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Cartes de contrôle aux attributs    Les cartes de contrôle aux mesures rendent compte de l’évolution d’un caractère numéri...
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5.2 Carte D de phase I                                                                                  9                 ...
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Cartes controle attributs

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  1. 1. Cartes de contrôle aux attributs Les cartes de contrôle aux mesures rendent compte de l’évolution d’un caractère numérique :une mesure, durant le processus de production. Les cartes de contrôle aux attributs sontdestinées à surveiller la qualité de la production de façon plus grossière : conformité ou nonconformité, nombre de défauts. Toutes les cartes de contrôle aux attributs 1 sont des cartes de Shewhart, cartes carac-térisées par des limites de contrôle situées à trois écarts types de part et d’autre de a lignecentrale.1 La carte p La carte p permet de suivre la proportion de produits non conformes. Soit X la variablealéatoire qui à une unité produite associe la valeur 1 si l’unité est non conforme et la valeur 0 sil’unité est conforme. La proportion p d’unités non conformes dans l’ensemble de la productioncorrespond à la probabilité pour que X prenne la valeur 1. X suit la loi de Bernoulli B(p). Lorsqu’un échantillon de n unités est tiré dans l’ensemble de la production, on sait que ˜la variable aléatoire X = n i=1 Xi qui à un tel échantillon associe le nombre d’unités nonconformes dans l’échantillon suit : – la loi hypergéométrique H(N, pN, n), N étant le nombre d’unités toute la production, lorsque le tirage de l’échantillon est un tirage sans remise ; – la loi binomiale B(n, p) lorsque le tirage de l’échantillon est un tirage avec remise, ou considéré comme tel si la taille de l’échantillon est inférieure à 10% de la taille de la population.Pour une carte p, nous nous placerons dans le second cas. Alors, la variable aléatoire X = 1 nn n=1 Xi , qui a chaque échantillon de taille n associe la proportion d’unités non conformesdans cet échantillon a pour moyenne : p, et pour écart type : p(1−p) . n La construction d’une carte p n’a de sens que si l’on prélève des échantillons de quelquescentaines d’unités.1.1 Carte p de phase II La proportion théorique d’unités non conformes étant p, les limites de la carte p de Shew-hart sont, pour un échantillon de taille ni : p(1 − p) p(1 − p) LC = p LSC = p + 3 LIC = p − 3 ni ni 1. On dit aussi : cartes de contrôle par attribut. 1
  2. 2. 2 1 LA CARTE POn remplace systématiquement LIC par 0 si le calcul de LIC donne un résultat négatif. Onremarquera que les limites de contrôles varient en fonction de la taille de l’échantillon. Pouréviter cette variation, il est fréquent d’imposer que les échantillons aient tous la même taille. Pour chaque échantillon prélevé de ni unités, on calcule la proportion de non conforme : Di pi = nien faisant le rapport du nombre d’unités non conformes dans l’échantillon : Di , par le nombred’unités dans l’échantillon : ni . Sur la carte de contrôle, on porte la ligne centrale, les limites de contrôle et les points Mi decoordonnées (i, pi ). Si tous les points Mi sont situés entre les limites de contrôle, le processusest déclaré maîtrisé ; dans le cas contraire, le processus est déclaré non maîtrisé.1.2 Carte p de phase I Comme pour toute carte de phase I, les paramètres de la carte doivent être estimés à l’aided’une vingtaine d’échantillons. On calcule : D1 + D 2 + · · · + D m p= ¯ n1 + n 2 + · · · + n moù Di est le nombre d’unités non conformes dans l’échantillon i de ni unités, pour chacun desm échantillons prélevés. Ainsi, le nombre p est égal à la proportion d’unités non conformes ¯dans les m échantillons prélevés. Les paramètres de la carte p de phase I sont alors : p(1 − p) ¯ ¯ p(1 − p) ¯ ¯ LC = p ¯ LSC = p + 3 ¯ LIC = p − 3 ¯ ni niOn remplace systématiquement LIC par 0 si le calcul de LIC donne un résultat négatif. Leslimites de contrôle dépendent de la taille de l’échantillon. Pour chaque échantillon prélevé de ni unités, on calcule la proportion de non conforme : Di pi = nien faisant le rapport du nombre d’unités non conformes dans l’échantillon : Di , par le nombred’unités dans l’échantillon : ni . Sur la carte de contrôle, on porte la ligne centrale, les limites de contrôle et les points Mi decoordonnées (i, pi ). Si tous les points Mi sont situés entre les limites de contrôle, le processusest déclaré maîtrisé ; dans le cas contraire, le processus est déclaré non maîtrisé.Exemple 1.1 Carte p d’étude initiale.DUT Génie Biologique Année universitaire 2007/2008
  3. 3. 3 Nombre dunités Nombre dunités N° déchantillon non conformes prélevées 1 1 247 2 1 248 3 1 241 4 0 212 5 0 177 6 1 216 7 0 243 8 0 247 9 1 205 10 0 182 11 0 234 12 0 160 13 0 175 14 1 228 15 0 240 16 0 151 17 1 238 18 1 246 19 0 233 20 1 189 21 0 227 22 0 164 23 1 186 24 0 247 25 1 168 Carte p 1.40% unités non conformes 1.30% 1.20% 1.10% 1.00% 0.90% LC 0.80% LSC 0.70% LIC 0.60% Proportion d unités non Proportion d conformes dans léchantillon 0.50% 0.40% 0.30% 0.20% 0.10% 0.00% 0 5 10 15 20 25 N° d échantillon2 La carte np La carte p permet le suivi de la proportion d’unités non conformes ; la carte np permet, elle,le suivi du nombre d’unités non conformes. Cette carte est une carte de Shewhart : les limitesde contrôle sont situées à trois écarts types. Pour cette carte, les échantillons doivent tous êtrede même taille. Comme pour la carte p, la carte np nécessite de prélever des échantillons degrande taille (quelques centaines d’objets).T. Cuesta IUT de Créteil
  4. 4. 4 2 LA CARTE N P Le nombre d’unités non conforme est np. C’est le produit de la taille des échantillons : n,avec la proportion d’unités non conformes : p.2.1 Carte np de phase II On suppose que le nombre théorique d’unités non conformes dans les échantillons de nunités est : np. On pose q = 1 − p. Les paramètres de la carte de phase II sont alors : √ √ LC = np LSC = np + 3 npq LIC = np − 3 npqSi la valeur LIC calculée ci-dessus est négative, elle est remplacée par 0 pour la construction dela carte. Sur la carte de contrôle, on porte la ligne centrale, les limites de contrôle et les pointsMi de coordonnées (i, ni ), ni étant le nombre d’unités non conformes dans l’échantillon i. Sitous les points Mi sont situés entre les limites de contrôle, le processus est déclaré maîtrisé ;dans le cas contraire, le processus est déclaré non maîtrisé.2.2 Carte np de phase I Le nombre théorique d’unités non conformes dans les échantillons de taille n est inconnu.On choisit alors d’estimer p par la proportion d’unités non conformes dans l’ensemble desm échantillons de taille n prélevés. En notant ni le nombre d’unités non conformes dansl’échantillon i, la proportion p d’unités non conformes est calculée de la manière suivante : ¯ n1 + n 2 + · · · + n m p= ¯ nmOn note q = 1 − p. Les paramètres de la carte np sont alors : ¯ ¯ √ √ LC = n¯ p LSC = n¯ + 3 n¯q p p¯ LIC = n¯ − 3 n¯q p p¯La carte se construit comme la carte de phase II, et les règles de décision sont identiques. Numéro Nombre de d échantillon non conformes 1 4 2 2 3 1 4 0 5 5 6 0Exercice 2.1 Le tableau ci-contre donne le 7 0nombre d’unités non conformes dans vingt 8 1 9 3échantillons de 250 unités. 10 1Tracer la carte np de phase I et déterminer si 11 4le processus est maîtrisé. 12 10 13 0 14 0 15 2 16 13 17 5 18 11 19 4 20 3DUT Génie Biologique Année universitaire 2007/2008
