SlideShare a Scribd company logo
1 of 2
Download to read offline
14
ние микроскопа (цена деления 1 мм), и по шкале барабана микро-
метрического винта.
Порядок выполнения работы и требования к отчету
1. Включают источник света. Расположив глаз над окуляром
Ок микроскопа, добиваются четкого изображения перекрестия пу-
тем медленного перемещения окуляра. Увеличенное изображение
интерференционных колец должно быть видно в фокальной пло-
скости окуляра, если в поле зрения микроскопа попадает область
вблизи точки касания линзы Л и пластинки П. Четкости картины
добиваются путем фокусировки микроскопа на верхнюю поверх-
ность отражающей пластинки П. Проверяют положение перекре-
стия в окуляре микроскопа относительно интерференционной кар-
тины. При горизонтальном перемещении микроскопа оно должно
двигаться вдоль диаметральной линии колец.
2. Перекрестие нитей в окуляре устанавливают с какой-либо
стороны от центра интерференционной картины сначала на 10-е
темное кольцо. Снимают отсчет по шкале и барабану микроскопа.
Затем крест нитей перемещают на середину 9-го, 8-го, 7-го и т.д.
темных колец. При этом для каждого кольца делается отсчет, ко-
торый заносится в соответствующую графу (табл. 1).
После того, как сделаны отсчеты для всех колец по одну сторо-
ну от центра интерференционной картины, перекрестие нитей на-
водится последовательно на 1-е, … 10-е кольца с другой стороны
от центрального темного пятна. Для каждого из колец делаются
отсчеты по шкале и барабану, результаты измерений заносятся
в табл. 1.
3. Определяют диаметры колец D. Диаметр кольца равен раз-
ности отсчетов для одного и того же кольца, сделанных с правой
и с левой сторон от центрального кольца. Вычисляются радиусы
колец ri = Di/2, а также rk + rm и rk − rm для различных пар колец
(k и m берут равными 10 и 5, 9 и 4, 8 и 3 и т.д.). Вычисляют радиус
кривизны линзы по формуле (6), преобразовав ее к виду
( )( )
.
( )
k m k mr r r r
R
k mλ
+ -
=
-
(7)
Длина волны излучения, выделяемого красным светофильтром,
λ = 0,66 мкм. Все результаты расчетов заносятся в табл. 1.
4. Находят среднее значение радиуса линзы ,R оценивают си-
стематическую погрешность qR.
vk.com/club152685050 | vk.com/id446425943
ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 1 | Механика. Колебания и волны.
СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q
• Машина Атвуда
• Маятник Максвелла
• Математический и оборотный маятники
• Крутильный маятник
• Маятник Обербека
• Наклонный маятник
• Столкновение шаров
• Гироскоп
• Определение скорости звука в воздухе
• Определение коэффициента вязкости воздуха
• Определение показателя адиабаты для воздуха
• Определение электрического сопротивления
ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 2 | Волновая оптика. |
СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q
• Определение электроемкости конденсатора с помощью
баллистического
гальванометра
• Изучение резонанса в электрическом колебательном контуре
• Определение горизонтальной составляющей напряженности
магнитного поля земли
• Исследование магнитного поля соленоида
• Изучение процессов установления тока при разрядке и зарядке
конденсатора
• Определение периода релаксационных колебаний при помощи
электронного
осциллографа
• Бипризма Френеля
• Кольца Ньютона
• Характеристики призмы и дифракционной решетки

More Related Content

Similar to Suai 12

конструкция сзм
конструкция сзмконструкция сзм
конструкция сзмYerin_Constantine
 
Растровая электронная микроскопия
Растровая электронная микроскопияРастровая электронная микроскопия
Растровая электронная микроскопияTengiz Sharafiev
 
5.методы исследования наноразмерных систем
5.методы исследования наноразмерных систем5.методы исследования наноразмерных систем
5.методы исследования наноразмерных системYerin_Constantine
 
Кристине
КристинеКристине
КристинеGulad Tro
 
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излучения
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излученияЛекция 1. Методы с использованием ионизирующего излучения
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излученияnizhgma.ru
 
задание8 задачи для самостоятельного решения
задание8 задачи для самостоятельного решениязадание8 задачи для самостоятельного решения
задание8 задачи для самостоятельного решенияZhanna Kazakova
 
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВ
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВКОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВ
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВITMO University
 
10.2.5. курс лекций афу
10.2.5. курс лекций афу10.2.5. курс лекций афу
10.2.5. курс лекций афуGKarina707
 
Эксперимент "Русалка"
Эксперимент "Русалка"Эксперимент "Русалка"
Эксперимент "Русалка"physicistleon
 
2.2 примеры решения задач
2.2 примеры решения задач2.2 примеры решения задач
2.2 примеры решения задачStrelkovaA
 
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПААНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПАITMO University
 

Similar to Suai 12 (20)

Suai 21
Suai 21Suai 21
Suai 21
 
конструкция сзм
конструкция сзмконструкция сзм
конструкция сзм
 
1
11
1
 
Растровая электронная микроскопия
Растровая электронная микроскопияРастровая электронная микроскопия
Растровая электронная микроскопия
 
7273
72737273
7273
 
Suai 9
Suai 9Suai 9
Suai 9
 
Suai 35
Suai 35Suai 35
Suai 35
 
5.методы исследования наноразмерных систем
5.методы исследования наноразмерных систем5.методы исследования наноразмерных систем
5.методы исследования наноразмерных систем
 
Suai 2
Suai 2Suai 2
Suai 2
 
Кристине
КристинеКристине
Кристине
 
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излучения
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излученияЛекция 1. Методы с использованием ионизирующего излучения
Лекция 1. Методы с использованием ионизирующего излучения
 
