Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici inMinitabMeet Minitab 2013Milano, 9 MaggioAndrea Laurenzi: Senior Statistician
P. 2 | MEMC ConfidentialSummaryPresentazione MEMC/SunEdisonIntroduzioneProblemaObiettivoIndicatori sintetici SPCEsempio di...
P. 3 | MEMC ConfidentialBusiness
P. 4 | MEMC ConfidentialMEMC/SunEdison nel mondoManufacturing Facilities Sales & Support Offices SunEdisonSt Peters Missou...
P. 5 | MEMC ConfidentialSunEdison: >50 anni di storia come leader nella tecnologia1959 Monsanto Electronic Materials Compa...
P. 6 | MEMC Confidential“MEMC/SunEdison in Italia”Distance from main cities and airports:Novara to: km milesMilan 47 29Gen...
P. 7 | MEMC Confidential“22 anni di eccellenza nella Qualità”1991ISO 90011999ISO 140012002EMAS2003ISOTS 169492007OHSAS 180...
P. 8 | MEMC ConfidentialArea Industriale di NovaraTotal area 79,385 m²Covered area 14,150 m²Operations area 10,185 m²Siamo...
P. 9 | MEMC ConfidentialPersonale distribuito per funzione
P. 10 | MEMC ConfidentialEsperienza del personaleEtà media: 42 anniPiù del 50% con >15 anniDi esperienza nel business dels...
P. 11 | MEMC ConfidentialFasi del processo produttivo
P. 12 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneFinal Polishing
P. 13 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneFinal Cleaning
P. 14 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneDouble Side Polishing
P. 15 | MEMC ConfidentialIntroduzioneL’obiettivo dell’azienda è realizzare prodotti a:• Basso costo• Alta qualità• Alta af...
P. 16 | MEMC ConfidentialIntroduzioneCapire e migliorare la qualità è uno dei fattori disuccesso del business e dell’aumen...
P. 17 | MEMC ConfidentialIntroduzioneLa tradizionale definizione si basa sulla nozione che iprodotti devono incontrare le ...
P. 18 | MEMC ConfidentialIntroduzioneUna definizione alternativa di “quality of conformance” èl’inverso della variabilità....
P. 19 | MEMC ConfidentialIntroduzioneIl controllo statistico di processo (SPC) produttivo è uninsieme di strumenti atti a ...
P. 20 | MEMC ConfidentialProblemaIl macro processo aziendale delle società disemiconduttori è costituito da centinaia di m...
P. 21 | MEMC ConfidentialProblemaElevato numero di carte di controllo (10000-50000).Problema economico: allocare le risors...
P. 22 | MEMC ConfidentialObiettivo1. Introdurre indicatori sintetici SPC per valutare laperformance dei processi.• Questi ...
P. 23 | MEMC ConfidentialObiettivo• Gli indicatori sintetici sono:̶ Cpk: valuta la capacità dl processo;̶ %OOC: misura il ...
P. 24 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPCIndice Pdove UCL e LCL sono i limiti di controllo• P=1 i limiti di contro...
P. 25 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPCLa funzione di densità di probabilità dell’indice P è:211ˆ−−≈nnPPχ
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P. 29 | MEMC ConfidentialEsempio di report automatico con macro in MinitabI limiti di controllo sono bensettati.Processo c...
P. 30 | MEMC ConfidentialEsempio di report automatico con macro in MinitabMonthly time frame
P. 31 | MEMC ConfidentialConclusioniGli indicatori sintetici forniscono un linguaggio semplice perquantificare la salute d...
どうもありがとうどうもありがとうどうもありがとうどうもありがとう。。。。감사합니다감사합니다감사합니다감사합니다謝謝謝謝謝謝謝謝TERIMA KASIHGRAZIETHANK YOU
P. 33 | MEMC ConfidentialBibliografiaBissel A.F. (1990) – How Reliable is Your Capability index? Applied Statistics, vol. ...
