Recommended
More Related Content
Similar to InfiiniVision - A nova geração de Instrumentos de Testes de Sinais Mistos
Similar to InfiiniVision - A nova geração de Instrumentos de Testes de Sinais Mistos (20)
InfiiniVision - A nova geração de Instrumentos de Testes de Sinais Mistos
- 1. Página 1 A nova geração de Instrumentos de Teste de SinaisMistos
- 2. Página2 40’ 70’ 90’ 60’ 50’ 30’ 80’ 1999 Agilent 1973 Analisador Lógico 1960 Osciloscópio Amostragem 1964 Relógio Atômico 1970 Analisador de Redes de Microondas 1939 Fundação 1979 Sist. Integrado de desenvolvimento de Microprocessador 1992 Analisador de Espectro Óptico 1943 Entrada no mercado de microondas História da Agilent
- 4. Página 4 A Agilent no Brasil Presentedesde 1967; SedeemAlphaville, SP; Cercade 120 funcionários.
- 6. Manaus / AM
- 10. Jammer
- 12. Sampling oscilloscopes and TDR module
- 15. BERTSignal observation waveform, pattern, data, protocol pattern, data, protocol waveform, pattern, data, protocol TP2 TP3 TP4 TP1 Rx Tx PCB, cable, Fiber… waveform, pattern, data, protocol waveform, pattern, data, protocol Signalinsertion pattern, data, protocol Page 6
- 16. Página7 De volta ao básico: você já parou para pensar nisto? Em geral, temos: DUT (Rx) Gerador DUT (Tx) Analisador DUT (TX e Rx) Gerador Analisador Dut = Device under Test = Dispositivo sob teste
- 18. PSG
- 19. MXG
- 21. PSA
- 22. MXA
- 23. SA HH
- 24. SA Baixo Custo BancadaEstímulo/ Resposta DUT Network Analyzer: PNA, CAT, etc... Em RF:
- 26. InfiniiVision
- 27. Infiniium
- 28. DCA-J
- 33. Osciloscópios Agilent – VisãoGeral dos ProdutosEconômico e AplicaçãoGeral DCA-J Sampling 90000 X-Series 90000 Series Fastest Growing Scope Company 9000 Series 7000B Series 3000 X-Series 6000 Series U1604BSeries U2700Series 2000 X-Series Página11
- 34. Osciloscópios AgilentProdutosAlimentadospelaTecnologiaPersonalizada Nossoobjetivo é tornar-se líder no mercado de osciloscópios, o queexigeinvestimentosemtodo o portfolio. DCA-J Sampling ASIC Agilent personalizado. Tecnologiadesenvolvida paramercados de liderança de desempenho ASIC Agilent personalizado. Tecnologiadesenvolvidaparamercados de alto valor agregado. 90000 X-Series 90000 Series 9000 Series 7000B Series 3000 X-Series 6000 Series U1604BSeries U2700Series 2000 X-Series Página 12
- 36. Tempos de subidas mais rápidos, significam maiores harmônicos presentes no sinal.
- 37. Quando o conteúdoharmônico é desconhecido, o tempo de subidanecessário a ser consideradopara a largura de banda do osciloscópio.Encontrando a Máx Freq. Contida no Sinal (fmax) através do Tempo de Subida fmax= 0.5 / Tr (10%-90%) ou fmax = 0.4 / Tr (20%-80%) Então , a largura de bandaexigida de um osciloscópio é = fmax? Não, não é tão simples.
- 39. 1 GSa/s (SR = 2 x BW) 2 GSa/s (SR = 4 x BW) 4 GSa/s (SR = 8 x BW) Osciloscópio de 500-MHz (1 GSa/s vs 2 GSa/s vs. 4 GSa/s) Entrada = 100 MHz de clock com 1 ns de tempo de subida Relação SR vs BW maiorque 4 já é suficientepara Perfeitamedição do sinal!
