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半導体デバイス工学 第6章
森北出版「半導体デバイス工学」を使った講義資料です。
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半導体デバイス工学 第6章
1.
半導体デバイス工学 講義資料 第6章 集積回路 (p.101~p.114)
2.
6. 集積回路 6.1 分類と特徴 6.2
バイポーラ形集積回路 6.3 MOS形集積回路 6.4 Bi-CMOS回路 6.5 集積回路設計技術
3.
6.1 分類と特徴 (1) 集積回路(integrated
circuit:IC)は,いろいろな回路機能を得るために ダイオ−ド,トランジスタ,抵抗,コンデンサなどを1つの基板の上に電気的 に接続させた回路をいう.電子計算機,カラ−テレビ,ステレオ装置などあ らゆるものに集積回路が使用されている.とくに,電子計算機,飛行機お よび人工衛星などに積み込む超小形装置のように素子数が非常に多く, かつ高信頼性が要求される電子機器にはなくてはならないものである. 集積回路には一般的に次の利点がある. ① 高速度,低消費電力,高信頼性 ②高性能化,高集積化 ③構成素子の特性の均一化 ④安価 集積回路は,回路を横成する素子がバイポーラトランジスタかMOSFET かによって,バイポ−ラ形集積回路とMOS形集積回路に区別される.また, 扱う信号がアナログかディジタルかによっても区別され,前者をアナログ 集積回路,後者を論理(ディジタル)集積回路という.
4.
M O S I C 半 導 体 集 積 回 路 バ イ ポ | ラ I C ROM RAM ビットスライスMPU IIL ECL TTL その他 オーディオ用IC テレビ用IC VTR用IC オペアンプ その他 電源用レギュレータ コンパレータ 民生用アナログ <民生用リニア> 産業用アナログ <産業用リニア> メモリ (記憶素子) ロジック (論理素子) アナログ <リニア> (線形回路) ディジタル (計数回路) ROM RAM SRAM DRAM マスクROM フラッシュメモリ EEPROM EPROM ロジック マイコン・周辺 DSP 周辺LSI 32ビットマイコン 16ビットマイコン 8ビットマイコン 4ビットマイコン その他 時計用LSI 電卓用LSI CMOS標準ロジック ロジック (論理素子) メモリ (記憶素子) 図6-1 集積回路の動作機能による分類
5.
6.1 分類と特徴 (2) 基板上に組み込まれている素子数によっても区別され,数十の素子を組 み込んだものを一般にSSI(small
scale IC:小規模集積回路), 100〜1000個 の素子を組み込んだものをMSI(medium scale IC:中規模集積回路),1000 個以上の素子を組み込んだ大規模なICを総称してLSI(large scale IC:大規 模集積回路)と呼ばれている.LSIは規模に応じて,VLSI(very large scale IC),ULSI(ultra large scale IC)などにも分類されている. IC(Integrated Circuit) の呼び名 集積度 (素子数/チップ) 集積度 SSI(Small Scale Integration) MSI(Middle Scale Integration) LSI(Large Scale Integration) VLSI(Very Large Scale Integration) ULSI(Ultra Large Scale Integration) ~ 102 10 2 ~ 103 10 2 ~ 105 10 5 ~ 107 10 7 ~ 小規模 中規模 大規模 超大規模 超超大規模 表6-1 集積回路の集積度による分類
6.
6.2 バイポーラ形集積回路 MOSFETの出力電圧が入力電圧の2乗に比例するのに対して,バイポー ラトランジスタの入出力特性は線形特性をもつので,アナログ集積回路に はバイポーラ形集積回路が広く用いられる.特に,線形性を利用するもの はリニア集積回路とも呼ばれる.バイポーラトランジスタの高速性と電流駆 動能力を利用したディジタル集積回路としては, TTL(transistor
transistor logic)集積回路やECL(emitter coupled logic)集積回路などがある. プレーナ構造のバイポーラ集積回路ではpn接合を素子分離に用いる.こ れはp形基板を最低電位とし,また各素子は逆バイアスされた埋め込まれ たn形領域中に形成することで,隣の素子と電気的に分離できるのである. p-Si n n n n pppn+ n+ n+ n+ n+ 容量 ダイオード トランジスタ 抵抗 pn接合 分離 図6-2 バイポーラ形集積回路の断面構造 しかし,n形領域内に別のトラ ンジスタを製作するので最低で も3回の不純物の拡散工程が 必要となる.