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Presentazione effettuata in occasione del Meet Minitab 2013

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MEMC - Andrea Laurenzi, Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici in Minitab

  1. 1. Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici inMinitabMeet Minitab 2013Milano, 9 MaggioAndrea Laurenzi: Senior Statistician
  2. 2. P. 2 | MEMC ConfidentialSummaryPresentazione MEMC/SunEdisonIntroduzioneProblemaObiettivoIndicatori sintetici SPCEsempio di report automaticiConclusioni
  3. 3. P. 3 | MEMC ConfidentialBusiness
  4. 4. P. 4 | MEMC ConfidentialMEMC/SunEdison nel mondoManufacturing Facilities Sales & Support Offices SunEdisonSt Peters Missouri (SOI)Pasadena, Texas (1) (POLY)Portland, Oregon (SOL)Merano, Italy (1) (POLY, XTAL)Novara, Italy (LE200)Kuala Lumpur (LE150)Kuching, Malaysia (SOL)Ipoh, Malaysia (200)Hsinchu, Taiwan (LE300)Chonan, South Korea (LE300)Utsunomiya, Japan (300)St. Peters,MissouriSanta Clara,CaliforniaSherman, TexasParis, FranceNovara, ItalySingaporeShanghai, ChinaHsinchu, TaiwanSeoul, South KoreaTokyo, JapanToronto, CanadaPrescott, ArizonaSacramento, CaliforniaSan Clemente, CaliforniaSan Francisco, CaliforniaBelmont, CaliforniaDenver, ColoradoBeltsville, MarylandPennsauken, New JerseyPortland, OregonSan Juan, Puerto RicoSt. Thomas, Virgin IslandsChennai, IndiaSeoul, South KoreaDubai, U.A.EParis, FranceLecce, ItalyMilan, ItalyBarcelona, SpainMadrid, SpainUtsunomiya, JapanIpoh, MalaysiaMerano, Italy (1)Pasadena, Texas (1)St. Peters, MissouriNovara, ItalyKuala Lumpur, MalaysiaHsinchu, TaiwanChonan, South KoreaKuching, MalaysiaPortland, Oregon.(1) Poly operations(Merano operations idled – cost reduction efforts)
  5. 5. P. 5 | MEMC ConfidentialSunEdison: >50 anni di storia come leader nella tecnologia1959 Monsanto Electronic Materials Company (MEMC) formed1962 Czochralski (CZ) silicon crystal process developed1965 MEMC develops polishing process for silicon wafers1975 First commercial production of 100mm wafers1984 Commercialized 200mm wafers1989 MEMC acquired by E.ON affiliate1991 300mm wafers developed1995 MEMC IPO on the NYSE2002 Significant 300mm expansion2004 Crossed $1B revenue mark; acquired Taisil2005 First 300mm production in Taiwan2006 Entered the solar PV wafer market on a large scale2007 MEMC added to S&P 500; began solar wafer deliveries2009 Acquired SunEdison and expanded into solar energy market2010 Acquired Solaicx and Continuous Czochralski (CCZ) technology2011 SunEdison one of the largest global solar PV companies2013 Proposed change of Company’s name: SunEdison
  6. 6. P. 6 | MEMC Confidential“MEMC/SunEdison in Italia”Distance from main cities and airports:Novara to: km milesMilan 47 29Genoa 152 94Torino 93 58Malpensa Airport 27 17Linate Airport 69 43Merano 347 197Distance from main cities and airports:Merano to: km milesVerona 170 106Venezia 240 149Insbruck (A) 148 92Muenchen (D) 307 191Malpensa Apt. 341 212Novara 347 197
  7. 7. P. 7 | MEMC Confidential“22 anni di eccellenza nella Qualità”1991ISO 90011999ISO 140012002EMAS2003ISOTS 169492007OHSAS 180011999QS 9000
  8. 8. P. 8 | MEMC ConfidentialArea Industriale di NovaraTotal area 79,385 m²Covered area 14,150 m²Operations area 10,185 m²Siamo qui
  9. 9. P. 9 | MEMC ConfidentialPersonale distribuito per funzione
  10. 10. P. 10 | MEMC ConfidentialEsperienza del personaleEtà media: 42 anniPiù del 50% con >15 anniDi esperienza nel business delsilicio
  11. 11. P. 11 | MEMC ConfidentialFasi del processo produttivo
  12. 12. P. 12 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneFinal Polishing
  13. 13. P. 13 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneFinal Cleaning
  14. 14. P. 14 | MEMC ConfidentialReparti di produzioneDouble Side Polishing
  15. 15. P. 15 | MEMC ConfidentialIntroduzioneL’obiettivo dell’azienda è realizzare prodotti a:• Basso costo• Alta qualità• Alta affidabilità
  16. 16. P. 16 | MEMC ConfidentialIntroduzioneCapire e migliorare la qualità è uno dei fattori disuccesso del business e dell’aumento dellacompetitività.Il termine qualità può essere definito in diversi modi.