  5. 5. 53 La carte c La carte c est la carte utilisée pour le suivi du nombre de non conformités, de défauts, parunité de contrôle. Cette carte est assez basique puisque l’on ne distingue pas les défauts etque l’on considère qu’ils ont tous la même importance. En principe, on estime que la variablealéatoire C qui associe à chaque unité de contrôle le nombre de non conformités par unité decontrôle, suit une loi de Poisson. On rappelle qu’alors la moyenne et la variance de C sontégales. La carte c est une carte de Shewhart.3.1 Carte c de phase II Soit c le nombre moyen de non conformité par unité de contrôle. Ce nombre c est leparamètre de la loi de Poisson suivie par la variable aléatoire C. Les paramètre de la carte cde phase II sont : √ √ LC = c LSC = c + 3 c LIC = c − 3 cOn prélève un certain nombre d’unités d’unités de contrôle. Ces unités de contrôles sont deséchantillons tous de même taille. Si le calcul de LIC donne un résultat négatif, ce résultat estremplacé par 0. Sur la carte de contrôle, on porte la ligne centrale, les limites de contrôle etles points Mi de coordonnées (i, ci ), ci étant le nombre de défauts de l’unité de contrôle i. Sitous les points Mi sont situés entre les limites de contrôle, le processus est déclaré maîtrisé ;dans le cas contraire, le processus est déclaré non maîtrisé.3.2 Carte c de phase I Comme pour toute carte de phase I, il n’y a pas de valeur cible. On calcule donc uneestimation du nombre de défauts par unité sur un échantillon d’au moins une vingtaine d’unitésde contrôle. On pose c1 + c 2 + · · · + c m c= ¯ mles nombres ci étant les nombres respectifs de défauts des m unités de contrôle. Les paramètresde la carte sont alors : √ √ LC = c ¯ LSC = c + 3 c ¯ ¯ LIC = c − 3 c ¯ ¯La construction de la carte et les règles de décision sont identiques à celles de la carte de phaseII.4 La carte u La carte u est semblable à la carte c. Dans la carte u on ne suit pas le nombre de nonconformités par unité de contrôle, mais le taux de non conformités par unité de contrôle. Lesunités de contrôle : les échantillons d’unités de production, peuvent être de taille variable, maisdans ce cas, les limites de contrôle dépendent, pour chaque unité de contrôle, de la taille del’unité de contrôle.T. Cuesta IUT de Créteil
  6. 6. 6 4 LA CARTE U4.1 Carte u de phase II On suppose que le taux de défauts par unités de contrôle est u. Les limites de la carte usont alors : u u LC = u LSC = u + 3 LIC = u − 3 ni nioù ni est la taille de l’unité de contrôle i. Si le calcul de LIC donne un résultat négatif, onpose LIC = 0. On prélève un certain nombre d’unités de contrôle. Ces unités de contrôles sont des échan-tillons dont la taille peut varier. Sur la carte de contrôle, on porte la ligne centrale, les limites cde contrôle et les points Mi de coordonnées (i, ui ), ui = nii étant le taux de défauts de l’unitéde contrôle i. Si tous les points Mi sont situés entre les limites de contrôle, le processus estdéclaré maîtrisé ; dans le cas contraire, le processus est déclaré non maîtrisé.4.2 Carte u de phase I On remplace u par : c1 + c 2 + · · · + c m u= ¯ n1 + n 2 + · · · + n moù les valeurs ci sont les nombres de défauts respectifs des m unités de contrôle de taillesrespectives ni . La valeur u est une estimation du taux de défaut par unité de contrôle. Pour ¯que le résultat de ce calcul ait du sens, il faut prélever un nombre important d’unités deproduction. Les paramètres de cette carte sont : ¯ u ¯ u LC = u ¯ LSC = u + 3 ¯ LIC = u − 3 ¯ ni niLa construction de la carte et les règles de décision sont identiques à celle de la carte de phaseII.Exercice 4.1 Une entreprise de livraison de pizzas à domicile a réalisée une enquête sur les livraisonsdu mois d’octobre. Les données recueillies au cours de cette enquête sont présentées dans le tableauci-dessous. À l’aide des paramètres d’une carte de contrôle u de phase I, indiquez si le processus de livraisonest sous contrôle.DUT Génie Biologique Année universitaire 2007/2008