- 40. 400 us/div 5 us/div 500 ns/div A: Deep Memory = Sustained Sample Rates Profundidade de MemóriaMegazoomRelação entre a Memória e a Taxa de Amostragem: 10G 2 GSa/s 10 KPts 100 KPts 8 MPts 1G 100M Taxa de Amostragem (Sa/s) 10M 1M 100K 1 us/div 1 ms/div 1 sec/div 10 ns/div 10 us/div 10 ms/div 100 ns/div 100 us/div 100 ms/div Base de Tempo (s/div)
- 41. MegaZoom 1s de Aquisição Profundidade de MemóriaMegazoomOs Benefícios da Alta Capacidade de Memória: Osciloscópio com Memória Megazoom - “ANALOG FEEL” Osciloscópio de Pouca Memória 1s de Aquisição PontosAmostrados: 50 pontos Resolução da Amostra: 20 ms PontosAmostrados: 5 pontos Resolução da Amostra: 200 ms
- 42. Comparação de Medidas 1 – SomenteCanaisAnalógicos Agilent InfiniiVision MSO7000 OutrosOsciloscópios Ambos osciloscópiossãocapazes de capturarrarasocorrências, mas… a próximatransparênciamostrará o queacontecequandooscanaisdigitaissãoligados
- 43. Comparação de Medidas 1 – CanaisDigitaisHabilitados OutrosOsciloscópios Agilent InfiniiVision MSO7000 Este osciloscópionãocaptura o glitch mesmosabendoqueeleestálá A arquitetura da Agilent habilitamedidasanalógicas, digitais e seriaissemprejuízos.
- 44. Diagrama de BlocosDiscreto de Osciloscópio 100-200 MByte/s 4 GByte/s Sinal A/D Acquisition Memory Manager ….. Plotter (FPGA &/or CPU) CPU processing 4 GByte/s Total 100-200 MByte/s D D R D D R D D R D D R DDR SinX/x, Averaging, MSO plotting, Serial Decode Math Measurements Build Display Image Store A/D data Taxa de Atualização = 100/s à 1000/s, algunsaté 10.000/s
- 45. Porqueistoacontece? Tempo de AquisiçãoFixo(com constanteprofundidade de memória e taxa de amostragem) Tempo Mortoaumenta com taxas de atualizaçãomenores Tempo de Aquisição Tempo de Processamento (Tempo Morto) RepeteContinuamente Arquitetura Agilent ArquiteturaGeral e Antiga Display Memory, Waveform Plotter, Memory Controller, and Acquisition Memory IC 4 Separate ICs Display Memory Waveform Plotter Memory Controller Acquisition Memory Único CI otimiza a atualizaçãoanalógica, digital e informaçõesseriais. Aumenta o tempo da comunicação “inter-chip” somado software decodificação serial significataxasmaislentas
- 46. OsciloscópioMegaZoom III Diagrama de Blocos Sinal Analógico MegaZoom III SOC ASIC 4 GB/s >> 1GB/s CPU (Math,Meas) Acquisition Memory Manager Plotter 2GB/s A/D RAM RAM A/D data 16 SinaisDigitais 16 >4 GB/s >> 1 GB/s Não é necessária a CPU paramuitasfunçõesbásicas Taxa de Atualização = até 100.000/s
- 47. OsciloscópioMegaZoom IV Diagrama de Blocos MegaZoom IV SOC ASIC acceleration @ Meas, Search 4 GB/s Meas Buffer (64K) SinalAnalógico CPU @ Math, Meas, Search Acquisition Memory Manager Plotter 2GB/s A/D DRAM Serial Decoders (simultaneous) Trigger 16 SinaisDigitais DRAM A/D Data 16 >4 GB/s >>4GB/s GUI CPU não é necessáriaparamuitasoperações Taxa de atualização de 1 Milhão/s, por um preçobemacessível Wave Gen synthesis Mask
- 48. A mesmamedida: Mudando a base de tempo 40ns20ns Desafio: Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo No Glitch Glitch Jitter Jitter OtherScope
- 49. Voltandoaos 10Kpts: Vamosadicionarcanaisdigitais (MSO) No Glitch Glitch Desafio: Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo Jitter Jitter OtherScope
- 50. A mesmamedida : Mudando o tamanho de memória Desafio: Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo No Glitch Glitch Jitter Jitter
- 51. Exemplo de Tempo de Subida de Trigger – Triggering Trigger em tempo de subidasincronizaaquisiçõsexclusivamenteembordasmaisdevagaresque 100ns .