  17. 17. P. 17 | MEMC ConfidentialIntroduzioneLa tradizionale definizione si basa sulla nozione che iprodotti devono incontrare le richieste (requirements)del cliente.
  18. 18. P. 18 | MEMC ConfidentialIntroduzioneUna definizione alternativa di “quality of conformance” èl’inverso della variabilità.Poichè la variabilità è un termine tipicamente statistico, imetodi statistici sono fondamentali per migliorare laqualità.
  19. 19. P. 19 | MEMC ConfidentialIntroduzioneIl controllo statistico di processo (SPC) produttivo è uninsieme di strumenti atti a controllare la stabilità delprocesso e migliorarne la produttività attraverso lariduzione della variabilità.
  20. 20. P. 20 | MEMC ConfidentialProblemaIl macro processo aziendale delle società disemiconduttori è costituito da centinaia di micro processiutilizzati per arrivare al Prodotto finale.ProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs Outputs
  21. 21. P. 21 | MEMC ConfidentialProblemaElevato numero di carte di controllo (10000-50000).Problema economico: allocare le risorse limitate inmodo da migliorare la qualità dei processi.
  22. 22. P. 22 | MEMC ConfidentialObiettivo1. Introdurre indicatori sintetici SPC per valutare laperformance dei processi.• Questi indicatori forniscono un linguaggio semplice perquantificare le prestazioni del processo ed aiutano gliingegneri a focalizzare le risorse.• Permettono di controllare ogni mese la salute del processo.
  23. 23. P. 23 | MEMC ConfidentialObiettivo• Gli indicatori sintetici sono:̶ Cpk: valuta la capacità dl processo;̶ %OOC: misura il carico di lavoro;̶ P : valuta l’adeguatezza dei limiti di controllo;̶ Sp : valuta la stabilità in media del processo• Gli indici P e Sp sono nuovi indicatori.2. Creare report automatici con macro sviluppate in Minitab.
  24. 24. P. 24 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPCIndice Pdove UCL e LCL sono i limiti di controllo• P=1 i limiti di controllo sono ben settati;• P>1 i limiti di controllo sono troppo ampi;• P<1 i limiti di controllo sono troppo stretti.σ6LCLUCLP−=
  25. 25. P. 25 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPCLa funzione di densità di probabilità dell’indice P è:211ˆ−−≈nnPPχ
  26. 26. P. 26 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPC• non bisogna ricalcolare i limiti di controllo;• i limiti di controllo sono troppo ampi;• i limiti di controllo sono troppo stretti;26.1ˆ8.0 ≤≤P26.1ˆ >P8.0ˆ <P
  27. 27. P. 27 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPCIndice Spdi conseguenza lo stimatore di Sp è:222)()(σµµ+−−=TTSp222)()(ˆSTXTXSp+−−=
  28. 28. P. 28 | MEMC ConfidentialIndicatori sintetici SPC• il processo ha problemi di stabilità in media;• il processo è centrato.5.0ˆ ≥pS5.0ˆ <pS
  29. 29. P. 29 | MEMC ConfidentialEsempio di report automatico con macro in MinitabI limiti di controllo sono bensettati.Processo che ha problemi distabilità negli ultimi 5 mesi.
