1. Curriculum Vitae
Europass
Informazioni personali
Cognome/Nome Adriano Luigi
Residenza C.da Corevento 13, 03040 Ausonia (FR) Italia
Domicilio Via Luigi Tosti 33, 00179 Roma Italia
Mobile 393452677544
E-mail lu.adriano@hotmail.it
Cittadinanza Italiana
Data di nascita 13/ago/80
Sesso M
Occupazione desiderata/ Assunzione a tempo determinato.
Settore professionale Promotore finanziario junior
Esperienza Stage di laurea presso il laboratorio MINAS del Dipartimento di Scienze e Tecnologie
professionale Chimiche della Facoltà di Scienze Matematiche Fisiche e Naturali dell’Università degli
studi di Roma Tor Vergata. Nel periodo di stage si è ottimizzato l’apparato di misura per
la emissione di elettroni a catodo freddo (field emission) per i campioni da studiare. Sono
stati caratterizzati film sottili di diamante di sintesi con il microscopio SEM(scanning
electron microscopy).
Settembre - Dicembre 2011
Attrezzista di scenografia, per l'allestimento di set cinematografici. Lavoro a chiamata per
le case di produzione cinematografiche Endemol e Cattleya, presso le sedi di Roma.
Febbraio 2007 – Settembre 2011
Tirocinio presso STM Laboratory del Dipartimento di Fisica della Facoltà di Scienze
Matematiche Fisiche e Naturali dell’Università degli studi di Roma Tor Vergata. Il periodo
di laboratorio ha previsto l'utilizzo di tecniche spettrosopiche di analisi per caratterizzare
film sottili di Silicio: STM(Scanning Tunneling Microscopy), AFM (Atomic Force
Microsopy), XPS (X-ray Photon Scattering). Sono state eseguite misure STM sulla
crescita omoepitassiale di Silicio.
Settembre 2008 - Febbraio 2009
Impiegato alla fatturazione per la IN.TRA S.r.l., Coreno Ausonio (FR).
Settembre 2007 - Settembre 2003
Lavori estivi
estati 1997-2002
Istruzione e formazione Laurea Triennale in Fisica
Date 27/gen/12
Titolo della tesi Studio della “field emission” da diamante policristallino
Caratterizzazione di film sottili di diamante policristallino di sintesi nanostrutturato con
microscopia SEM(Scanning Electron Microscopy).
Principali tematiche/competenze Misure di corrente emessa per effetto “tunnel” quantistico(field emission) da film sottili in
professionali possedute vuoto.
Analisi dati con il tool Origin effettuando i test con la teoria dell'emissione di Fowler-
Nordheim. Confronto dei dati con i risultati riportati in letteratura.

2. Nome e tipo d'organizzazione
erogatrice dell'istruzione e Università degli Studi di Roma “Tor Vergata”
formazione
Capacità e competenze
personali
Madrelingua Italiano
Altra lingua Inglese
Buono
Capacità e competenze
Mediazione. Attitudine al lavoro di gruppo
sociali
Capacità e competenze Problem solving. Flessibilità.
organizzative
Ottimo utilizzo di apparecchiature per la spettroscopia elettronica STM(Scanning
Tunneling Microscopy), SEM(Scanning Elctron Microscopy), AFM(Atomic Force
Capacità e competenze Micrsoscopy), macchina per l’emissione di campo.
tecniche
Assemblaggio PC, istallazione di sistemi operativi windows .
Ottima conoscenza dei sistemi operativi Windows ME/xp/Vista/7, Mac OS X 10.5,
Linux(Ubuntu8.0).
Capacità e competenze Ottima conoscenza Pacchetto Office (Word, Excel, Outlook, PowerPoint).
informatiche Linguaggi di programmazione C#, Fortran, Matlab.
Applicativi per l’analisi dati OriginPro 9, Image SXM.
Capacità e competenze Fotografia digitale e analogica. Bricolage.
artistiche
Altre capacità e competenze Passione per la cucina.
Patente AB
Firma Luigi Adriano
Presto consenso al trattenimento dei dati personali ai sensi della legge 675/96.