Principios de Circuitos Eléctricos (Thomas L. Floyd) (Z-Library).pdf
Carta de control por atributos(veronica ochoa)
1. REPÚBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA
I.U.P. “SANTIAGO MARIÑO”
EXTENSIÓN MATURÍN
CONTROL DE CALIDAD
SECCIÓN V
CARTA DE CONTROL POR ATRIBUTOS
PROF.
XIOMARA GUTIÉRREZ
BACHILLER:
VERÓNICA OCHOA C.I 19.256.309
JULIO, 2.014
2. 1. En un proceso se producen artículos por lotes y éstos se prueban al 100%.
Se llevan un registro de la proporción de artículos defectuosos, grafique la
carta de control P con los datos que se muestran a continuación y trabajar
con 3 decimales:
Lote Tamaño de Muestra
Artículos
Defectuosos
1 200 21
2 200 20
3 200 27
4 200 33
5 200 22
6 200 40
7 180 27
8 180 23
9 180 20
10 200 26
11 200 28
12 200 21
13 180 23
14 190 21
15 200 25
16 200 29
Lote Tamaño de
Muestra (ni)
Artículos
Defectuosos
(Di)
Proporción (pi)
1 200 21 0,105
2 200 20 0,1
3 200 27 0,135
4 200 33 0,165
5 200 22 0,11
6 200 40 0,2
7 180 27 0,15
8 180 23 0,127
9 180 20 0,111
10 200 26 0,13
11 200 28 0,14
3. 12 200 21 0,105
13 180 23 0,127
14 190 21 0,110
15 200 25 0,125
16 200 29 0,145
n=200 pi=2,087
Calcular los límites de control mediante la expresión:
p =
∑ pi
numero de muestra inspeccionada
p =
2,087
16
= 0,130
Entonces:
Línea Central = 0,130
Limite de Control Superior (LCS):
LCS = p + 3 √p(1 − p)/n
LCS = 0,130 + 3 √
0,130(1 − 0,130)
200
= 0.134
Limite de Control Inferior (LCI):
LCI = p − 3 √p(1 − p)/n
LCI = 0,130 − 3 √
0,130(1 − 0,130)
200
= 0,125
5. 2. Para analizar la estabilidad de la cantidad de artículos defectuosos en un
proceso de producción y tratar de mejorarlo, se toma una muestra de 150
piezas cada 4 horas, grafique la carta de control np, con los datos que se
muestran a continuación y trabajar con 3 decimales:
Muestra Artículos
Defectuosos
1 11
2 10
3 7
4 10
5 4
6 12
7 8
8 5
9 14
10 12
11 8
12 7
Datos:
n=150
m=12
p =
total de articulos defectuosos
(m ∗ n)
p =
108
1800
= 0,06
Línea Central
𝐿𝑐 = 𝑛 ∗ 𝑝
𝐿𝑐 = 150 ∗ 0,06 = 9
LCS
LCS = 9 + 3 √9(1 − 0,06) = 17,725