SlideShare a Scribd company logo
1 of 2
Download to read offline
20
0 1 2sin , ( , , , ...),d k kϕ λ= ± = (12)
колебания от отдельных щелей взаимно усиливают друг дру-
га и  наблюдаются максимумы интенсивности. Соотношение (12)
определяет положения главных максимумов интенсивности, k  –
порядок главного максимума. Измеряя параметры дифракцион-
ной картины, даваемой дифракционной решеткой, можно опреде-
лить длину волны излучения или постоянную решетки.
Описание лабораторной установки
Схема установки, на которой проводятся измерения, приведена
на рис. 3: 1 – оптическая скамья с укрепленной на ней метриче-
ской шкалой; 2 – гелий-неоновый лазер (длина волны излучения
лазера λ = 0,6328 мкм); 3 – блок питания лазера; 4 – универсаль-
ный держатель, на котором устанавливается дифракционная ре-
шетка в оправе или щель; 5 – экран с миллиметровой шкалой; 6 –
фотоприемник; 7 – цифровой вольтметр. Перемещение приемника
осуществляется с помощью винта 8.
В качестве фотоприемника в работе используется фотодиод.
Фототок i, возникающий в цепи фотодиода, пропорционален све-
товому потоку Φ, падающему на него, i = γΦ. Световой поток про-
порционален интенсивности падающей волны I, Φ  =  SI. Напря-
жение на нагрузке в цепи фотодиода (Rн) пропорционально фото-
току: U = Rнi, или, используя предыдущие соотношения, получим
U = RнγSI; Rн, γ и S – постоянные для данной системы величины.
Поэтому измеряемое напряжение пропорционально интенсивно-
сти света, падающего на фотоприемник.
1
4
73
2
5
6
8
Рис. 3
vk.com/club152685050 | vk.com/id446425943
ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 1 | Механика. Колебания и волны.
СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q
• Машина Атвуда
• Маятник Максвелла
• Математический и оборотный маятники
• Крутильный маятник
• Маятник Обербека
• Наклонный маятник
• Столкновение шаров
• Гироскоп
• Определение скорости звука в воздухе
• Определение коэффициента вязкости воздуха
• Определение показателя адиабаты для воздуха
• Определение электрического сопротивления
ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 2 | Волновая оптика. |
СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q
• Определение электроемкости конденсатора с помощью
баллистического
гальванометра
• Изучение резонанса в электрическом колебательном контуре
• Определение горизонтальной составляющей напряженности
магнитного поля земли
• Исследование магнитного поля соленоида
• Изучение процессов установления тока при разрядке и зарядке
конденсатора
• Определение периода релаксационных колебаний при помощи
электронного
осциллографа
• Бипризма Френеля
• Кольца Ньютона
• Характеристики призмы и дифракционной решетки

More Related Content

Similar to Suai 18

федотов дмитрий (наука)
федотов дмитрий (наука)федотов дмитрий (наука)
федотов дмитрий (наука)thiscoldreality
 
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...ITMO University
 
пример решения
пример решенияпример решения
пример решенияZhilyaeva
 
249.электричество лабораторный практикум часть 1
249.электричество  лабораторный практикум часть 1249.электричество  лабораторный практикум часть 1
249.электричество лабораторный практикум часть 1ivanov15666688
 
лекция 16 мешков
лекция 16 мешковлекция 16 мешков
лекция 16 мешковGorelkin Petr
 
билеты лаб и зад
билеты лаб и задбилеты лаб и зад
билеты лаб и задvvlisina
 
пример решения
пример решенияпример решения
пример решенияZhilyaeva
 
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...Иван Иванов
 
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРААЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРАITMO University
 
Hioki pw3198 rus
Hioki pw3198 rusHioki pw3198 rus
Hioki pw3198 rushiokirus
 
Hioki pw3198
Hioki pw3198Hioki pw3198
Hioki pw3198hiokirus
 
лекция по обработка данных на 27 марта
лекция по обработка данных на 27 марталекция по обработка данных на 27 марта
лекция по обработка данных на 27 мартаGorelkin Petr
 
фельдштейн колосов - 2 доклада
фельдштейн колосов - 2 докладафельдштейн колосов - 2 доклада
фельдштейн колосов - 2 докладаtrenders
 

Similar to Suai 18 (20)

Suai 21
Suai 21Suai 21
Suai 21
 
Suai 34
Suai 34Suai 34
Suai 34
 
федотов дмитрий (наука)
федотов дмитрий (наука)федотов дмитрий (наука)
федотов дмитрий (наука)
 
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЯГОВОГО УСИЛИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ВИБРОВОЗБУДИ...
 
пример решения
пример решенияпример решения
пример решения
 
Suai 36
Suai 36Suai 36
Suai 36
 
249.электричество лабораторный практикум часть 1
249.электричество  лабораторный практикум часть 1249.электричество  лабораторный практикум часть 1
249.электричество лабораторный практикум часть 1
 
лекция 16 мешков
лекция 16 мешковлекция 16 мешков
лекция 16 мешков
 
билеты лаб и зад
билеты лаб и задбилеты лаб и зад
билеты лаб и зад
 
7198
71987198
7198
 
пример решения
пример решенияпример решения
пример решения
 
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...
спектральный анализ электрических сигналов в лабораторном практикуме курса об...
 
