3. En cualquier caso la imagen que se
obtiene del objeto es mayor que este
• Un rayo de luz puede
desviarse por reflexión
o refracción
• Los rayos de luz que
divergen desde un
punto de un objeto
pueden hacerse
coincidir con una lente
convergente
• Los electrones pueden
desviarse por campos
eléctricos o magnéticos
• Los electrones que
divergen desde un
punto de un objeto
pueden hacerse
converger por lentes
electrostáticas o
magnéticas
4. Las diferencias
• Tiene una resolución
hasta 200 nm
• La potencia
amplificadora está
limitada por la
longitud de onda de la
luz visible
• No se puede observar
la estructura interna
de las células ni
átomos aislados
• No existe limitación
de la longitud de la
onda
• Tienen una resolución
de 1.000 000 veces
(TEM) y 300.000
veces (SEM)
• Se obtienen
imágenes
tridimensionales
El microscopio óptico
El microscopio electrónico
5. • Físico e ingeniero electrónico
alemán
• Por este trabajo y las mejoras
posteriores de su invento,
compartió el Premio Nobel de
Física de 1986 con el físico alemán
Gerd Karl Binnig y el físico suizo
Heinrich Rohrer
• Junto con el físico alemán Max
Knoll, construyó el primer prototipo
en 1932.
• A pesar de que era rudimentario y
carecía de uso práctico, el
instrumento era capaz de ampliar
los objetos 400 veces, produciendo
imágenes mucho más precisas que
los microscópicos ópticos.
Ruska
1906 - 1988
diseñó el
primer
microscopio
electrónico
6.
7. Tipos de microscopios
electrónicos
• el microscopio electrónico de transmisión
(Transmission Electron Microscope, TEM)
• el microscopio electrónico de barrido
(Scanning Electron Microscope, SEM)
• microscopio electrónico de barrido y
transmisión (Scanning Trasnmission Electron
Microscope, STEM)
9. El microscopio electrónico de
transmisión (TEM)
• Un TEM dirige el haz de electrones hacia el
objeto que se desea aumentar
• Una parte de los electrones rebotan o son
absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan
formando una imagen aumentada del
espécimen
• La muestra debe cortarse en capas finas, no
mayores de un par de miles de ángstroms
• Se coloca una placa fotográfica o una pantalla
fluorescente detrás del objeto para registrar la
imagen aumentada
10. El microscopio electrónico de
barrido (SEM)
• Se crea una imagen ampliada de la superficie
de un objeto
• No es necesario cortar el objeto en capas, sino
que puede colocarse en el microscopio con
muy pocos preparativos
• Su funcionamiento se basa en recorrer la
muestra con un haz muy concentrado de
electrones, de forma parecida al barrido de un
haz de electrones por la pantalla de una
televisión
11. El microscopio electrónico de
barrido (SEM)
• Los electrones del haz pueden dispersarse de la
muestra o provocar la aparición de electrones
secundarios
• Los electrones perdidos y los secundarios son
recogidos y contados por un dispositivo electrónico
situado a los lados del espécimen.
• Cada punto leído de la muestra corresponde a un
píxel en un monitor de televisión.
• Cuanto mayor sea el número de electrones contados
por el dispositivo, mayor será el brillo del píxel en la
pantalla. A medida que el haz de electrones barre la
muestra, se presenta toda la imagen de la misma en
el monitor.
12. El microscopio electrónico de
barrido (SEM)
• Los microscopios electrónicos de barrido pueden
ampliar los objetos 100.000 veces o más
• El SEM explora la superficie de la imagen punto por
punto, al contrario que el TEM que examina una gran
parte de la muestra cada vez
• Este tipo de microscopio es muy útil porque, al
contrario que los TEM o los microscopios ópticos,
produce imágenes tridimensionales realistas de la
superficie del objeto
13. Microscopio de barrido y transmisión
(Scanning Trasnmission Electron Microscope,
STEM)
• Combina los elementos de un SEM y un TEM
• Puede mostrar los átomos individuales de un objeto
• Cuenta con un analizador de espectro de rayos X,
puede analizar los rayos X de alta energía que
produce el objeto al ser bombardeado con electrones
• La identidad de los diferentes átomos y moléculas de
un material se puede conocer utilizando sus
emisiones de rayos X
• No sólo se proporciona una imagen ampliada de la
muestra, sino que suministra también información
sobre la composición química del material.
