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InfiiniVision - A nova geração de Instrumentos de Testes de Sinais Mistos
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InfiiniVision - A nova geração de Instrumentos de Testes de Sinais Mistos

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  • Como a Agilent pode alcançar 1 milhão de formas de onda por segundo de atualização de tela?Como a Agilent pode acondicionar tanto neste valor? Vamos observar a arquitetura comum de alguns osciloscópios. Realmente, esta é a arquitetura da Agilent (HP na época) pioneira no início dos anos 90 com a família séria HP54600. Podemos abrir qquer modelo no mercado atual e ainda encontrar esta arquitetura básica. Enquanto alguns fabricantes podem produzir osciloscópios com blocos funcionais discretos, o desempenho é limitado a uma série de conhecidos problemas de integração de sistemas (exemplos: Térmicos, velocidades de I/O (Input/Output – Entrada/Saída), dissipação de potência, custo, CPU / FPGA MIPS, largura de dados pelo bus) (driving IO over FR4, buswidths)Desempenho em um número de áreas pode ser comprometido, taxa de atualização, rendimento de medidas, em geral desacelarando conforme o usuário aumenta a complexidade do problema sendo solucionado. Ainda mais sútil é um sem número de trocas que os engenheiros de produto e desenvolvimento de executar para contornar estas limitações. Por exemplo, muitos osciloscópios, hoje em dia permitem selecionar a quantidade de memória, para melhorar alguns dos problemas relatados de integração de sistema. As vezes, alguns produtos são apenas “ajustados” para atingir suas especificações de “manchete” apresentando apenas alguns pontos interessantes, mas que na realidade não ajudam os usuários a resolver ou solucionar problemas de desenvolvimento (cenários) comuns e triviais. Adicionalmente com uma grande quantidade de componentes discretos, mais conexões e partes estão propensas a falhar, aumentando a taxa de falha e mais dissipação térmica.
  • A primeira questão que todos sempre se perguntam é “como isto é possível – como isto acontece?”. Então vamos tomar 1 minuto para falar sobre o que o osciloscópio tem de fazer para obter a representação de um sinal sob teste na sua tela. Ele tem de adquirir o dado, então tem de processar e “massagear” até que apareçam pontos iluminados na tela. Então repete este ciclo repetidas vezes. Enquanto está processando o dado para apresenta-lo na tela, ele não está adquirindo dados, então está virtualmente “cego” para o que realmente está acontecendo com o sinal sob teste. O tempo de aquisição é constante com constante profundidade de memporia e taxa de amostragem, mas o tempo morto incrementa quanto mais lenta é a taxa de atualização. Mais tempo morto, menor segurança que vc observará eventos que ocorram com pouca frequência (glitches)..<Primeiro Click> Nósnãopodemosoferecer 100% de garantiaqueestamoscorretos, masnósescolhemos um equipamento da concorrênciaparadesmontá-lo e descobrirquehá 4 diferentes CI’s quefazem 4 funções de memória de display, desenho da forma de onda (waveform plotter) controle da memória e aquisição da memória. Leva tempo paraenviar e comunicar dados entre estes CI’s, e aindadeixa o trabalho de decodificação de dados para o software, o quetipicamentedeixaaindamais lento, também. <Segundo Click> A Agilent “construiu – engenheirou” todasestasfunçõesem um único CI e também o utilizamosparaacelerar a decodificação serial em hardware. Istoresultaem um tempo mortomenor, taxas de atualização de telasmaisrápidas e umamelhorprobablidade de capturar o querealmenteacontece com o seusinalmesmoquenãoacontece com muitafrequência (glitches). Para entender o porque, nós nos aventuraremos a nossas últimas aulas de estatística. (Falta significado nesta frase, foi cortado da sequência de slides)
  • Pela Integração, nós podemos aproveitar o alto desempenho dos barramentos internos, atingindo a liderança de mercado com a atualização de tela e a visualização de sinais nos sistemas de nossos usuários. Não nos limitamos as restrições de velocidade de barramentos ou a largura de barramentos de entrada e saída permitida pela tecnologia de componentes discretos. Isto também nos ajuda a economizar custos, espaço e dissipação como conservação de energia (baixo consumo). Os locais de integração são muitos e chaves como funções de CPU/SW no hardware, permitindo um incremento no desempenho de muitas funções como por exemplo as medidas, decodificação seriais, reconstrução de Seno X/X, médias etc. Este aumento direto de desempenho permite libertar largura de banda da CPU para endereçar outras tarefas como busca, comunicação, impressão e etc. Juntos, isto incrementa o desempenho por uma larga gama condições de operação do usuário, facilitando a compreensão do sistema sob teste.
