O documento descreve um novo método para extrair parâmetros de transistores MOSFET de quatro terminais isolados, como a corrente de saturação (IS), tensão de limiar (VT0), mobilidade (μ) e fator de inclinação (n). O método envolve medir a corrente de drenagem (ID) em função de uma tensão variável (VX) com as outras tensões fixas, permitindo extrair os parâmetros sem a presença do fator n na equação. O método é demonstrado experimentalmente em um transistor NMOS fabricado em tecnologia TS