Este documento describe diferentes planes de muestreo continuo, incluyendo CSP-1, CSP-2, CSP-F, CSP-T y CSP-V. Estos planes involucran secuencias alternadas de inspección al 100% e inspección por muestreo de productos en procesos de producción continua. Los planes difieren en cómo determinan cuándo regresar a la inspección al 100% basado en la detección de defectos durante la inspección por muestreo.