  • No Agilent MegaVision IV temos(instantiation (instanciação)), - Todosospontos de desempenhoforamaperfeiçoadosnovamente, - Maisaceleração das funcionalidadesestãoincludaspreservando a otimização das faixas de operação e produtividade e aumentando a prospecção do sinal sob testeBemcomo a inclusãosistemática de maisfuncionalidades no osciloscópiosquereduzemcustos (e ajudam no desempenho)Quandotudo é somado, nãoháprodutocontempôraneo no mercado de suaclassepróximodestascaracterísticas, de fato tem atributos de um produtomuitomaiscaro, masdisponível agora a um amplogrupo e segmento de engenheiros e técnicosquenecessitamcolocarseusprodutos e serviços no mercadorapidamente.
  • Exemplo de Trigger de Tempo de SubidaNesteexemplo de medida, nósajustamos o osciloscópiopara “triggar” exclusivamenteembordas de subidamaisdevagaresque 100ns.
  • Exemplo de Trigger de Tempo de DescidaNesteexemplo de medida, nósajustamos o osciloscópio a “triggar” exclusivamenteembordas de descidasmaislentasque 100ns. Vamos agora utilizar a aquisiçãoemmemóriasegmentadaparacapturar 1000 ocorrênciasconsecutivas com bordas de subidasmaislentasque 100ns , e também 1000 ocorrênciasconsecutivas com bordas de descidamaislentasque 100ns.
  • MemóriaSegmentadaCaptura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de SubidaEnquanto “trigando” em tempo de subidaemais lentos que 100ns,nósutilizamos a memóriasegmentadaparacapturar 1000 ocorrênciasconsecutivasnaborda de subidamaislentaque 100ns. Observe que a captura da últimaviolaçãoocorreualgoemtorno de 200ns após a primeiraviolação.
  • MemóriaSegmentada – Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de DescidaAquimostramos um exemplo similar ao anterior capturando 1000 ocorrênciasconsecutivas da borda de descidamasilentasque 100ns. Novamentecapturamos a violação 1000 aproximadamente 200ms após a primeiraviolação.
  • Quando vc utiliza um analisador lógico versus um osciloscópio? O maior valor de um analisador lógico é observar muitos sinais de uma só vez. É também muito útil em observar os sinais que o seu sistema vê, em análise de estado. Vc pode disparar (trigger) em diferentes padrões de altos e baixos em muitas linhas e observar o resultado. Estas posições de trigger pode determinar a causa raiz do problema. Em adição, vc pode verificar a relação de tempo entre muito ou centena de linhas de sinal, em análise de tempo. Reciprocamente um osciloscópio dá a vc um intervalo de tempo preciso. E observa as características analógicas do sinal. É importante notar que estas duas ferramentas podem com frequência ser utilizadas simultâneamente quando analisando depurações digitais. Nenhuma é reposição da outra – Elas são complementares.