7.
(1) リニア集積回路 集積回路を構成するトランジスタや抵抗などの素子定数の絶対値は 比較的大きなばらつきがあるが,同一基板内の素子定数の相対値精 度は高い.また,抵抗やキャパシタはトランジスタと比較して大面積を 必要とするので,リニア集積回路ではトランジスタを能動負荷とする差 動増幅回路を一般的用いられる.下図にリニア集積回路として広く用 いられている741形演算増幅器の回路例を示す. NON- INVERTING INPUT INVERTING INPUT OFFSET NULL OFFSET NULL OUTPUT Q1 Q2 Q3 Q4 Q5
Q6 Q7 Q8 Q9 Q10 Q11 Q12 Q13 Q14 Q15 Q16 Q17 Q18 Q19 Q20 R1 1k R2 1k R3 50k R4 5k R5 39k R6 50k R7 4.5k R8 7.5k R9 25 R10 50 R11 50 C1 30p V V + - 図6-3 741型汎用演算増幅器の回路例
8.
(2) TTL集積回路 TTL集積回路の例を下図に示す.多数のエミッタ端子を持ったトランジ スタがAND回路を構成し,次段のトランジスタで反転してNAND回路にし たものである.すべての入力が高い電圧のときTr2がオンとなる.この場 合,いずれか1つの入力が0電位になると,電流がR1を通じてTr1のベー スに流れ込む.Tr1の増幅作用で大きなコレクタ電流が流れてTr2のコレ クタ領域に蓄積されたキャリアがベース領域を通して放出されるので,ス イッチング時間が短くなる. また,スイッチング時間を短くす るためコレタタ領域に金などの不 純物を添加する.TTL集積回路は 高速で,かつ価格も安いので広く 使われている.
9.
(3) ECL集積回路 ECL集積回路は,図に示すように差動増幅回路を用いて論理を構成し, コレクタ接地回路を出力として次段を駆動する構造になっている.A,B端 子に加えられた入力と,差動増幅回路のもう一方の入力VBB(しきい値) との比較により論理が決定される.出力信号は入力側のトランジスタのコ レクタから取り出した場合はNOR回路となり,他方のトランジスタのコレク タからはOR出力となる. ECL回路の場合は差動増幅器 のトランジスタを飽和領域で動作 させないようにエミッタ電流を制 御して飽和領域での動作を回避 し,電荷の蓄積をなくして高速動 作を実現している.
10.
6.3 MOS形集積回路 MOS形集積回路はMOSFETを能動素子として用いた集積回路である. これにはチャネルの抵抗を能動負荷に用いたn-MOS集積回路や,pチャ ネルMOSFETとnチャネルMOSFETを組み合わせた相補形MOS集積回路 (complementary MOSIC:
CMOS IC)やメモリがある.MOS形集積回路の 断面構造を図に示す.局所酸化またはLOCOS(local oxidation of silicon) と呼ばれる部分的に厚く形成された酸化膜が素子分離用として用いられ る.また,高集積化に有利な多結晶Siをゲート電極(ポリシリコンゲート) に用いたMOS構造が多用される.
11.
6.3 MOS形集積回路 MOS形集積回路はバイポーラ形集積回路と比較して高集積化が可 能なのでVLSIやULSIに広く使用されている.下図にバイポーラトランジ スタとMOSFETの断面構造とそれらの占有領域の比較を示す. バイポーラトランジスタがpn接合の空乏層の拡がりまでも占有面積と して考慮しなければならないのに対して,MOSFETはLOCOSを素子分 離に利用しているので占有領域は小さく,高集積化に有利であることが 理解できる.
12.
(1)CMOS集積回路 nチャネルMOSFETとpチャネルMOSFETを組み合わせたものである. インバータ回路の動作について,入力電圧が高い場合,増幅用のn チャネルFETがオン,負荷用のpチャネルFETがオフする.したがって出 力は低い電圧になる.次に,入力電圧が低いときは,動作は逆になる. オンとオフの状態ではほとんど電流が流れず,状態が切り換わるときだ け電流が流れるので,低消費電力である.