- 52. Exemplo de Trigger em Tempo de Descida O trigger em tempo de descidasincronizaaquisiçõesexclusivamenteembordas de descidasmaislentasque 100ns.
- 53. MemóriaSegmentada - Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de Subida Seg #1000 @ 199.80 ms Seg #3 @ 400.00 µs Seg #2 @ 200.00 µs Seg #1 @ 0.0 sec Utilizando o trigger por tempo de subida com aquisição de memóriasegmentadacapturamos 1000 violaçõesconsecutivas de tempo de subidamais lentos que 100ns.
- 54. MemóriaSegmentada – Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de Descida Seg #1000 @ 199.80 ms Seg #2 @ 200.00 µs Seg #3 @ 400.00 µs Seg #1 @ 0.0 sec Using Fall Time triggering with Segmented Memory acquisition to capture 1000 consecutive falling edges slower than 100 ns.
- 56. Façamaiscom o poder de 4 instrumentosem 1: osciloscópio, analisadorlógico, gerador de funções e analisador de protocolos
- 58. Maisrápidataxa de atualização de 1,000,000 forma de ondas / segundo
- 60. Gerador de Forma de Ondas de 20MHz embutido
- 61. Osciloscópio de SinaisMistos(MSO) com +8 ou +16 canaisdigitais
- 68. new Accurate, Versatile, Integrated Único O Agilent 81150A O “must have” paraacelerar o teste ideal e do mundo real Teste o DUT e não o gerador Pulsos com precisão com altaestabilidade de tempo guarantia de testes repetitivos. 1µHz – 120 MHz pulse com variável tempo de rise/fall Trigger e Clock até 120 MHz CanaisAcoplados Coupled / DesacopladosUncoupled Gerador de Pulso Exerciteseudispositivoaolimite Formas de ondaversatéis e Modulaçõescapazers de adotar o sinal Com qquersinal do mundo real 1µHz – 240 MHz Seno 14 bit, 2 GSa/s forma de ondasarbitrárias FM, AM, PM, FSK, PWM até10 MHzmodulação de frequência, internamenteouexternamente GeradorFunçãoArbitrário Ruídorepetitivo e aleatório Combine osdoisextremos: Ruídorepetitivo com longastaxas de repetiçãoparaumaidentificação simples de um problema. Fator de Crista(Peak/RMS) selecionável 3.1, 4.8, 6, 7 Tipo de Ruído: repetitivo, aleatório e triggerable Repetição do Sinal >> 26 dias Gerador deRuído
- 69. Adicioneruído vertical com variação de amplitude paratestar a tolerância do seu receptor à ruído.
- 70. Estimule glitches com amplitudes e larguras de pulsosvariavéis
- 71. Gereatrasosassimétricos e formas de onda de váriostipos.
- 72. Ajuste a amplitude paraverificar a sensibilidade de um “receiver”
- 73. Aduste o quadro de atrasoparaverificaroslimites de dados (slot boundaries)
- 74. Integração no ambiente de Desenvolvimento de Clientes Patentspending Accurate, Versatile, Integrated Exchange file formats Customers Tool Chain Descarregueqquer forma de onda da ferramenta do 81150A via GPIB, LAN ou USB Carregue o sinalparaa ferramentapara novas ações Agilent 5/6000 scope series PSpice VEE MatLabbinary *.mat ASCII *.dat LabView Excel *.csv ADS .sdf.tim.spw Import Viewer *.bmp IntuiLink SW includes Waveform Editor I/O Library or IVI-COM I/O Library or IVI-COM Visual Basic Script using I/O Library or IVI-COM *.wvf Own General Purpose *.txt *.prn Download USB, GPIB, LAN 512 k memory / channel Exercite o dispositivo até o seulimite Capture ossinais DuT
- 75. Acesse – de qquerlugar e a qquerhora
- 76. Connect Acquire Display Duasformas de Medição – Aquisição Análise de Estado (Lógica de Eventos) Análise de Tempo (Tempo Lógico)
- 77. Connect Acquire Display Análise de Tempo (Assíncrona) Informaquandoo eventoocorreu Exibe as relações de borda de tempo Disparaaquisiçãoatravés de múltiploscanais Análogo a um osciloscópio com 1 bit de resolução Eficientenadepuração de problemas de hardware Assíncrona – Relógio de Amostravem do AnalisadorLógico
- 78. Forma de Onda de Análise de Tempo Connect Acquire Display
- 79. Connect Acquire Display Duasformas de Medição – Aquisição Análise de Estado (Lógica de Eventos) Análise de Tempo (Tempo Lógico)
- 82. Segue problemasfuncionais e fluxo de código
- 83. Útilpara a depuração de software e integração hardware/softwareSíncrono – Relógio de Amostragemvem do dispositvo sob teste (DUT)
- 84. Connect Acquire Display Domínio do Estado – State Domain AA 0C 61 B3 DATA CLOCK Data Clock 1 AA 2 0C 3 B3
- 85. Connect Acquire Display Medidas de Análise de Estado
- 86. Utilizando um AnalisadorLógico/ProtocolovsOsciloscópio Logic Analyzer Basics Webcast Agilent Technologies Page 52 September 23, 2008
- 87. Perguntas???