  • Transcript

    • 1. Página 1<br />A nova geração de Instrumentos de Teste de SinaisMistos<br />
    • 2. Página2<br />40’<br />70’<br />90’<br />60’<br />50’<br />30’<br />80’<br />1999<br />Agilent<br />1973<br />Analisador Lógico<br />1960<br />Osciloscópio Amostragem<br />1964<br />Relógio Atômico<br />1970<br />Analisador de Redes de Microondas<br />1939<br />Fundação<br />1979<br />Sist. Integrado de desenvolvimento de Microprocessador<br />1992<br />Analisador de Espectro Óptico<br />1943 Entrada no mercado de microondas<br />História da Agilent <br />
    • 3. Página3<br />História da Agilent <br />1999<br />2000<br />2002<br />2004<br />2006<br />2008<br />2009<br />2011<br /><ul><li>2003</li></ul>Gerador de Sinais (ESG)<br />DSO9000X<br />And <br />PNA X<br />Connectivity<br />MSO<br />DSO<br />Adaptador<br />AnalisadorÓptico<br />GS80001<br />
    • 4. Página 4 <br />A Agilent no Brasil<br />Presentedesde 1967;<br />SedeemAlphaville, SP;<br />Cercade 120 funcionários.<br />
    • 5. Página5<br />Laboratório de Calibração e Manutenção<br />5 laboratórios no Brasil:<br /><ul><li> Alphaville / Barueri / SP
    • 6. Manaus / AM
    • 7. 2 Implantados
    • 8. 1 Móvel</li></li></ul><li>Página6<br />Digital Test DivisionMeeting Every Digital Test Point Need<br />Functional Layer<br /><ul><li>Protocol analyzer
    • 9. Logic analyzer
    • 10. Jammer
    • 11. Protocol exerciser</li></ul>Physical Layer<br /><ul><li>Real-time oscilloscopes
    • 12. Sampling oscilloscopes and TDR module
    • 13. Vector Network Analyzer
    • 14. Pulse/pattern generator
    • 15. BERT</li></ul>Signal observation<br />waveform, pattern, data, protocol<br />pattern, data, protocol<br />waveform, pattern, data, protocol<br />TP2<br />TP3<br />TP4<br />TP1<br />Rx<br />Tx<br />PCB, cable, Fiber…<br />waveform, pattern, data, protocol<br />waveform, pattern, data, protocol<br />Signalinsertion<br />pattern, data, protocol<br />Page 6<br />
    • 16. Página7<br />De volta ao básico: você já parou para pensar nisto?<br />Em geral, temos:<br />DUT (Rx)<br />Gerador<br />DUT (Tx)<br />Analisador<br />DUT <br />(TX e Rx)<br />Gerador<br />Analisador<br />Dut = Device under Test = Dispositivo sob teste<br />
    • 17. Página8<br />De volta ao básico: você já parou para pensar nisto?<br />DUT<br />Gerador<br />Analisador<br />Gerador de RF<br /><ul><li> ESG
    • 18. PSG
    • 19. MXG
    • 20. SG Baixo Custo Bancada</li></ul>Em RF:<br />Analisador de Espectro<br /><ul><li> ESA
    • 21. PSA
    • 22. MXA
    • 23. SA HH
    • 24. SA Baixo Custo Bancada</li></ul>Estímulo/ Resposta<br />DUT <br />Network Analyzer: PNA, CAT, etc...<br />Em RF:<br />
    • 25. Página9<br />De volta ao básico: você já parou para pensar nisto?<br />DUT<br />Gerador<br />Analisador<br />Osciloscópios:<br /><ul><li> HH
    • 26. InfiniiVision
    • 27. Infiniium
    • 28. DCA-J
    • 29. LogicAnalyzers</li></ul>Gerador de Pulsos ou Padões<br /><ul><li>PPG;
    • 30. AWG: 81150A, 332xxA</li></ul>Em Digitais<br />(ou bandabase):<br />Estímulo/ Resposta<br />DUT <br />Em Digitais<br />(ou bandabase):<br /><ul><li> Testadores de BER
