-MHz SLAM acoustic micrograph of an alumina panel section that contains a hole showing a crack with very high contrast
  • 6. C-Mode Scanning Microscopy C-mode pemindaian mikroskop akustik terutama pulsa-gema (jenis refleksi) mikroskop yang menghasilkan gambar oleh mekanis scanning transduser dalam pola raster atas sampel. Sebuah fokus spot ultrasound yang dihasilkan oleh perakitan lensa akustik pada frekuensi biasanya berkisar antara 10 sampai 100 MHz
  • 7. Use of C-SAM to Detect Internal Porosity Defects in an Alumina Ceramic An acoustic microscope scanning at 50 MHz
  • 8. Scanning Acoustic Microscopy Mikroskop akustik terutama refleksi-jenis mikroskop yang menghasilkan gambar resolusi sangat tinggi di permukaan dan dekat permukaan fitur sampel dengan mekanis scanning transduser dalam pola raster dari sampel. Berbeda dengan C- SAM, tempat lebih tinggi terfokus ultrasound yang dihasilkan oleh sudut akustik perakitan lensa yang sangat lebar di frekuensi biasanya berkisar 100-2000 MHz
  • 9. SAM can be used for nondestructive testing as well as for metallographic analysis SAM surface mode image at 400 MHz of a manganese-zinc ferrite sample that was polished metallurgically but not chemically etched. The elastic property differences between the various phases of this material are responsible for the contrast shown in this image.
  • 10. Comparison of Methods to Optimize Use of Techniques Parameter SLAM C-SAM SAM Primary use Nondestructive testing and materials characterization Nondestructive testing and materials characterization Materials characterization and research Frequency range 10-500 MHz 10-100 MHz 100 MHz-2 GHz Imaging speed True real-time imaging: 30 frames/s; fastest of all acoustic microscopes 10 s to 30 min per frame; varies greatly among manufacturers 10 to 20 s/frame