задание8 задачи для самостоятельного решения
задание8 задачи для самостоятельного решениязадание8 задачи для самостоятельного решения
задание8 задачи для самостоятельного решения
 
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВ
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВКОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВ
КОМПЛЕКТ ПЛАНАХРОМАТИЧЕСКИХ МИКРООБЪЕКТИВОВ С ПОСТОЯННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ ЗРАЧКОВ
 
10.2.5. курс лекций афу
10.2.5. курс лекций афу10.2.5. курс лекций афу
10.2.5. курс лекций афу
 
Эксперимент "Русалка"
Эксперимент "Русалка"Эксперимент "Русалка"
Эксперимент "Русалка"
 
Suai 18
Suai 18Suai 18
Suai 18
 
14
1414
14
 
2.2 примеры решения задач
2.2 примеры решения задач2.2 примеры решения задач
2.2 примеры решения задач
 
6301
63016301
6301
 
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПААНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА
АНАЛИЗ ПРОБЛЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА
 

More from tvoi_Suai (20)

Suai 51
Suai 51Suai 51
Suai 51
 
Suai 50
Suai 50Suai 50
Suai 50
 
Suai 49
Suai 49Suai 49
Suai 49
 
Suai 48
Suai 48Suai 48
Suai 48
 
Suai 46
Suai 46Suai 46
Suai 46
 
Suai 45
Suai 45Suai 45
Suai 45
 
Suai 44
Suai 44Suai 44
Suai 44
 
Suai 42
Suai 42Suai 42
Suai 42
 
Suai 43
Suai 43Suai 43
Suai 43
 
Suai 39
Suai 39Suai 39
Suai 39
 
Suai 38
Suai 38Suai 38
Suai 38
 
Suai 37
Suai 37Suai 37
Suai 37
 
Suai 33
Suai 33Suai 33
Suai 33
 
Suai 30
Suai 30Suai 30
Suai 30
 
Suai 28
Suai 28Suai 28
Suai 28
 
Suai 27
Suai 27Suai 27
Suai 27
 
Suai 26
Suai 26Suai 26
Suai 26
 
Suai 25
Suai 25Suai 25
Suai 25
 
Suai 23
Suai 23Suai 23
Suai 23
 
Suai 22
Suai 22Suai 22
Suai 22
 

Suai 12

  • 1. 14 ние микроскопа (цена деления 1 мм), и по шкале барабана микро- метрического винта. Порядок выполнения работы и требования к отчету 1. Включают источник света. Расположив глаз над окуляром Ок микроскопа, добиваются четкого изображения перекрестия пу- тем медленного перемещения окуляра. Увеличенное изображение интерференционных колец должно быть видно в фокальной пло- скости окуляра, если в поле зрения микроскопа попадает область вблизи точки касания линзы Л и пластинки П. Четкости картины добиваются путем фокусировки микроскопа на верхнюю поверх- ность отражающей пластинки П. Проверяют положение перекре- стия в окуляре микроскопа относительно интерференционной кар- тины. При горизонтальном перемещении микроскопа оно должно двигаться вдоль диаметральной линии колец. 2. Перекрестие нитей в окуляре устанавливают с какой-либо стороны от центра интерференционной картины сначала на 10-е темное кольцо. Снимают отсчет по шкале и барабану микроскопа. Затем крест нитей перемещают на середину 9-го, 8-го, 7-го и т.д. темных колец. При этом для каждого кольца делается отсчет, ко- торый заносится в соответствующую графу (табл. 1). После того, как сделаны отсчеты для всех колец по одну сторо- ну от центра интерференционной картины, перекрестие нитей на- водится последовательно на 1-е, … 10-е кольца с другой стороны от центрального темного пятна. Для каждого из колец делаются отсчеты по шкале и барабану, результаты измерений заносятся в табл. 1. 3. Определяют диаметры колец D. Диаметр кольца равен раз- ности отсчетов для одного и того же кольца, сделанных с правой и с левой сторон от центрального кольца. Вычисляются радиусы колец ri = Di/2, а также rk + rm и rk − rm для различных пар колец (k и m берут равными 10 и 5, 9 и 4, 8 и 3 и т.д.). Вычисляют радиус кривизны линзы по формуле (6), преобразовав ее к виду ( )( ) . ( ) k m k mr r r r R k mλ + - = - (7) Длина волны излучения, выделяемого красным светофильтром, λ = 0,66 мкм. Все результаты расчетов заносятся в табл. 1. 4. Находят среднее значение радиуса линзы ,R оценивают си- стематическую погрешность qR. vk.com/club152685050 | vk.com/id446425943
  • 2. ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 1 | Механика. Колебания и волны. СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q • Машина Атвуда • Маятник Максвелла • Математический и оборотный маятники • Крутильный маятник • Маятник Обербека • Наклонный маятник • Столкновение шаров • Гироскоп • Определение скорости звука в воздухе • Определение коэффициента вязкости воздуха • Определение показателя адиабаты для воздуха • Определение электрического сопротивления ГУАП ФИЗИКА ЧАСТЬ 2 | Волновая оптика. | СКАЧАТЬ https://yadi.sk/i/WadKHxm3SkM83Q • Определение электроемкости конденсатора с помощью баллистического гальванометра • Изучение резонанса в электрическом колебательном контуре • Определение горизонтальной составляющей напряженности магнитного поля земли • Исследование магнитного поля соленоида • Изучение процессов установления тока при разрядке и зарядке конденсатора • Определение периода релаксационных колебаний при помощи электронного осциллографа • Бипризма Френеля • Кольца Ньютона • Характеристики призмы и дифракционной решетки