2.3 P Spm Cenni

Il documento descrive le tecniche di microscopia a scansione (SPM), come STM e AFM, che utilizzano sonde per mappare la topografia e le proprietà dei materiali a livello atomico. Viene spiegato il funzionamento di strumenti per misurare forze interatomiche e per identificare materiali attraverso processi come l'indentazione e la spettroscopia di forza. Inoltre, si trattano applicazioni in ambito chimico e biologico, come l'identificazione del DNA tramite il monitoraggio delle interazioni tra sonde e campioni.