Suai 11
Suai  11Suai  11
Suai 11
 
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРААЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА
АЛГОРИТМИЧЕСКАЯ КОРРЕКЦИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПОРТАТИВНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА
 
Suai 29
Suai 29Suai 29
Suai 29
 
Hioki pw3198 rus
Hioki pw3198 rusHioki pw3198 rus
Hioki pw3198 rus
 
Hioki pw3198
Hioki pw3198Hioki pw3198
Hioki pw3198
 
лекция по обработка данных на 27 марта
лекция по обработка данных на 27 марталекция по обработка данных на 27 марта
лекция по обработка данных на 27 марта
 
Suai 12
Suai  12Suai  12
Suai 12
 
фельдштейн колосов - 2 доклада
фельдштейн колосов - 2 докладафельдштейн колосов - 2 доклада
фельдштейн колосов - 2 доклада
 

More from tvoi_Suai (20)

Suai 51
Suai 51Suai 51
Suai 51
 
Suai 50
Suai 50Suai 50
Suai 50
 
Suai 49
Suai 49Suai 49
Suai 49
 
Suai 48
Suai 48Suai 48
Suai 48
 
Suai 46
Suai 46Suai 46
Suai 46
 
Suai 45
Suai 45Suai 45
Suai 45
 
Suai 44
Suai 44Suai 44
Suai 44
 
Suai 42
Suai 42Suai 42
Suai 42
 
Suai 43
Suai 43Suai 43
Suai 43
 
Suai 39
Suai 39Suai 39
Suai 39
 
Suai 38
Suai 38Suai 38
Suai 38
 
Suai 37
Suai 37Suai 37
Suai 37
 
Suai 35
Suai 35Suai 35
Suai 35
 
Suai 33
Suai 33Suai 33
Suai 33
 
Suai 30
Suai 30Suai 30
Suai 30
 
Suai 28
Suai 28Suai 28
Suai 28
 
Suai 27
Suai 27Suai 27
Suai 27
 
Suai 26
Suai 26Suai 26
Suai 26
 
Suai 25
Suai 25Suai 25
Suai 25
 
Suai 23
Suai 23Suai 23
Suai 23
 

Suai 18

  • 1. 20 0 1 2sin , ( , , , ...),d k kϕ λ= ± = (12) колебания от отдельных щелей взаимно усиливают друг дру- га и  наблюдаются максимумы интенсивности. Соотношение (12) определяет положения главных максимумов интенсивности, k  – порядок главного максимума. Измеряя параметры дифракцион- ной картины, даваемой дифракционной решеткой, можно опреде- лить длину волны излучения или постоянную решетки. Описание лабораторной установки Схема установки, на которой проводятся измерения, приведена на рис. 3: 1 – оптическая скамья с укрепленной на ней метриче- ской шкалой; 2 – гелий-неоновый лазер (длина волны излучения лазера λ = 0,6328 мкм); 3 – блок питания лазера; 4 – универсаль- ный держатель, на котором устанавливается дифракционная ре- шетка в оправе или щель; 5 – экран с миллиметровой шкалой; 6 – фотоприемник; 7 – цифровой вольтметр. Перемещение приемника осуществляется с помощью винта 8. В качестве фотоприемника в работе используется фотодиод. Фототок i, возникающий в цепи фотодиода, пропорционален све- товому потоку Φ, падающему на него, i = γΦ. Световой поток про- порционален интенсивности падающей волны I, Φ  =  SI. Напря- жение на нагрузке в цепи фотодиода (Rн) пропорционально фото- току: U = Rнi, или, используя предыдущие соотношения, получим U = RнγSI; Rн, γ и S – постоянные для данной системы величины. Поэтому измеряемое напряжение пропорционально интенсивно- сти света, падающего на фотоприемник. 1 4 73 2 5 6 8 Рис. 3 vk.com/club152685050 | vk.com/id446425943
  • 2. ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 1 | Механика. Колебания и волны. СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q • Машина Атвуда • Маятник Максвелла • Математический и оборотный маятники • Крутильный маятник • Маятник Обербека • Наклонный маятник • Столкновение шаров • Гироскоп • Определение скорости звука в воздухе • Определение коэффициента вязкости воздуха • Определение показателя адиабаты для воздуха • Определение электрического сопротивления ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 2 | Волновая оптика. | СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q • Определение электроемкости конденсатора с помощью баллистического гальванометра • Изучение резонанса в электрическом колебательном контуре • Определение горизонтальной составляющей напряженности магнитного поля земли • Исследование магнитного поля соленоида • Изучение процессов установления тока при разрядке и зарядке конденсатора • Определение периода релаксационных колебаний при помощи электронного осциллографа • Бипризма Френеля • Кольца Ньютона • Характеристики призмы и дифракционной решетки