    • 31. LogicAnalyzers com PatternGenerator
    • 32. PCIeAnalyzer/Exerciser</li></li></ul><li>Página 10<br />E o DUT (Device Under Test = Dispositivo sob Teste) ?<br />Domínio da Frequência<br />Rádios, cabos e antenas<br />Gerador RF<br />Analisador <br />RF<br />Entrada RF<br />Saída RF<br />DUT<br />Gerador <br />Bandabase<br />Analisador<br />Bandabase<br />Saída <br />Bandabase<br />Entrada <br />Bandabase<br />Rádios, cabos, e todos os outros<br />Domínio do Tempo, da Frequencia e Protocolos<br />
    • 33. Osciloscópios Agilent – VisãoGeral dos ProdutosEconômico e AplicaçãoGeral<br />DCA-J Sampling <br />90000 X-Series <br />90000 Series <br />Fastest Growing Scope Company<br />9000 Series <br />7000B Series <br />3000 X-Series <br />6000 Series <br />U1604BSeries<br />U2700Series<br />2000 X-Series <br />Página11<br />
    • 34. Osciloscópios AgilentProdutosAlimentadospelaTecnologiaPersonalizada<br />Nossoobjetivo é tornar-se líder no mercado de osciloscópios, o queexigeinvestimentosemtodo o portfolio. <br />DCA-J Sampling <br />ASIC Agilent personalizado.<br />Tecnologiadesenvolvida<br />paramercados de liderança de desempenho<br />ASIC Agilent personalizado. Tecnologiadesenvolvidaparamercados de alto <br />valor agregado.<br />90000 X-Series <br />90000 Series <br />9000 Series <br />7000B Series <br />3000 X-Series <br />6000 Series <br />U1604BSeries<br />U2700Series<br />2000 X-Series <br />Página 12 <br />
    • 35. A definição de fmaxserá a mesmaque “Knee Frequency” descritanaliteratura “High-Speed Digital Desing – A handbook of Black magic” de Grahan Johnson. É a largura de bandaquecontém a maiorquantidade de energiadentro de um dado sinal digital. <br />Encontrando a MáximaFrequênciaContidaem um Sinal<br /><ul><li>Taxa de Dados sozinhanãodetermina o tempo de subida de um sinal (Cadapadrão tem o seuparâmetro de Tr)
    • 36. Tempos de subidas mais rápidos, significam maiores harmônicos presentes no sinal.
    • 37. Quando o conteúdoharmônico é desconhecido, o tempo de subidanecessário a ser consideradopara a largura de banda do osciloscópio.</li></ul>Encontrando a Máx Freq. Contida no Sinal (fmax) através do Tempo de Subida<br />fmax= 0.5 / Tr (10%-90%)<br />ou<br />fmax = 0.4 / Tr (20%-80%)<br />Então , a largura de bandaexigida de um osciloscópio é = fmax? Não, não é tão simples.<br />
    • 38. Page 14<br />Quallargura de bandarealmente é necessária?<br /><ul><li>Banda do osciloscópionecessáriaportipo de arquitetura:</li></ul>BWscope = 2 BWsignal(osciloscópio com resp. em freq. Gaussiana, <1GHz)<br />BWscope = 1.4 BWsignal(osciloscópio com resp. em freq. plana, >1GHz)<br /><ul><li>Ambos cálculosresultamemerros de aproximadamente 3%.</li></ul>Oscilloscopes Basics<br />Agilent Confidential <br />October 15, 2009<br />
    • 39. 1 GSa/s (SR = 2 x BW)<br />2 GSa/s (SR = 4 x BW)<br />4 GSa/s (SR = 8 x BW)<br />Osciloscópio de 500-MHz (1 GSa/s vs 2 GSa/s vs. 4 GSa/s)<br />Entrada = 100 MHz de clock com 1 ns de tempo de subida<br />Relação SR vs BW maiorque 4 já é suficientepara<br />Perfeitamedição do sinal! <br />