Editor's Notes
- Como a Agilent pode alcançar 1 milhão de formas de onda por segundo de atualização de tela?Como a Agilent pode acondicionar tanto neste valor? Vamos observar a arquitetura comum de alguns osciloscópios. Realmente, esta é a arquitetura da Agilent (HP na época) pioneira no início dos anos 90 com a família séria HP54600. Podemos abrir qquer modelo no mercado atual e ainda encontrar esta arquitetura básica. Enquanto alguns fabricantes podem produzir osciloscópios com blocos funcionais discretos, o desempenho é limitado a uma série de conhecidos problemas de integração de sistemas (exemplos: Térmicos, velocidades de I/O (Input/Output – Entrada/Saída), dissipação de potência, custo, CPU / FPGA MIPS, largura de dados pelo bus) (driving IO over FR4, buswidths)Desempenho em um número de áreas pode ser comprometido, taxa de atualização, rendimento de medidas, em geral desacelarando conforme o usuário aumenta a complexidade do problema sendo solucionado. Ainda mais sútil é um sem número de trocas que os engenheiros de produto e desenvolvimento de executar para contornar estas limitações. Por exemplo, muitos osciloscópios, hoje em dia permitem selecionar a quantidade de memória, para melhorar alguns dos problemas relatados de integração de sistema. As vezes, alguns produtos são apenas “ajustados” para atingir suas especificações de “manchete” apresentando apenas alguns pontos interessantes, mas que na realidade não ajudam os usuários a resolver ou solucionar problemas de desenvolvimento (cenários) comuns e triviais. Adicionalmente com uma grande quantidade de componentes discretos, mais conexões e partes estão propensas a falhar, aumentando a taxa de falha e mais dissipação térmica.
- A primeira questão que todos sempre se perguntam é “como isto é possível – como isto acontece?”. Então vamos tomar 1 minuto para falar sobre o que o osciloscópio tem de fazer para obter a representação de um sinal sob teste na sua tela. Ele tem de adquirir o dado, então tem de processar e “massagear” até que apareçam pontos iluminados na tela. Então repete este ciclo repetidas vezes. Enquanto está processando o dado para apresenta-lo na tela, ele não está adquirindo dados, então está virtualmente “cego” para o que realmente está acontecendo com o sinal sob teste. O tempo de aquisição é constante com constante profundidade de memporia e taxa de amostragem, mas o tempo morto incrementa quanto mais lenta é a taxa de atualização. Mais tempo morto, menor segurança que vc observará eventos que ocorram com pouca frequência (glitches)..<Primeiro Click> Nósnãopodemosoferecer 100% de garantiaqueestamoscorretos, masnósescolhemos um equipamento da concorrênciaparadesmontá-lo e descobrirquehá 4 diferentes CI’s quefazem 4 funções de memória de display, desenho da forma de onda (waveform plotter) controle da memória e aquisição da memória. Leva tempo paraenviar e comunicar dados entre estes CI’s, e aindadeixa o trabalho de decodificação de dados para o software, o quetipicamentedeixaaindamais lento, também. <Segundo Click> A Agilent “construiu – engenheirou” todasestasfunçõesem um único CI e também o utilizamosparaacelerar a decodificação serial em hardware. Istoresultaem um tempo mortomenor, taxas de atualização de telasmaisrápidas e umamelhorprobablidade de capturar o querealmenteacontece com o seusinalmesmoquenãoacontece com muitafrequência (glitches). Para entender o porque, nós nos aventuraremos a nossas últimas aulas de estatística. (Falta significado nesta frase, foi cortado da sequência de slides)
