1. ลักษณะของฟันสึกเหตุบดเคี้ยวในเคลือบฟันมนุษย์โดย ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกราด Scanning electron microscope characterization of attrition in human dental enamel รายงานวิจัย

2. คณะผู้ดำเนินงานวิจัย นศ . ทพ . กนกขวัญ พิพิธสมบัติ 5004001 นศ . ทพ . ภาณุวัฒน์ ตันประสาท 5004087 นศ . ทพ . มุนีเดช สุวัตถิพงศ์ 5004092 นศ . ทพ . สุขุม ประวาลพฤกษ์กุล 5004100 ผู้ช่วยศาสตราจารย์ รัฐพงษ์ วรวงศ์วสุ ภาควิชาทันตพยาธิวิทยา คณะทันตแพทยศาสตร์มหาวิทยาลัยมหิดล อาจารย์ที่ปรึกษางานวิจัย

3. ฟันสึกเหตุบดเคี้ยว Attrition

4. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกราด

5. วิธีดำเนินงานวิจัย

13. ผลการศึกษา

18. บริเวณปกติ กำลังขยาย 300, 500, 1000 เท่า

19. บริเวณที่สึกเหตุบดเคี้ยว กำลังขยาย 300, 500, 1000 เท่า

20. บริเวณปกติ และสึกเหตุบดเคี้ยว กำลังขยาย 500, 1000 เท่า

23. Thank You for your attention

24. ผลงานวิจัยที่เกี่ยวข้อง และเอกสารอ้างอิง

31. การวิจัยนี้จะศึกษาลักษณะผิวของฟันบริเวณที่สึกเหตุบดเคี้ยวโดยเปรียบเทียบกับบริเวณที่ไม่สึกในฟันซี่เดียวกันโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกราด (scanning electron microscope, SEM) ฟันที่เลือกใช้ในการศึกษาครั้งนี้ คือ ฟันกรามล่างของผู้ป่วยที่มีอายุ 20-60 ปี เพราะเป็นฟันที่ได้รับแรงบดเคี้ยวมากจึงทำให้เกิดการสึกเหตุบดเคี้ยวได้มาก

32. เพื่อศึกษาลักษณะโครงสร้าง 3 มิติของเคลือบฟันและเนื้อฟันที่สึกเหตุบดเคี้ยวด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกราด Observational study