    • 40. 400 us/div<br />5 us/div<br />500 ns/div<br />A: Deep Memory = Sustained Sample Rates<br />Profundidade de MemóriaMegazoomRelação entre a Memória e a Taxa de Amostragem:<br />10G<br />2 GSa/s<br /> 10 KPts<br />100 KPts<br />8 MPts<br />1G<br />100M<br />Taxa de Amostragem (Sa/s)<br />10M<br />1M<br />100K<br />1 us/div<br />1 ms/div<br />1 sec/div<br />10 ns/div<br />10 us/div<br />10 ms/div<br />100 ns/div<br />100 us/div<br />100 ms/div<br />Base de Tempo (s/div)<br />
    • 41. MegaZoom<br />1s de Aquisição<br />Profundidade de MemóriaMegazoomOs Benefícios da Alta Capacidade de Memória:<br />Osciloscópio com Memória<br />Megazoom - “ANALOG FEEL”<br />Osciloscópio de Pouca<br />Memória<br />1s de Aquisição<br />PontosAmostrados: 50 pontos<br />Resolução da Amostra: 20 ms<br />PontosAmostrados: 5 pontos<br />Resolução da Amostra: 200 ms<br />
    • 42. Comparação de Medidas 1 – SomenteCanaisAnalógicos<br />Agilent InfiniiVision MSO7000<br />OutrosOsciloscópios<br />Ambos osciloscópiossãocapazes de capturarrarasocorrências, mas… a próximatransparênciamostrará o queacontecequandooscanaisdigitaissãoligados<br />
    • 43. Comparação de Medidas 1 – CanaisDigitaisHabilitados<br />OutrosOsciloscópios<br />Agilent InfiniiVision MSO7000<br />Este osciloscópionãocaptura o glitch mesmosabendoqueeleestálá<br />A arquitetura da Agilent habilitamedidasanalógicas, digitais e seriaissemprejuízos.<br />
    • 44. Diagrama de BlocosDiscreto de Osciloscópio<br />100-200 MByte/s<br />4 GByte/s<br />Sinal<br />A/D<br />Acquisition Memory Manager<br />…..<br />Plotter<br />(FPGA &/or CPU)<br />CPU processing<br />4 GByte/s<br />Total<br />100-200 MByte/s<br />D D R<br />D D R<br />D D R<br />D D R<br />DDR<br />SinX/x, Averaging, <br />MSO plotting, Serial Decode<br />Math<br />Measurements<br />Build Display Image<br />Store <br />A/D data<br />Taxa de Atualização = 100/s à 1000/s, algunsaté 10.000/s<br />
    • 45. Porqueistoacontece?<br />Tempo de AquisiçãoFixo(com constanteprofundidade de memória e taxa de amostragem)<br />Tempo Mortoaumenta com taxas de atualizaçãomenores<br />Tempo de Aquisição<br />Tempo de Processamento (Tempo Morto)<br />RepeteContinuamente<br />Arquitetura Agilent <br />ArquiteturaGeral e Antiga<br />Display Memory, Waveform Plotter, Memory Controller, and Acquisition Memory IC<br />4 Separate ICs<br />Display Memory<br />Waveform Plotter<br />Memory Controller<br />Acquisition Memory<br />Único CI otimiza a atualizaçãoanalógica, digital e informaçõesseriais.<br />Aumenta o tempo da comunicação “inter-chip” somado software decodificação serial significataxasmaislentas<br />
    • 46. OsciloscópioMegaZoom III Diagrama de Blocos<br />Sinal<br />Analógico<br />MegaZoom III SOC ASIC<br />4 <br />GB/s<br />>> 1GB/s <br />CPU (Math,Meas)<br />Acquisition Memory Manager<br />Plotter<br />2GB/s<br />A/D<br />RAM<br />RAM<br />A/D data<br />16 SinaisDigitais<br />16<br />>4 <br />GB/s<br />>> 1 GB/s<br />Não é necessária a CPU paramuitasfunçõesbásicas<br />Taxa de Atualização = até 100.000/s<br />
