產品介紹 SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀 原文連結：https://enlitechnology.com/zh-hant/home/products/image-sensor/sg-a/ *關於 Enlitech Enlitech 成立於 2009 年 3 月。 核心技術包括人造光源和光譜分析技術。Enlitech 的四大主要產品市場包括圖像傳感器測試解決方案、先進光電探測器測試系統、量子效率測試解決方案和各種光模擬器。 我們的熱門產品有QER 和 SS-X 太陽光模擬器，有興趣歡迎至官網深入了解! https://enlitechnology.com/zh-hant/

1. Enli Technology Co. Ltd.
November 9, 2021
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產品介紹 SG-A：CMOS 圖像傳感器測試儀
快速安裝和快速部署可以幫助您加快上市時間。

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基本介紹
• SG-A 系統是世界上第一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。
• SG-A 可以提供最全面的 CMOS 圖像傳感器參數表徵，如全譜量子效率 QE、整體系
統增益 K、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態範圍、DSNU 、
PRNU、線性誤差和主光線角 CRA。 被測設備可以是多種類型的 CMOS 圖像傳感器
模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標準。因此，SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀可用於
晶圓級光學檢測、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。
• SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的高度准直光束（<1°）可以克服傳統光學系統（如積
分球系統）無法解決的新製造工藝的檢測難題。這些工藝包括小像素（< 1 um）、BSI
和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。

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目錄
 特色
 系統設計
 規格
 應用範圍

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特色
無損光學檢測。
高度準直樑角 / 高準直波束角 <0.05 度, <0.1 度, <0.5 度 ,<1 度, <3 度 (不同型號)
高均勻光束點：≥ 99%。
光的不穩定性≤1%。
高動態範圍測試能力：80dB ~ 140dB（不同型號）。
可測試 CMOS 圖像傳感器參數：量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態範圍、暗電流 / 噪聲、信噪比、
飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流非均勻性）、PRNU（光響應）非均勻性）、CRA（主光線角）。
全光譜波長范圍：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。

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特色
波長可擴展至 1700nm 以上。
DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級，CIS 攝像頭，有 / 無微透鏡。
SG-A 和 DUT 之間的 “直接” 或 “握手” 通信協議。
定制的測試夾具和平台（手動或自動，最多 6 軸）。
強大的分析軟件 ARGUS®。
應用：指紋識別（CIS + Lens、CIS + 准直器、TFT-array sensor）CIS 微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP 芯片算
法開發、Si TFT 傳感器面板、Time-of-Flight 相機傳感器、Proximity 傳感器（量子效率、靈敏度、線性度、SNR 等）、
d-ToF 傳感器、i-ToF 傳感器、多光譜傳感器、環境光傳感器 (ALS)、顯示屏下指紋 (FoD) 傳感器。

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系統設計

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規格
• SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的功能非常強大, 因此相關的規格和配件非常齊全。請
聯繫我們了解更多詳情和選型諮詢, 以下是主要的能力規格：
– 全光譜波長范圍：300 – 1100 nm 或 350 – 1000 nm (PTC)。
– 波長范圍可以擴展到 1700nm 或更高。
– 單波長光源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm）或訂制。
– 動態範圍：80dB、100dB 或 140dB。
– 測試夾具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或訂制。
– 載物台：無、手動 3 軸或 6 軸（手動 + 自動）載物台（可訂制）。

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應用範圍
• 指紋識別（CIS + 鏡頭、CIS + 准直器、TFT 陣列傳感器）
• CIS 微透鏡設計，晶圓級光學檢測
• CIS DSP 芯片算法開發
• Si TFT 傳感器面板
• 飛行時間相機傳感器
• 接近傳感器（量子效率、靈敏度、線性度、SNR 等）
• d-ToF 傳感器、i-ToF 傳感器
• 多光譜傳感器
• 環境光傳感器 (ALS)
• 屏下指紋 (FoD) 傳感器

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欲了解更多SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的安裝成果展示，歡迎點擊以
下連結：https://enlitechnology.com/home/products/image-sensor/sg-a/

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