Difraccion Rayos X

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Difraccion Rayos X

  1. 1. DIFRACCION DE RAYOS X Sebastian Hernández Lina Gómez Solórzano Leonardo Perez
  2. 2. RAYOS X <ul><li>Los rayos x son ondas electromagnéticas producidas por la desaceleración de los electrones cuando se detienen en un blanco. Los rayos x son una radiación de elevada energía y pequeña longitud de onda, la cual se encuentra entre 10ˆ-8 y 10 ˆ-12 m. </li></ul><ul><li>Los rayos x fueron descubiertos </li></ul><ul><li>por Roentgen en 1895, </li></ul><ul><li>mientras trabajaba con un tubo </li></ul><ul><li>de rayos catódicos. </li></ul>
  3. 3. ¿Que es la difracción de rayos x?
  4. 4. Difracción de rayos x <ul><li>Es una técnica que sirve para determinar la estructura detallada de un material, es decir, permite conocer la posición que ocupan los átomos, iones o moléculas que lo forman. Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto físicas como químicas de los materiales. </li></ul>
  5. 5. Algunos casos de difracción . <ul><li>Uno de los ejemplos mas comunes donde se aplica una concisa caracterización de los materiales son las dos cristalizaciones del carbono: el grafito y el diamante, los cuales poseen propiedades totalmente distintas pero tienen la misma composición química. </li></ul>
  6. 6. METODOS DE DIFRACCION DE RAYOS X <ul><li>Existen varias técnicas de difracción de rayos x </li></ul><ul><li>Ley de Bragg </li></ul><ul><li>Método de Laue </li></ul><ul><li>Método de Polvo o Debye-Scherrer </li></ul>
  7. 7. Ley de Bragg William H. Bragg (1862-1942) y William L. Bragg (1890-1971) fueron quienes demostraron la utilidad del fenómeno que descubrió Laue, para obtener la estructura interna de los cristales. n λ =2dsin θ La variable d es la distancia entre los planos cristalinos paralelos, λ la longitud de onda, n un numero entero (1,2,3…), θ el ángulo entre el haz difractado y la dirección original del haz . Para que se cumpla la ley de Bragg la interferencia debe ser constructiva.
  8. 8. Método de Laue. <ul><li>En este método se utiliza un monocristal estacionario y una placa de fotográfica. Se hace incidir un haz de rayos x al monocristal, el haz directo produce un ennegrecimiento al tocar la placa, la cual determinaran la información del material que se este investigando. </li></ul>
  9. 9. Método de Laue por transmisión <ul><li>En este método la película se coloca detrás del cristal y se hacen pasar los rayos x, el efecto </li></ul><ul><li>de las ondas dará como resultado una </li></ul><ul><li>elipse proyectada en la </li></ul><ul><li>placa fotográfica. </li></ul>
  10. 10. Método Laue por reflexión <ul><li>Aquí se coloca la placa fotográfica delante </li></ul><ul><li>del cristal con un pequeño agujero, cuando </li></ul><ul><li>las ondas atraviesan el cristal se reflejan </li></ul><ul><li>hacia arriba y generan una especie de </li></ul><ul><li>parábola proyectada en la </li></ul><ul><li>placa fotográfica. </li></ul>
  11. 11. Método de polvo o Debye-Scherrer. <ul><li>En este método se tiene que pulverizar de una manera muy fina los cristales de la muestra los cuales se mezclan con un material amorfo para compactarlo y poder obtener una buena reflexión de los rayos. El método consta de tener la placa fotográfica y en el centro la muestra del polvo </li></ul><ul><li>cristalino, cuando el efecto </li></ul><ul><li>del haz incide en el polvo, </li></ul><ul><li>los rayos se reflejan sobre </li></ul><ul><li>la placa fotográfica. </li></ul>
  12. 12. Aplicaciones de la difracción de rayos X. <ul><li>Identificación de sustancias cristalinas desconocidas. </li></ul><ul><li>Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas. </li></ul><ul><li>Caracterización y desarrollo de nuevos materiales. </li></ul><ul><li>Control de calidad de materias primas y productos finales. </li></ul><ul><li>Especiación de arcillas. </li></ul><ul><li>Determinación de transformaciones de fase. </li></ul><ul><li>Determinación de parámetros estructurales. </li></ul><ul><li>Determinación del grado de orden estructural. </li></ul><ul><li>Detección de imperfecciones cristalinas . </li></ul>
  13. 13. Bibliografia <ul><li>Ciencia e ingenieria de los materiales D.R askelland. </li></ul><ul><li>Caracterizacion de materiales , libro de J. Albella. </li></ul><ul><li>Tecnicas de caracterizacion RPS, consultoria de laboratorios S.L. </li></ul><ul><li>Estudio de la estructura y propiedades mecanicas. Magnetron sputtering. </li></ul>

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