  7. 7. 7 Délais de livraison Erreurs par Nombre Taux de Jours ouvrés Nombre de supérieurs à rapport à la Autres total non en octobre commandes 30 min commande erreurs d erreurs conformité 1 64 2 0 1 3 4.69% 2 55 2 2 2 6 10.91% 3 50 0 1 3 4 8.00% 4 64 6 1 3 10 15.63% 5 60 3 1 2 6 10.00% 6 54 2 1 2 5 9.26% 7 63 0 2 2 4 6.35% 8 66 0 1 3 4 6.06% 9 49 1 0 1 2 4.08% 10 51 2 2 1 5 9.80% 11 51 0 1 1 2 3.92% 12 52 3 1 0 4 7.69% 13 53 3 0 0 3 5.66% 14 48 1 2 3 6 12.50% 15 60 1 2 0 3 5.00% 16 65 3 0 1 4 6.15% 17 49 3 2 3 8 16.33% 18 53 4 1 0 5 9.43% 19 56 5 1 1 7 12.50% 20 66 4 1 2 7 10.61% 21 55 4 2 1 7 12.73% 22 59 4 2 3 9 15.25% 23 59 0 1 0 1 1.69% 24 63 4 3 1 8 12.70% 25 60 0 3 0 3 5.00%5 Carte D Le calcul D est la carte de contrôle des démérites. C’est un raffinement de la carte c. Dansle cadre d’une carte D, les défauts sont classés par type, en fonction de leur gravité. À chaqueclasse de défaut est associé un poids : la valeur du démérite, d’autant plus important que ledéfaut est majeur. Notons C1 , C2 , . . . , Ck les classes de défauts et w1 , w2 , . . . , wk leurs poids respectifs. On fixe le nombre n d’unités élémentaires dans chaque unité de contrôle (la taille deséchantillons).5.1 Carte D de phase II Pour chaque nombre n d’unités élémentaires dans les échantillons, on fixe l’indice démériteD par : k D= wi ci i=1où ci est le nombre moyen de défauts de classe Ci dans les échantillons de taille n. Notons quesi n = 1, alors ci est le nombre de défauts de classe Ci par unité produite. Les paramètres de la carte D sont : k k 2 2 LC = D LSC = D + 3 wi ci LIC = D − 3 wi ci i=1 i=1T. Cuesta IUT de Créteil
  8. 8. 8 5 CARTE DSi LIC < 0, on pose LIC = 0. On prélève m unités de contrôle (m échantillons de taille n).On calcule, pour chaque unité de contrôle, son nombre démérite : k Dj = wi cij i=1où cij est le nombre de défauts de classe i dans l’unité de contrôle j. On trace sur la carte D laligne centrale et les limites de contrôle. On porte sur cette carte les points Mj de coordonnées(j, Dj ), j allant de 1 à m. La règle de décision est identique à celle des autres cartes de contrôle.5.2 Carte D de phase I On prélève m unités de contrôle (m ≥ 20). On calcule le nombre démérite : Dj = k wi cij , i=1de chaque unité de contrôle (cij est le nombre de défauts de classe i dans l’unité de contrôlej). On pose alors : m m 1 D= Dj = ¯ wi c i m j=1 i=1ci étant ici le nombre moyen, par unité de contrôle dans les m unités de contrôle prélevées, de¯défauts de classe Ci . Les paramètres de la carte sont : k k 2 2 LC = D LSC = D + 3 ¯ wi c i LIC = D − 3 ¯ wi c i i=1 i=1La construction de la carte et la règle de décision sont identiques à celles d’une carte de phaseII.Exercice 5.1 On applique le barème suivant pour les valeurs du démérite : – w1 = 55, pour les non-conformités critiques (classe C 1 ), liés à la sécurité des utilisateurs du produit ou pouvant entraîner la destruction de ces produits ; – w2 = 15, pour les non-conformités majeures (classe C 2 ) pouvant entraîner un défaut de fonc- tionnement du produit, une impossibilité de montage, une gêne sensible pour l’utilisateur ; – w3 = 5, pour les non-conformités mineures (classe C 3 ) entraînant un défaut critiqué par quelques clients, une gêne au montage ; – w4 = 3, pour les non-conformités anodines (classe C 4 ) entraînant une imperfection généralement admise par les utilisateurs.DUT Génie Biologique Année universitaire 2007/2008
  9. 9. 5.2 Carte D de phase I 9 Nombre de Nombre de Nombre de Nombre de Numéro défauts défauts défauts défauts Indice dunité de classe C1 de classe C2 de classe C3 de classe C4 démérite 1 0 5 5 6 118 2 2 4 7 6 223 3 0 3 0 5 60 4 1 0 6 5 100 5 1 5 8 3 179 6 0 2 3 8 69 7 0 5 4 6 113 8 1 3 5 4 137 9 2 3 8 6 213 10 2 1 5 2 156 11 0 1 3 2 36 12 1 0 8 4 107 13 0 5 7 2 116 14 1 5 0 9 157 15 0 3 4 1 68 16 1 1 7 7 126 17 1 4 2 2 131 18 0 4 2 7 91 19 0 4 8 9 127 20 0 2 1 7 56 21 1 1 7 3 114 22 2 4 6 4 212 23 0 5 1 3 89 24 2 2 3 8 179 25 1 3 0 9 127 Total : 19 75 110 128 3104Réaliser la carte D de phase I.T. Cuesta IUT de Créteil

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