    • 47. OsciloscópioMegaZoom IV Diagrama de Blocos<br />MegaZoom IV SOC ASIC<br />acceleration @ Meas, Search<br />4 <br />GB/s<br />Meas Buffer (64K)<br />SinalAnalógico<br />CPU @<br />Math, Meas, Search<br />Acquisition Memory Manager<br />Plotter<br />2GB/s<br />A/D<br />DRAM<br />Serial Decoders<br />(simultaneous)<br />Trigger<br />16 SinaisDigitais<br />DRAM<br />A/D Data<br />16<br />>4<br />GB/s<br />>>4GB/s<br />GUI<br />CPU não é necessáriaparamuitasoperações<br />Taxa de atualização de 1 Milhão/s, por um preçobemacessível<br />Wave Gen synthesis<br />Mask<br />
    • 48. A mesmamedida: Mudando a base de tempo 40ns20ns<br />Desafio: <br />Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo<br />No Glitch<br />Glitch<br />Jitter<br />Jitter<br />OtherScope<br />
    • 49. Voltandoaos 10Kpts: Vamosadicionarcanaisdigitais (MSO)<br />No Glitch<br />Glitch<br />Desafio: <br />Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo<br />Jitter<br />Jitter<br />OtherScope<br />
    • 50. A mesmamedida : Mudando o tamanho de memória<br />Desafio: <br />Display do sinalqueocorre 25 vezesporsegundo<br />No Glitch<br />Glitch<br />Jitter<br />Jitter<br />
    • 51. Exemplo de Tempo de Subida de Trigger – Triggering <br />Trigger em tempo de subidasincronizaaquisiçõsexclusivamenteembordasmaisdevagaresque 100ns . <br />
    • 52. Exemplo de Trigger em Tempo de Descida<br />O trigger em tempo de descidasincronizaaquisiçõesexclusivamenteembordas de descidasmaislentasque 100ns. <br />
    • 53. MemóriaSegmentada - Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de Subida<br />Seg #1000 @ 199.80 ms<br />Seg #3 @ 400.00 µs<br />Seg #2 @ 200.00 µs<br />Seg #1 @ 0.0 sec<br />Utilizando o trigger por tempo de subida com aquisição de memóriasegmentadacapturamos 1000 violaçõesconsecutivas de tempo de subidamais lentos que 100ns.<br />
    • 54. MemóriaSegmentada – Captura 1000 ViolaçõesConsecutivas do Tempo de Descida<br />Seg #1000 @ 199.80 ms<br />Seg #2 @ 200.00 µs<br />Seg #3 @ 400.00 µs<br />Seg #1 @ 0.0 sec<br />Using Fall Time triggering with Segmented Memory acquisition to capture 1000 consecutive falling edges slower than 100 ns.<br />
    • 55. Title Text – Arial 28 pt Bold, Agilent Blue<br />OsciloscópioInfiniiVision 2000 e 3000 X-Series<br />Osciloscópiosredefinidos: Tecnologiaavançadaentregamaisosciloscópiopelomesmo valor<br /><ul><li>Vejamaisdo seusinalpormais tempo com a maisrápidataxa de atualização de forma de ondas da industria
    • 56. Façamaiscom o poder de 4 instrumentosem 1: osciloscópio, analisadorlógico, gerador de funções e analisador de protocolos
    • 57. Obtenhamaisproteção de seuinvestimento com o únicoosciloscópioatualizável no mercado, incluindolargura de banda de frequência, </li></li></ul><li>Title Text – Arial 28 pt Bold, Agilent Blue<br />OsciloscópioInfiniiVision 2000 e 3000 X-Series<br />Vejamaisdo seusinalpormais tempo<br /><ul><li>Maior Display 8.5” WVGA
    • 58. Maisrápidataxa de atualização de 1,000,000 forma de ondas / segundo
    • 59. Profundidade de Memória de até 4 M points com a tecnologiaMegaZoom IV</li></li></ul><li>Title Text – Arial 28 pt Bold, Agilent Blue<br />OsciloscópioInfiniiVision 2000 e 3000 X-Series<br />Façamaiscom o poder de 4 instrumentosem 1:<br /><ul><li>O melhorosciloscópio de suaclasse
