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Case Study Datacom - JTAG Technologies

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Datacom: "Produtos Nacionais de Alto Desempenho e Excelente Relação Custo Benefício Entregues Dentro do Prazo"

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Case Study Datacom - JTAG Technologies

  1. 1. ...We are boundary-scan.®WWW.JTAG.COMCustomer storyComo o Boundary Scan Ajudou a DATACOM a Manter Seus Princípios Fundadores:Produtos Nacionais de Alto Desempenho eExcelente Relação Custo Benefício EntreguesDentro do PrazoDesenvolvendo produtos com tecnologiaprópria e produzindo com os maisavançados processos, a DATACOM é, hoje,líder no mercado de equipamentos paracomunicação de dados no Brasil e pioneirana fabricação nacional de diversas linhasde produto.http://www.datacom-telematica.com.brDATACOMNuma época em que poucos acreditavam que seriapossível viabilizar uma empresa de telecomunicaçõescom tecnologia nacional, a DATACOM iniciou suasatividades em Outubro de 1998.Com o objetivo de reduzir prazos de entrega e custos– e atender a um mercado cuja demanda era supridasomente por produtos importados – a DATACOMcomeçou a desenvolver produtos inovadores de altodesempenho e excelente relação custo benefício, comtecnologia própria e engenharia nacional.Atualmente, os seus produtos são utilizados pelasmaiores Operadoras de Telecomunicações do Brasil, eas suas soluções são exportadas para mais de 30 paísesem todos os continentes.A DATACOM busca constantemente transformartecnologia em vantagens competitivas para os clien-tes, através de pesados investimentos em pesquisa einovação tecnológica, e foco nas necessidades dos seusclientes. Logo, é natural que a complexidade e densi-dade eletrônica dos seus produtos sejam cada vez maiselevadas.DESAFIO: Identificação e Localização deFalhas Produtivas Ameaçam Produtividade,Qualidade, Preço, Prazos de Entrega...Segundo Gilvan Márcio da Silva, Engenharia de Testesda DATACOM, “Como dispomos de uma gama diver-sificada de produtos, enfrentamos vários desafios emrelação ao processo fabril dos nossos produtos. Para oespectro de falhas produtivas contribuem, principal-mente, questões relativas às etapas de montagem SMDe PTH. O teste funcional (usado até então) não permitiaidentificar, estruturalmente, a localização das falhas,como por exemplo, identificar a net ou o componenteque estava ocasionando tal defeito.”
  2. 2. JTAG Technologies B.V. reserves the right to make changes in design or specification at anytime without notice.Data subject to change without notice.© 2008 JTAG Technologies.All brand names or product names mentioned are trademarks orregistered trademarks of their respective owners.DatacomUSA, Canada and MexicoEmail: info@jtag.comUnited Kingdom & IrelandEmail: sales@jtag.co.ukFinlandEmail: finland@jtag.comGermanyEmail: germany@jtag.comSweden Email: sweden@jtag.comRussian FederationEmail: russia@jtag.comEurope and rest of the worldEmail: info@jtag.nl China (also Malaysia, Singapore,Taiwan, Thailand & South Korea)Email: jtag@pacific.net.sgCustomer storyNa verdade, estes eram alguns dos custos associadosà dificuldade na identificação e localização das falhasnos seus produtos, devido às limitações dos testesfuncionais:• Demasiado tempo na validação do hardware e naobtenção do feedback da equipe técnica para aengenharia industrial (quando o produto estava emdesenvolvimento)• Qualquer condição de dúvida (durante a fase dedesenvolvimento do produto) gerava perda de tempoentre equipes de software e de hardware• A descrição da falha dependia diretamente do técnicoque realizava o reparo• Que poderiam originar as seguintes consequências:• Comprometer prazos de entrega• Aumentar custos• Comprometer a qualidade dos produtos• Diminuir a produtividadeEsta era uma situação completamente inaceitável para aDATACOM, dado que poderia colocar em causa algunsdos seus princípios fundadores, a sua reputação atual,a certificação de qualidade obtida, e acima de tudo amissão: transformar tecnologia em vantagens competiti-vas para os seus clientes.Logo, era necessário encontrar uma solução. GilvanMárcio da Silva relembra que, “A DATACOM chegou aavaliar opções In-Circuit Test (ICT). O problema é quecomo nossos produtos apresentam uma densidade deconexões elevada, em grande parte dos casos sem ace-sso por TOP ou BOTTOM, concluímos que não seria amelhor alternativa.”A SOLUÇÃO: Agregação de Testes BoundaryScan aos Testes FuncionaisA DATACOM optou por agregar aos testes funcionaistestes em boundary scan, de modo a melhorar a cober-tura dos testes aplicados aos seus produtos. Encontroua JTAG, através de uma pesquisa na Internet.Apesar da DATACOM observar que existia uma grande• Sintonia entre as suas necessidades e as soluções daJTAG• Maturidade nas soluções JTAG no entanto, tinha alguns receios, tais como:Perguntas/Receios RespostasQual seria o prazo de reposição de equipamentos deteste, por parte da JTAG?Nota: Isto devido ao fato de a JTAG ser uma empresaestrangeira. Receio suprimido devido a disponibilidadede uma base técnica/comercial e de suporte local– a Teknosip. Seriam os sistemas de testes, da JTAG,integráveis com os sistemas de testes da DATACOM?Receio suprimido pela possibilidade de integração dasbibliotecas JTAG Production Integration Packages (PIP)Dado que os receios deixaram de ter fundamento, edada grande maturidade das soluções da JTAG (fatorchave na escolha do fornecedor), a DATACOM nãotinha razões para adiar a solução dos seus desafios.A solução passou pelo desenho de um processo deintegração dos testes Boundary Scan, da JTAG, àrealidade produtiva da DATACOM.Apesar da DATACOM ter optado pela modificaçãodo layout das suas placas – para padronizar o acessoà infraestrutura Boundary Scan através da adoção deconectorização e circuitos de interface desenhadosespecialmente para tal – não existiram problemas naimplementação da solução.“Com base na nossa experiência, pensamos que aJTAG é forte candidata a ser a escolhida para outrosnovos desafios em Boundary Scan.”, afirma GilvanMárcio da Silva.

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