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デバイスモデリングセミナー(ダイオードモデル編)(2013年2月15日開催)
体験学習を通じて、ダイオードのスパイスモデルの作成方法及びスパイスモデルの評価方法を習得します。
半導体部品の基本中の基本であるダイオードを対象に、デバイスモデリング技術を習得します。このセミナー
を通じて、必要なダイオードのスパイスモデルが自分で作成でき、外部から入手したスパイスモデルも評価
することができます。
【対象者】
・これからSPICEを使って回路設計をしたい方
・デバイスモデリングを体験したい方
・自分でダイオードモデルを作成したい方
【開催日時】2013年2月15日(金曜日)13:00-16:30
【開催場所】マルツメイク館(東京都:秋葉原) 場所情報1 場所情報2
【参加費用】5,000円(税込み) お申し込みはこちらからお願い致します。
【セミナー内容】
デバイスモデリング
(1)IS,N,RS,IKFの抽出方法
(2)CJO,VJ,Mの抽出方法
(3)TTの抽出方法
(4)BV,IBVの抽出方法
ダイオードモデルの評価方法
(1)順方向特性の評価シミュレーション
(2)容量特性の評価シミュレーション
(3)逆回復特性の評価シミュレーション
評価シミュレーションは、PSpiceでもLTspiceでも対応します。
【準備して頂く物】
(1)ノートPC
(2)OrCAD PSpiceのデモ版
デモ版のダウンロードの方法はこちらをご参照下さい。
(3)計算機(逆回復特性のシミュレーションの回路設定時に使用致します)
(4)評価シミュレーションをLTspiceで行いたい方は、LTspiceもセットアップして持参してください。LTspiceのダウンロード先はこちらです。
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お問い合わせ先:info@beetech.info

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