13.
(2)半導体メモリ 呼出しメモリ(RAM),読出し専用メモリ(ROM),フラッシュメモリに大別される. ①RAM RAMは読み書きが可能なメモリで,呼出し時間がメモリセルのアドレス によらず一定である. スタティックRAM(SRAM):バイポーラトランジスタとMOSFETで構成される. 一般に高速であるが,消費電力が大きく,集積度が低い. ダイナミックRAM(DRAM):大容量,低消費電力,低価格であるが,低速 であることと,リフレッシュ動作が必要である. ②ROM ROMは読出し専用メモリであり(書込み不可,または書き換えに高電圧 などが必要),電源を切っても記憶情報を保持できる. マスクROM:製作時に決定するのをといい,記憶内容の変更は不可能 PROM:製作後に書込みが可能なもの(破壊的動作,非破壊的操作) EPROM:紫外線照射により記憶を消去し,再書込みができる. EEPROM:電気的に消去・再書込みのできる.
14.
③フラッシュメモリ フラッシュメモリ(flash memory)は書き換えによる劣化を抑え,ブロック単 位で高速に消去を行う電気的に書換え(書込み/消去)可能な不揮発性 メモリである.書込みは加速した電子(ホットエレクトロン)の注入を,消去 にはトンネリング現象を用いている.スタックトゲート形のセルを図に示す. フローティングゲートに蓄積された電荷の有無によりトランジスタの閾値 が変化することを利用して記憶を行う. 書込み時はゲート,ドレインに高電圧を与え,ソ−スを接地してホットエレ クトロンをフローティングゲートに注入する.消去は,ソースに高電圧, ゲートを接地,ドレインを 開放してトンネリング現 象によりフローティング ゲートから電子を引き抜 く.このような動作原理 からゲート酸化膜は非 常に薄く作らなければな らず,高度な製造技術を 要する.
15.
6.4 Bi-CMOS回路 Bi-CMOS(bipolar complementary
MOS)回路は,バイポーラ集積回 路とCMOS集積回路を組み合わせたもので,バイポーラ集積回路の持 つ高速性,大電流駆動能力,アナログ処理能力とCMOS集積回路の 微細化、低電力性を兼ね備えている.図に示すように出力段につけた バイポーラトランジスタで回路の寄生 容量の充放電を行うことで,伝播遅延 時間を従来のデバイスに比べて50% 程度に低減できる.また,アナログ回 路をバイポーラトランジスタで,ディジ タル回路をCMOSでそれぞれ分担して 混載することにより,コンピュータに加 えて、通信や自動車等の民生機器へ の幅広い応用が可能となった.
16.
6.5 集積回路設計技術 集積回路は,トランジスタをはじめたくさんの素子により構成される. また,製作後に回路を変更することができないので,普通の電子回路 を設計するようなカット・アンド・トライでは設計できない.現在の大規模 な集積回路の設計には,電子計算機の活用が必要不可欠である. まず計算機を用いた,回路設計,シミュレーション,パターンレイアウ トを行う.次に設計されたレイアウトに応じた数枚のフォトマスクが作ら れ,このマスクに応じた工程が順に繰り返されることにより設計通りの 集積回路が完成する.
17.
(1)回路設計技術 アナログ集積回路の設計 個別素子でのと同様に,基本的には設計者が計算機上で個別素子 を接続して回路の設計を行うことが多い.むろん,CADを用いたシミュ レーションや設計資産を活用することにより大規模集積回路の設計を 容易にしている.集積回路では物理的な制約がある.例えば, ①容量 や高抵抗を集積回路上に設けると占有面積が大きくなる ②微少なイ ンダクタンスしか作れない
③素子定数の確度が低い,などである. ディジタル集積回路の設計 アーキテクチャ設計,論理回路設計,トランジスタ回路設計の3つの 階層に分けて行うのが一般的である.ハードウェア記述言語(HDL)を 用いた回路記述と論理合成,及び検証ツールが用いられる. 多くの半導体メーカーはよく利用される機能ブロックや基本論理ゲー トをマクロライブラリとして用意しており,ユーザーはこれらを用いて論 理設計を行えばよい.また,設計資産(IP)を組み合わせることにより多 種多様な集積回路が短期間に設計できるようになっている.