    • 60. Gerador de Forma de Ondas de 20MHz embutido
    • 61. Osciloscópio de SinaisMistos(MSO) com +8 ou +16 canaisdigitais
    • 62. Analisador de Protocolo com decodificação serial baseadaem hardware. </li></li></ul><li>Title Text – Arial 28 pt Bold, Agilent Blue<br />OsciloscópioInfiniiVision 2000 e 3000 X-Series<br />Obtenhamaisproteção de seuinvestimento com o únicoosciloscópioatualizável no mercado, incluindolargura de banda de frequência, <br /><ul><li>Largura de bandaatualizável
    • 63. Canais MSO digitaisatualizavéis
    • 64. Gerador de Funçãoatualizável
    • 65. Aplicativos de MedidasAtualizavéis</li></li></ul><li>Aplicativos de Medidas do InfiniiVision<br /><ul><li>WaveGenúnicogerador de funçõesintegrado de 20MHz
    • 66. Serial Decode/Trigger</li></ul>Baseadoem hardware paramanter a taxa de atualização com busca e navegação<br /><ul><li>Mask Testing até 280.000 testes porsegundo
    • 67. Segmented Memory capturaseletivamenteaté 1.000 segmentos</li></li></ul><li>OsciloscópiosInfiniiVision<br />A partir deR$ 13.756,50<br />A partir de<br />R$3.125,90<br />A partir de<br />R$7.144,30<br />3000 X-Series <br />100/200/350/500 MHz <br />4 GSa/s <br />Up to 4 Mpts<br />2 or 4 analog<br />+ 16 digital <br />8.5” WVGA <br />1,000,000 wfm/s <br />Option <br />Option<br />Option<br />Option <br />Yes<br />2000 X-Series <br />70/100/200 MHz <br />2 GSa/s <br />100 kpts<br />2 or 4 analog<br />+ 8 digital <br />8.5” WVGA <br />50,000 wfm/s <br />Option<br />Option<br />Option<br />No <br />No<br />7000B Series <br />100//350/500M, 1GHz <br />4 GSa/s <br />Up to 8 Mpts<br />2 or 4 analog<br />+ 16 digital <br />12.1” XGA <br />100,000 wfm/s <br />No <br />Option<br />Option<br />Option <br />Yes<br />Largura de Banda<br />Taxa de Amostragem<br />Memória<br />Canais<br />MSO <br />Display <br />Taxa de atualização<br />WaveGen<br />Mask test<br />Segmented<br />Serial decode<br />Search & nav<br />Modelos básicos impostos inclusos<br />
    • 68. new<br />Accurate, Versatile, Integrated<br />Único<br />O Agilent 81150A<br />O “must have” paraacelerar o teste ideal e do mundo real<br />Teste o DUT e não o gerador<br />Pulsos com precisão<br />com altaestabilidade de tempo guarantia de testes repetitivos.<br />1µHz – 120 MHz pulse com variável tempo de rise/fall <br />Trigger e Clock até 120 MHz<br />CanaisAcoplados Coupled / DesacopladosUncoupled<br />Gerador de <br />Pulso<br />Exerciteseudispositivoaolimite<br />Formas de ondaversatéis e <br />Modulaçõescapazers de adotar o sinal<br />Com qquersinal do mundo real<br />1µHz – 240 MHz Seno<br />14 bit, 2 GSa/s forma de ondasarbitrárias<br />FM, AM, PM, FSK, PWM até10 MHzmodulação de frequência, internamenteouexternamente<br />GeradorFunçãoArbitrário<br />Ruídorepetitivo e aleatório<br />Combine osdoisextremos:<br />Ruídorepetitivo com longastaxas de<br />repetiçãoparaumaidentificação<br />simples de um problema.<br />Fator de Crista(Peak/RMS) selecionável 3.1, 4.8, 6, 7 <br />Tipo de Ruído: repetitivo, aleatório e triggerable<br />Repetição do Sinal >> 26 dias<br />Gerador deRuído<br />
