2.
Basada en un sistema óptico con
amplificaciones de las lentes, permite
tomar lecturas a través de tres
microscopios micrométricos. Se auxilia de
un comparador electrónico para su ajuste.
Es un equipo de alta exactitud y con una
gran
gama
de
aplicaciones.
3.
La lectura en milímetros se toma de una
regla graduada, y la lectura de
aproximación se toma de un microscopio
al amplificar esta lectura, ayudado por un
comparador electrónico, que sirve para
alinear o ajustar la pieza por un lado y por
el otro para que siempre actúe la misma
presión del palpador sobre la pieza a
medir.
El
palpador
empleado
es
multidireccional y sufre una fuerza de
palpación entre 100 y 400 g.
6. EL “PPO” O “COMPARADOR ÓPTICO”
* Permite la medición de componentes sofisticados
(engranes, levas y otros artículos de difícil acceso a
los instrumentos de medición convencionales).
* Es un instrumento de alta exactitud y versatilidad.
* La imagen aumentada de la pieza se proyecta en
una pantalla, donde puede ser medida por medio de
escalas o comparada con plantillas de referencia.
7. * La ventaja del empleo del método por
comparación es su facilidad para poder
observar a través de la plantilla mostrada
en la pantalla cualquier desviación
existente de la pieza amplificada y
proyectada.
* Se trabaja sin contacto directo con la
pieza a medir, por lo que el desgaste por
fricción con la misma es nulo.
* Involucra elementos que constituyen un
sistema
óptico
y
otro
mecánico.
8. MÉTODO DIASCÓPICO
Es cuando la iluminación se aplica por la
parte inferior de la pieza, mostrando
entonces únicamente el perfil de la misma y
se le observa como una sombra. Es posible
bajo este método medir exactamente las
dimensiones delimitadas por el contorno de
la pieza.
9. MÉTODO EPISCÓPICO
Se emplea para observar la superficie de las
piezas opacas. En este caso la iluminación
es aplicada por sobre la pieza a medir
quedando en esta forma visibles los detalles
que pueda tener la misma en su superficie.
10.
11. MÉTODO EPI- DIASCÓPICO
Cuando incide sobre la pieza de iluminación,
tanto inferior como superior, en forma
simultanea. Bajo esta situación es posible
realizar la inspección del contorno y
superficie de la pieza simultáneamente.