19.
図6-12 CAD画面の例
20.
(2) シミュレーション技術 アナログ集積回路は複雑で非線形な電子回路であり,回路動作は計 算機シミュレーションにより解析するのが通例である.数値計算により 解析を行うソフトウェアでは,カリフォルニア大学(バークレイ校)で開発 されたSPICEが有名であり,回路のノ−ドを指定し,そこに接続されるエ レメントを等価回路の形で与えて数値解析を行う. 現在はCADベン ダーがこれを独自に発展させたものが様々な製品として提供されてい る. ディジタル集積回路の動作検証には論理シミュレーションが用いられ る.しかしながら,現在の集積回路の大規模化,高速化の要求により, 論理シミュレーションによる検証だけでは論理設計通りの動作は保証さ れない.論理素子間の接続の不具合,高速動作時の寄生素子による 信号の伝搬遅延の影響等により最終的にはアナログ的な回路検証が 要求され,ディジタル・アナログ混在の回路シミュレータ等が開発されて いる. これらのシミュレーションは,設計技術と密接に繋がっているので,切 り離して考えられず,集積回路設計の各段階において適当なシミュ レーション技術が利用されている.
21.
(3)パターンレイアウト設計 (1) レイアウト設計とは,目的とする回路を実現するため,拡散,コンタクト ホール,アルミ配線などのパターンを具体的に配置、構成することをいう. LOCOS構造により素子分離されたポリシリコンゲートn-MOSFETのマスク レイアウトとその断面構造の例を図6-13示す.また,図6-14は同じn- MOSFETをポジ形フォトレジストにより製作した場合に使用するフォトマス クの一例である. L W n+ n+ p形基板 LOCOS (熱酸化膜) CVD酸化膜 Al電極 ポリシリコンゲート ゲート酸化膜 (a)レイアウト 図6-13
n-MOSFETのレイアウトと 断面構造の関係 (b)断面構造 (a)LOCOS酸化パターン (b) ゲート形成 パターン (c)コンタクト孔開け パターン (d)配線パターン 図6-14 n-MOSFETのフォトマスク (ポジ形レジスト用) レイアウト設計は,回 路設計とともに出来上 がった素子の能力や価 格までも左右する.ここ で重要な項目としては, ①論理設計通りの機能, 性能を満たす ②小さ なチップサイズにする ③安価で短期間に完 了する などである.
22.
(3)パターンレイアウト設計 (2) レイアウト設計では,数層から十数層の複雑な二次元パターンを扱うた め,CADによる設計支援ツールが早くからとり入れられている. 半導体製造技術による寸法的な制約事項(デザインルール)をもとに作 業が行われる.IC製作プロセスの種類,製作ラインの種類,ICの種類など によってデザインルールは当然異なってくる.また半導体メーカーは,論理 設計で用いられる機能ブロックや基本論理ゲートのレイアウトもライブラリ として用意している. 最初に,フロアプランニングと呼ばれる論理ブロック,論理セルの概略配 置計画を行う.その後,論理ブロック,論理セル,I/Oセル(外部との配線) の配置とこれらの配線を行う.配置・配線処理はセミカスタム方式のLSI設 計においては設計支援ツールによってほとんど自動化されている. レイアウトの検証には次の2要素がる.一つはデザインルールチェック (DRC)と呼ばれるもので,幾何学的な寸法と位置関係等を確認するもので ある.他方は,電気的な接続の確認として,LVSやERCと呼ばれる手法で ある.レイアウトを決定すると,より現実に近い寄生素子分を見積もること ができる.これを含めて回路シミュレーションし,レイアウトを完成させる.
23.
演習問題 問1 論理集積回路においてはMOS型集積回路の方がバイポーラ型と比較 して広く用いられている.この理由を考えよ. 問2 パーソナルコンピュータの主記憶装置にはどのようなメモリが使わ れているか調べよ. 問3
ディジタルカメラの記憶素子にはどのタイプのメモリが主に使われ ているか調べよ. 問4 パーソナルコンピュータに用いられている主要なLSIについて調べよ.
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