  30. 30. P. 30 | MEMC ConfidentialEsempio di report automatico con macro in MinitabMonthly time frame
  31. 31. P. 31 | MEMC ConfidentialConclusioniGli indicatori sintetici forniscono un linguaggio semplice perquantificare la salute del sistema SPC.Permettono di focalizzare al meglio le risorse con conseguenteimpatto sui costi.Studiate le proprietà statistiche dei nuovi indicatori P e Sp.Sviluppate macro in Minitab per produrre report automatici daanalizzare e discutere negli SPC meeting (mensili) di reparto.
  32. 32. どうもありがとうどうもありがとうどうもありがとうどうもありがとう。。。。감사합니다감사합니다감사합니다감사합니다謝謝謝謝謝謝謝謝TERIMA KASIHGRAZIETHANK YOU
  33. 33. P. 33 | MEMC ConfidentialBibliografiaBissel A.F. (1990) – How Reliable is Your Capability index? Applied Statistics, vol. 39.Boyles R.A. (1991) – The Taguchi Capability Index. Journal of Quality Technology, vol. 23.Burr, I.W. (1967) - The Effect of Non-Normality on constants for X-bar and R Charts. Industrial quality Control.Casella G. Berger R.L. (2002) Statistical inference – 2nd ed., Pacific Grove (CA), Duxbury.Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A Graphical Technique for Process Capability. ASQC Quality CongressTransactions, vol. 20, n° 3.Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A New Measure of Process Capability: Cpm. Journal of Quality Technology,vol. 20, n° 3.Chen J.P. and Ding C.G. (2001) – A New Process Capability Index for Non-Normal Distributions. International Journal ofQuality & Relaibility Managment, vol. 18, n° 7.David H.A. and Nagaraja H.N. (2003) Order Statistics – 3rd ed. Wiley and Sons, Hoboken, New Jersey.Guenther W.C. (1974) – Sample Size Formulas for Some Binomial Type Problems. Technometrics, vol. 16, n° 3.Guenther W.C. (1985) – Two-sided Distribution-Free Tolerance Intervals and Accompanying Sample Size Problems. Journalof Quality Technology, vol. 17, n° 1.Kane V.E.. (1986) –Process Capability Indices. Journal of Quality Technology, vol. 18, n° 1.Kotz S. and Johnson N.L. (2002) – Process Capability Indices: A Review, 1992-200. Journal of Quality Technology, vol. 34,n° 1.Lehaman E. L. and Casella G. (1998) Theory of Point Estimation – 2nd ed., Springer, New York.Montgomery D. C. (2005) – Controllo statistico della qualità. McGraw-Hill.Mood A.M., Graybill F.A., Boes. D.C. (1974) Introduction to the theory of statistics - 3rd ed. McGraw-Hill, Auckland.Pearn W.L. and Chen K.S. (1997) – Capability Indices For Non-Normal Distributions with An Application In ElectrolyticCapacitor Manufacturing. Microelectron. Reliab., vol. 37, n° 12.Pearn W.L. and Lin G.H. (2003) – Distributions of the Estimated Process Capability Index Cpk. Economic quality Control, vol.18, n° 2.Pearn W.L., Kotz S. and Johnson N.L. (1992) – Distributional and inferential Properties of Process Capability indices. Journalof Quality Technology, vol. 24, n° 4.Shao j. (1999) Mathematical Statistics – Springer, New York.Wheeler D.J. (2010) – Understanding Statistical Process Control - SPC Press, vol. 15.

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