Dokumen ini membahas tentang akustik mikroskopi, yang merupakan teknik inspeksi ultrasound frekuensi tinggi untuk mendeteksi cacat dalam sampel material. Terdapat beberapa metode, termasuk scanning laser acoustic microscopy, c-mode scanning microscopy, dan scanning acoustic microscopy, masing-masing dengan aplikasi dan rentang frekuensi yang berbeda. Mikroskop akustik ini memungkinkan pengujian non-destruktif dan karakterisasi material dengan resolusi tinggi.

1. ACOUSTIC
MICROSCOPY
Dicky A. (2613101005)
Andriawan (NIM 2613101030)

2. Introduction
Acoustic Microscopy adalah istilah yang umumnya di
aplikasikan untuk frekuensi tinggi, teknik inspeksi ultrasonic
frekuensi tinggi yang menghasilkan fitur gambar pada
bagian bawah permukaan sampel. Karena energi
ultrasonic memerlukan energi berkelanjutan pada material
untuk merambat. Cacat bagian dalam seperti rongga,
inklusi, dan retak yang menggangu transmisi atau refleksi
dari sinyal ultrasound.

3. Methods of Acoustic Microscopy
 Scanning Laser Acoustic Microscopy
 C-Mode Scanning Microscopy
 Scanning Acoustic Microscopy

4. Scanning Laser Acoustic Microscopy
Sebuah gelombang kontinu (CW) ultrasound pada frekuensi tinggi
hingga beberapa megahertz yg dihasilkan oleh transduser piezoelektrik
terletak di bawah sampel. Karena ultrasound ini tidak bisa berjanan
melalui udara (menjadikannya sebagai alat yang sangat baik untuk
crack), sebuah couplant fluida digunakan untuk membawa ultrasound
untuk sampel

5. 100-MHz SLAM acoustic micrograph of an alumina panel section that
contains a hole showing a crack with very high contrast

6. C-Mode Scanning Microscopy
C-mode pemindaian mikroskop akustik
terutama pulsa-gema (jenis refleksi)
mikroskop yang menghasilkan gambar oleh
mekanis scanning transduser dalam pola raster
atas sampel. Sebuah fokus spot ultrasound
yang dihasilkan oleh perakitan lensa akustik
pada frekuensi biasanya berkisar antara 10
sampai 100 MHz

7. Use of C-SAM to Detect Internal Porosity
Defects in an Alumina Ceramic
An acoustic microscope scanning at 50 MHz

8. Scanning Acoustic Microscopy
Mikroskop akustik terutama refleksi-jenis
mikroskop yang menghasilkan gambar resolusi
sangat tinggi di permukaan dan dekat
permukaan fitur sampel dengan mekanis
scanning transduser dalam pola raster dari
sampel. Berbeda dengan C- SAM, tempat lebih
tinggi terfokus ultrasound yang dihasilkan oleh
sudut akustik perakitan lensa yang sangat lebar
di frekuensi biasanya berkisar 100-2000 MHz

9. SAM can be used for nondestructive testing as well as
for metallographic analysis
SAM surface mode image at 400 MHz of a manganese-zinc ferrite
sample that was polished metallurgically but not chemically etched.
The elastic property differences between the various phases of this
material are responsible for the contrast shown in this image.

10. Comparison of Methods to Optimize
Use of Techniques
Parameter SLAM C-SAM SAM
Primary use Nondestructive
testing and
materials
characterization
Nondestructive
testing and
materials
characterization
Materials
characterization
and
research
Frequency range 10-500 MHz 10-100 MHz 100 MHz-2 GHz
Imaging speed True real-time
imaging: 30
frames/s; fastest
of all acoustic
microscopes
10 s to 30 min per
frame; varies
greatly
among
manufacturers
10 to 20 s/frame