    • 69. Adicioneruído vertical com variação de amplitude paratestar a tolerância do seu receptor à ruído.<br />
    • 70. Estimule glitches com amplitudes e larguras de pulsosvariavéis<br />
    • 71. Gereatrasosassimétricos e formas de onda de váriostipos. <br />
    • 72. Ajuste a amplitude paraverificar a sensibilidade de um “receiver” <br />
    • 73. Aduste o quadro de atrasoparaverificaroslimites de dados (slot boundaries)<br />
    • 74. Integração no ambiente de Desenvolvimento de Clientes<br />Patentspending<br />Accurate, Versatile, Integrated<br />Exchange file formats<br />Customers<br />Tool Chain<br />Descarregueqquer forma de onda<br />da ferramenta do 81150A<br />via GPIB, LAN ou USB<br />Carregue o sinalparaa ferramentapara<br /> novas ações<br />Agilent 5/6000 scope series<br />PSpice<br />VEE<br />MatLabbinary *.mat ASCII *.dat<br />LabView<br />Excel *.csv<br />ADS .sdf.tim.spw<br />Import<br />Viewer *.bmp<br />IntuiLink SW includes Waveform Editor<br />I/O Library or IVI-COM<br />I/O Library or IVI-COM<br />Visual Basic Script using I/O Library or IVI-COM<br />*.wvf<br />Own<br />General Purpose *.txt *.prn<br />Download USB, GPIB, LAN<br />512 k memory / channel<br />Exercite<br />o dispositivo<br />até o seulimite<br />Capture <br />ossinais<br />DuT<br />
    • 75. Acesse – de qquerlugar e a qquerhora<br />
    • 76. Connect<br />Acquire<br />Display<br />Duasformas de Medição – Aquisição<br />Análise de Estado<br />(Lógica de Eventos)<br />Análise de Tempo <br />(Tempo Lógico)<br />
    • 77. Connect<br />Acquire<br />Display<br />Análise de Tempo (Assíncrona)<br />Informaquandoo eventoocorreu<br />Exibe as relações de borda de tempo <br />Disparaaquisiçãoatravés de múltiploscanais<br />Análogo a um osciloscópio com 1 bit de resolução<br />Eficientenadepuração de problemas de hardware <br />Assíncrona – Relógio de Amostravem do AnalisadorLógico<br />
    • 78. Forma de Onda de Análise de Tempo<br />Connect<br />Acquire<br />Display<br />
    • 79. Connect<br />Acquire<br />Display<br />Duasformas de Medição – Aquisição<br />Análise de Estado<br />(Lógica de Eventos)<br />Análise de Tempo <br /> (Tempo Lógico)<br />
    • 80. Análise de Estado (Síncrona)<br />Connect<br />Acquire<br />Display<br /><ul><li>Eficienteparadeterminar o que “aconteceu”
    • 81. Registraosvalores no barramento
    • 82. Segue problemasfuncionais e fluxo de código
    • 83. Útilpara a depuração de software e integração hardware/software</li></ul>Síncrono – Relógio de Amostragemvem do dispositvo sob teste (DUT) <br />
    • 84. Connect<br />Acquire<br />Display<br />Domínio do Estado – State Domain<br />AA<br />0C<br />61<br />B3<br />DATA<br />CLOCK<br />Data<br />Clock<br />1<br />AA<br />2<br />0C<br />3<br />B3<br />
    • 85. Connect<br />Acquire<br />Display<br />Medidas de Análise de Estado <br />
    • 86. Utilizando um AnalisadorLógico/ProtocolovsOsciloscópio<br />Logic Analyzer Basics Webcast Agilent Technologies<br />Page 52<br />September 23, 2008<br />
    • 87. Perguntas???<br />

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