- Pela Integração, nós podemos aproveitar o alto desempenho dos barramentos internos, atingindo a liderança de mercado com a atualização de tela e a visualização de sinais nos sistemas de nossos usuários. Não nos limitamos as restrições de velocidade de barramentos ou a largura de barramentos de entrada e saída permitida pela tecnologia de componentes discretos. Isto também nos ajuda a economizar custos, espaço e dissipação como conservação de energia (baixo consumo). Os locais de integração são muitos e chaves como funções de CPU/SW no hardware, permitindo um incremento no desempenho de muitas funções como por exemplo as medidas, decodificação seriais, reconstrução de Seno X/X, médias etc. Este aumento direto de desempenho permite libertar largura de banda da CPU para endereçar outras tarefas como busca, comunicação, impressão e etc. Juntos, isto incrementa o desempenho por uma larga gama condições de operação do usuário, facilitando a compreensão do sistema sob teste.
- No Agilent MegaVision IV temos(instantiation (instanciação)), - Todosospontos de desempenhoforamaperfeiçoadosnovamente, - Maisaceleração das funcionalidadesestãoincludaspreservando a otimização das faixas de operação e produtividade e aumentando a prospecção do sinal sob testeBemcomo a inclusãosistemática de maisfuncionalidades no osciloscópiosquereduzemcustos (e ajudam no desempenho)Quandotudo é somado, nãoháprodutocontempôraneo no mercado de suaclassepróximodestascaracterísticas, de fato tem atributos de um produtomuitomaiscaro, masdisponível agora a um amplogrupo e segmento de engenheiros e técnicosquenecessitamcolocarseusprodutos e serviços no mercadorapidamente.
- Exemplo de Trigger de Tempo de SubidaNesteexemplo de medida, nósajustamos o osciloscópiopara “triggar” exclusivamenteembordas de subidamaisdevagaresque 100ns.
- Exemplo de Trigger de Tempo de DescidaNesteexemplo de medida, nósajustamos o osciloscópio a “triggar” exclusivamenteembordas de descidasmaislentasque 100ns. Vamos agora utilizar a aquisiçãoemmemóriasegmentadaparacapturar 1000 ocorrênciasconsecutivas com bordas de subidasmaislentasque 100ns , e também 1000 ocorrênciasconsecutivas com bordas de descidamaislentasque 100ns.
- MemóriaSegmentadaCaptura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de SubidaEnquanto “trigando” em tempo de subidaemais lentos que 100ns,nósutilizamos a memóriasegmentadaparacapturar 1000 ocorrênciasconsecutivasnaborda de subidamaislentaque 100ns. Observe que a captura da últimaviolaçãoocorreualgoemtorno de 200ns após a primeiraviolação.
- MemóriaSegmentada – Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de DescidaAquimostramos um exemplo similar ao anterior capturando 1000 ocorrênciasconsecutivas da borda de descidamasilentasque 100ns. Novamentecapturamos a violação 1000 aproximadamente 200ms após a primeiraviolação.
- Quando vc utiliza um analisador lógico versus um osciloscópio? O maior valor de um analisador lógico é observar muitos sinais de uma só vez. É também muito útil em observar os sinais que o seu sistema vê, em análise de estado. Vc pode disparar (trigger) em diferentes padrões de altos e baixos em muitas linhas e observar o resultado. Estas posições de trigger pode determinar a causa raiz do problema. Em adição, vc pode verificar a relação de tempo entre muito ou centena de linhas de sinal, em análise de tempo. Reciprocamente um osciloscópio dá a vc um intervalo de tempo preciso. E observa as características analógicas do sinal. É importante notar que estas duas ferramentas podem com frequência ser utilizadas simultâneamente quando analisando depurações digitais. Nenhuma é reposição da outra – Elas são complementares.